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公开(公告)号：CN112964724A
公开(公告)日：2021-06-15
申请号：CN202110139585.5
申请日：2021-02-01
申请人： 苏州百迈半导体技术有限公司
发明人： 周飞
摘要： 本说明书一个或多个实施例提供一种多目标多区域视觉检测方法及系统。所述方法包括：产品承载装置将待检测产品移动至图像采集装置的图像采集位置；图像采集装置对待检测产品进行扫描成像，获得待检测产品的待检测图像并发送给图像处理装置；图像处理装置基于待检测图像对多个待检测产品的多个区域进行提取，获得多个待检测产品的多个不同类型的待检测区域，分别基于多个待检测产品的多个不同类型的待检测区域进行缺陷检测以获得各个待检测区域的部分缺陷检测结果，基于部分缺陷检测结果生成完整缺陷检测结果并发送给上位机；上位机对完整缺陷检测结果进行展示。本说明实施例所述方法及系统可以实现具有多检测目标产品的缺陷检测。
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公开(公告)号：CN112964723B
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202110139569.6
申请日：2021-02-01
申请人： 苏州百迈半导体技术有限公司
发明人： 周飞
摘要： 本说明书一个或多个实施例提供一种双面多目标等间距阵列视觉检测方法及检测系统。所述方法包括：搬运载台将待检测产品移动至多个图像采集装置的图像采集位置；多个所述图像采集装置分别采集所述待检测产品不同位置的待检测图像；图像处理装置基于所述待检测产品不同位置的所述待检测图像对所述待检测产品进行缺陷检测以获得所述待检测产品不同位置的缺陷过程检测数据以及缺陷结果检测数据，并基于从属于同一所述待检测产品的所述缺陷过程检测数据及所述缺陷结果检测数据生成所述待检测产品的完整检测数据发送给上位机；所述上位机展示所述完整检测数据。本说明书实施例所述检测方法及系统可以实现引线框架的检测。
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公开(公告)号：CN112964724B
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN202110139585.5
申请日：2021-02-01
申请人： 苏州百迈半导体技术有限公司
发明人： 周飞
摘要： 本说明书一个或多个实施例提供一种多目标多区域视觉检测方法及系统。所述方法包括：产品承载装置将待检测产品移动至图像采集装置的图像采集位置；图像采集装置对待检测产品进行扫描成像，获得待检测产品的待检测图像并发送给图像处理装置；图像处理装置基于待检测图像对多个待检测产品的多个区域进行提取，获得多个待检测产品的多个不同类型的待检测区域，分别基于多个待检测产品的多个不同类型的待检测区域进行缺陷检测以获得各个待检测区域的部分缺陷检测结果，基于部分缺陷检测结果生成完整缺陷检测结果并发送给上位机；上位机对完整缺陷检测结果进行展示。本说明实施例所述方法及系统可以实现具有多检测目标产品的缺陷检测。
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公开(公告)号：CN112964721B
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN202110138089.8
申请日：2021-02-01
申请人： 苏州百迈半导体技术有限公司
发明人： 周飞
IPC分类号： G01N21/88 , G01N21/956 , G01N21/93
摘要： 本说明书一个或多个实施例提供一种多目标随机阵列飞拍视觉检测方法及检测系统。上述检测方法包括：产品承载装置将待检测产品移动至图像采集装置的图像采集位置；图像采集装置对所述待检测产品采用点位启停方式进行连续飞拍，获得所述待检测产品的多帧有序的待检测图像并传输给图像采集处理器；其中，每帧所述待检测图像包括所述待检测产品的至少部分图像；图像处理装置采用并行的处理方式对所述有序待检测图像进行缺陷检测，获得所述待检测产品的部分缺陷检测结果并发送给上位机；所述上位机对多个所述部分缺陷检测结果进行处理，获得所述待检测产品的完整缺陷检测结果并展示。本说明书实施例所述检测方法及检测系统可以实现金线模组的缺陷检测。
