-
公开(公告)号:CN112752976B
公开(公告)日:2024-04-16
申请号:CN201980062564.9
申请日:2019-09-23
申请人: 美国国家仪器有限公司
发明人: G·奥罗斯科瓦尔德斯 , T·德克特 , J·D·H·兰格 , C·N·怀特 , K·F·格罗希
IPC分类号: G01R29/08
摘要: 描述了用于集成电路(IC)的硬件定时测试的天线表征系统和方法,所述IC具有被配置用于空中传输和/或接收的集成天线。待测试IC(例如,被测装置(DUT))可以被安装到电波暗室中的可调定位器。所述IC的射频(RF)特性(例如,包含传输特性、接收特性和/或波束形成特性)可以使用所述电波暗室内的天线或探针阵列在空中进行测试,同时将所述可调定位器在多个取向中连续地转变。计数器和参考触发智能可以用于将测量结果与所述DUT的取向相关。
-
公开(公告)号:CN109716720A
公开(公告)日:2019-05-03
申请号:CN201780053695.1
申请日:2017-08-31
申请人: 美国国家仪器有限公司
CPC分类号: H04B1/10 , G01R13/0272 , G01R19/2509 , G01R27/28 , H03M1/122 , H04L7/0029 , H04L7/0041 , H04L7/0087 , H04L25/022 , H04L27/3827
摘要: 公开了使用单个接收设备(诸如单个VSA)来在不同中心频率处捕获并数字化重复的信号的多个时域采集以创建带宽大于接收设备的实时瞬时带宽的单个时域波形的方法和系统。具体而言,一个或多个信号处理路径可以顺序地或者并行地处理重复的信号的所述多个经数字化的采集,使得经处理的采集可以被聚合成对重复的信号的一次或多次重复的表示。
-
公开(公告)号:CN112771390B
公开(公告)日:2024-03-01
申请号:CN201980060717.6
申请日:2019-09-19
申请人: 美国国家仪器有限公司
发明人: G·奥罗斯科瓦尔德斯 , T·德克特 , J·D·H·兰格 , C·N·怀特 , K·F·格罗希
IPC分类号: G01R29/08
摘要: 描述了用于对具有集成天线的集成电路(IC)进行硬件定时测试的天线表征系统和方法,所述集成天线被配置成用于空中发射和/或接收。可以将要测试的IC(例如,被测装置(DUT))安装到消声室中的可调节定位器上。可以在通过多个朝向来不断转变所述可调节定位器的同时使用所述消声室内的天线或探头阵列对所述IC的射频(RF)特性(例如,包含发射特性、接收特性和/或波束成形特性)进行空中测试。可以采用计数器和参考触发智能来将测量结果与所述DUT的(56)对比文件张朋祥;周鸣籁;刘学观;郭辉萍.高精度天线测试系统的研究与设计.通信技术.2013,(第01期),全文.
-
公开(公告)号:CN109716720B
公开(公告)日:2021-09-28
申请号:CN201780053695.1
申请日:2017-08-31
申请人: 美国国家仪器有限公司
摘要: 公开了使用单个接收设备(诸如单个VSA)来在不同中心频率处捕获并数字化重复的信号的多个时域采集以创建带宽大于接收设备的实时瞬时带宽的单个时域波形的方法和系统。具体而言,一个或多个信号处理路径可以顺序地或者并行地处理重复的信号的所述多个经数字化的采集,使得经处理的采集可以被聚合成对重复的信号的一次或多次重复的表示。
-
公开(公告)号:CN112771390A
公开(公告)日:2021-05-07
申请号:CN201980060717.6
申请日:2019-09-19
申请人: 美国国家仪器有限公司
发明人: G·奥罗斯科瓦尔德斯 , T·德克特 , J·D·H·兰格 , C·N·怀特 , K·F·格罗希
IPC分类号: G01R29/08
摘要: 描述了用于对具有集成天线的集成电路(IC)进行硬件定时测试的天线表征系统和方法,所述集成天线被配置成用于空中发射和/或接收。可以将要测试的IC(例如,被测装置(DUT))安装到消声室中的可调节定位器上。可以在通过多个朝向来不断转变所述可调节定位器的同时使用所述消声室内的天线或探头阵列对所述IC的射频(RF)特性(例如,包含发射特性、接收特性和/或波束成形特性)进行空中测试。可以采用计数器和参考触发智能来将测量结果与所述DUT的朝向相关联。
-
公开(公告)号:CN112752976A
公开(公告)日:2021-05-04
申请号:CN201980062564.9
申请日:2019-09-23
申请人: 美国国家仪器有限公司
发明人: G·奥罗斯科瓦尔德斯 , T·德克特 , J·D·H·兰格 , C·N·怀特 , K·F·格罗希
IPC分类号: G01R29/08
摘要: 描述了用于集成电路(IC)的硬件定时测试的天线表征系统和方法,所述IC具有被配置用于空中传输和/或接收的集成天线。待测试IC(例如,被测装置(DUT))可以被安装到电波暗室中的可调定位器。所述IC的射频(RF)特性(例如,包含传输特性、接收特性和/或波束形成特性)可以使用所述电波暗室内的天线或探针阵列在空中进行测试,同时将所述可调定位器在多个取向中连续地转变。计数器和参考触发智能可以用于将测量结果与所述DUT的取向相关。
-
-
-
-
-