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公开(公告)号：CN110988500A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911114105.9
申请日：2019-11-14
申请人： 航天科工武汉磁电有限责任公司
IPC分类号： G01R29/10
摘要： 本发明属于微波材料技术领域，公开了一种基于时域超窄脉冲信号的材料微波反射特性测量方法，将采用超短脉冲作为信号源，通过快速同步信号取样技术和时窗滤除杂波技术，以及经过重复测量和数字滤波的分析处理，将外界信号及墙壁、天花板、泄露信号隔离掉，在大动态范围内，高分辨率地获取测试主信号；并经软件分析处理后，最终呈现测量结果。本发明采用超窄脉冲信号发生器和高速采样接收机，通过时域扫描信号直接扫描被测件，高速采样接收机可以在时域上直接区分被测件和背景的反射信号，不需要微波暗室即可实现测试，系统建设成本大大降低，超窄脉冲信号的超宽频域响应特性，测试效率明显提升，不需要维护。
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公开(公告)号：CN115774152A
公开(公告)日：2023-03-10
申请号：CN202211549223.4
申请日：2022-12-05
申请人： 航天科工武汉磁电有限责任公司
IPC分类号： G01R29/08
摘要： 本发明涉及电磁屏蔽技术领域，公开了一种屏蔽效能测试系统及方法，该系统包括：发射设备、接收设备和紧缩场全波暗室；紧缩场全波暗室内设置有反射曲面；发射设备产生预设测试频点的球面信号波，并将球面信号波发射至反射曲面，反射曲面将接收到的球面信号波转换为平面波并发射至待测材料；接收设备在接收到平面波穿过待测材料产生的屏蔽信号波时，确定屏蔽信号波对应的屏蔽指示值；接收设备还根据屏蔽指示值和预设测试指示值确定待测材料对应的屏蔽效能。由于本发明通过反射曲面将球面信号波转换为平面波测试屏蔽效能，从而创建了一个合适的平面波入射的理想测试区，在紧缩场全波暗室中测试可极大消除环境多径影响，提高了测试精度。
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公开(公告)号：CN111006921B
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN201911101995.X
申请日：2019-11-12
申请人： 航天科工武汉磁电有限责任公司
摘要： 本发明属于制备技术领域，公开了一种测定炭黑材料介电常数的样品制备方法，将待测炭黑材料粉末在40±2℃条件下烘干4h，备用；用感量0.1g的电子天平称量切片石蜡100.0g±0.5g，加入250ml烧杯，用电加热炉快速加热融化，用感量0.1g的电子天平称量一定比例已烘干处理的炭黑样品；将称量好的炭黑样品进行分散；将分散好的样品放入成型磨具浇筑成型；将成型的样品与模具分离，修整成型。本发明熔融状态石蜡和炭黑材料混合浇注成型，能解决当前测试炭黑材料介电常数样品的稳定性问题，保证炭黑材料的分散均匀性和致密性，使得炭黑材料介电常数测试样品稳定性大幅度提高，即提高测试结果的稳定性。
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公开(公告)号：CN111006921A
公开(公告)日：2020-04-14
申请号：CN201911101995.X
申请日：2019-11-12
申请人： 航天科工武汉磁电有限责任公司
摘要： 本发明属于制备技术领域，公开了一种测定炭黑材料介电常数的样品制备方法，将待测炭黑材料粉末在40±2℃条件下烘干4h，备用；用感量0.1g的电子天平称量切片石蜡100.0g±0.5g，加入250ml烧杯，用电加热炉快速加热融化，用感量0.1g的电子天平称量一定比例已烘干处理的炭黑样品；将称量好的炭黑样品进行分散；将分散好的样品放入成型磨具浇筑成型；将成型的样品与模具分离，修整成型。本发明熔融状态石蜡和炭黑材料混合浇注成型，能解决当前测试炭黑材料介电常数样品的稳定性问题，保证炭黑材料的分散均匀性和致密性，使得炭黑材料介电常数测试样品稳定性大幅度提高，即提高测试结果的稳定性。
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公开(公告)号：CN113930742A
公开(公告)日：2022-01-14
申请号：CN202111230732.6
申请日：2021-10-21
申请人： 航天科工武汉磁电有限责任公司
摘要： 本发明公开一种橡胶模具的表面处理方法，所述橡胶模具的表面处理方法包括以下步骤：在橡胶模具的内表面依次设置过渡材料膜层和类金刚石膜层；其中，形成所述过渡材料膜层的过渡材料包括钨、硅和钼中的至少一种。本发明以类金刚石膜层为基础，通过在橡胶模具基材与类金刚石膜层之间添加过渡材料膜层，在有效改善橡胶模具的磨损、黏胶、易腐蚀、难脱模等问题的基础上，显著提高了膜‑基之间的结合强度，制备出符合橡胶模具使用需求的复合膜层。
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公开(公告)号：CN109490152B
公开(公告)日：2020-06-23
申请号：CN201811394036.7
申请日：2018-11-21
申请人： 航天科工武汉磁电有限责任公司
IPC分类号： G01N15/00
摘要： 一种片状粉体径厚比的测量方法，涉及测量技术领域。该片状粉体径厚比的测量方法包括以下步骤：提供能够在液态和固态之间转换的承载体；将片状粉体分散于液态的承载体表面，随后使液态的承载体转换至固态；测量固态的承载体上的片状粉体并计算。本发明提供的片状粉体径厚比的测量方法不仅操作简单方便，且能够使片状粉体分层有序排列，从而快速高效的获得准确的测量数据。
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公开(公告)号：CN109490152A
公开(公告)日：2019-03-19
申请号：CN201811394036.7
申请日：2018-11-21
申请人： 航天科工武汉磁电有限责任公司
IPC分类号： G01N15/00
摘要： 一种片状粉体径厚比的测量方法，涉及测量技术领域。该片状粉体径厚比的测量方法包括以下步骤：提供能够在液态和固态之间转换的承载体；将片状粉体分散于液态的承载体表面，随后使液态的承载体转换至固态；测量固态的承载体上的片状粉体并计算。本发明提供的片状粉体径厚比的测量方法不仅操作简单方便，且能够使片状粉体分层有序排列，从而快速高效的获得准确的测量数据。
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公开(公告)号：CN209342634U
公开(公告)日：2019-09-03
申请号：CN201822026105.0
申请日：2018-12-04
申请人： 航天科工武汉磁电有限责任公司
IPC分类号： G01N22/00
摘要： 一种微波反射率测量组件及微波反射率测量系统，属于微波测量领域。该微波反射率测量组件包括弓形架及设于弓形架上的两个测试天线，弓形架内还设有可升降的样品支架，样品支架的两侧分别设有相对布置的激光发射器和用于接收激光发射器发射激光的光传感器。本实用新型提供的微波反射率测量组件无需校准就能够快速高效的对不同材料进行多次测量。本实用新型还提供了包含上述微波反射率测量组件的微波反射率测量系统。
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