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公开(公告)号：CN112964721A
公开(公告)日：2021-06-15
申请号：CN202110138089.8
申请日：2021-02-01
申请人： 苏州百迈半导体技术有限公司
发明人： 周飞
IPC分类号： G01N21/88 , G01N21/956 , G01N21/93
摘要： 本说明书一个或多个实施例提供一种多目标随机阵列飞拍视觉检测方法及检测系统。上述检测方法包括：产品承载装置将待检测产品移动至图像采集装置的图像采集位置；图像采集装置对所述待检测产品采用点位启停方式进行连续飞拍，获得所述待检测产品的多帧有序的待检测图像并传输给图像采集处理器；其中，每帧所述待检测图像包括所述待检测产品的至少部分图像；图像处理装置采用并行的处理方式对所述有序待检测图像进行缺陷检测，获得所述待检测产品的部分缺陷检测结果并发送给上位机；所述上位机对多个所述部分缺陷检测结果进行处理，获得所述待检测产品的完整缺陷检测结果并展示。本说明书实施例所述检测方法及检测系统可以实现金线模组的缺陷检测。
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公开(公告)号：CN112964722B
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202110139568.1
申请日：2021-02-01
申请人： 苏州百迈半导体技术有限公司
发明人： 周飞
摘要： 本说明书一个或多个实施例提供一种超大视野分布计算视觉检测方法及检测系统。所述检测方法包括：产品承载装置将待检测产品移动至图像采集装置的图像采集位置；图像采集装置对所述待检测产品进行点阵轨迹的高速拍摄，获得所述待检测产品的多张有序的待检测图像并发送给图像检测装置；其中，每张所述待检测图像包括所述待检测产品的至少部分图像；所述图像检测装置基于所述待检测图像进行缺陷检测，基于每张所述待检测图像获得所述待检测产品的部分缺陷检测结果，并基于全部的所述部分缺陷检测结果生成所述待检测产品的完整缺陷检测结果并发送给上位机；所述上位机基于所述完整缺陷检测结果进行展示。本实施例所述方法及系统可以实现晶圆的检测。
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公开(公告)号：CN112964723A
公开(公告)日：2021-06-15
申请号：CN202110139569.6
申请日：2021-02-01
申请人： 苏州百迈半导体技术有限公司
发明人： 周飞
摘要： 本说明书一个或多个实施例提供一种双面多目标等间距阵列视觉检测方法及检测系统。所述方法包括：搬运载台将待检测产品移动至多个图像采集装置的图像采集位置；多个所述图像采集装置分别采集所述待检测产品不同位置的待检测图像；图像处理装置基于所述待检测产品不同位置的所述待检测图像对所述待检测产品进行缺陷检测以获得所述待检测产品不同位置的缺陷过程检测数据以及缺陷结果检测数据，并基于从属于同一所述待检测产品的所述缺陷过程检测数据及所述缺陷结果检测数据生成所述待检测产品的完整检测数据发送给上位机；所述上位机展示所述完整检测数据。本说明书实施例所述检测方法及系统可以实现引线框架的检测。
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公开(公告)号：CN112964722A
公开(公告)日：2021-06-15
申请号：CN202110139568.1
申请日：2021-02-01
申请人： 苏州百迈半导体技术有限公司
发明人： 周飞
摘要： 本说明书一个或多个实施例提供一种超大视野分布计算视觉检测方法及检测系统。所述检测方法包括：产品承载装置将待检测产品移动至图像采集装置的图像采集位置；图像采集装置对所述待检测产品进行点阵轨迹的高速拍摄，获得所述待检测产品的多张有序的待检测图像并发送给图像检测装置；其中，每张所述待检测图像包括所述待检测产品的至少部分图像；所述图像检测装置基于所述待检测图像进行缺陷检测，基于每张所述待检测图像获得所述待检测产品的部分缺陷检测结果，并基于全部的所述部分缺陷检测结果生成所述待检测产品的完整缺陷检测结果并发送给上位机；所述上位机基于所述完整缺陷检测结果进行展示。本实施例所述方法及系统可以实现晶圆的检测。
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