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公开(公告)号:CN114002589B
公开(公告)日:2024-09-03
申请号:CN202111286497.4
申请日:2021-11-02
申请人: 苏州纳芯微电子股份有限公司
IPC分类号: G01R31/317 , G01R31/3181 , G01R31/54
摘要: 本发明揭示了一种数字隔离单元故障检测方法及检测系统,所述数字隔离单元包括输入侧和输出侧,所述数字隔离单元故障检测方法包括:向所述输入侧和所述输出侧施加共模干扰信号;向所述输入侧施加输入电平信号,并对应接收所述输出侧的输出电平信号;当所述输入电平信号和所述输出电平信号不一致时,输出故障信号。本发明提供的数字隔离单元故障检测方法,通过向输入侧和输出侧施加共模干扰信号,不仅能够测试数字隔离单元的共模干扰能力,也能够通过输出信号判断数字隔离单元的输入侧和输出侧之前是否发生断线,从而提升检测效率和出厂产品的良品率。
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公开(公告)号:CN114002589A
公开(公告)日:2022-02-01
申请号:CN202111286497.4
申请日:2021-11-02
申请人: 苏州纳芯微电子股份有限公司
IPC分类号: G01R31/317 , G01R31/3181 , G01R31/54
摘要: 本发明揭示了一种数字隔离单元故障检测方法及检测系统,所述数字隔离单元包括输入侧和输出侧,所述数字隔离单元故障检测方法包括:向所述输入侧和所述输出侧施加共模干扰信号;向所述输入侧施加输入电平信号,并对应接收所述输出侧的输出电平信号;当所述输入电平信号和所述输出电平信号不一致时,输出故障信号。本发明提供的数字隔离单元故障检测方法,通过向输入侧和输出侧施加共模干扰信号,不仅能够测试数字隔离单元的共模干扰能力,也能够通过输出信号判断数字隔离单元的输入侧和输出侧之前是否发生断线,从而提升检测效率和出厂产品的良品率。
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公开(公告)号:CN215867074U
公开(公告)日:2022-02-18
申请号:CN202122055391.5
申请日:2021-08-27
申请人: 苏州纳芯微电子股份有限公司
IPC分类号: G01R35/00
摘要: 本实用新型公开了一种误差校准系统,用于校准信号采集芯片,包括:测试上位机,电压跟随电路。电压跟随电路包括第一电压跟随电路和第二电压跟随电路,第一电压跟随电路和第二电压跟随电路的反相输入端均与输出端连接,同相输入端均接地,输出端分别与信号采集芯片中的第一运算放大器反相输入端和同相输入端连接,信号采集芯片的输出端与测试上位机的输入端连接,输出端与信号采集芯片的程序写入引脚连接,用于传输误差校准代码至信号采集芯片以校准信号采集芯片的误差。本实用新型所提供的误差校准系统,避免了电源设备自身存在误差,或受信号采集芯片输入端产生的偏置电压影响而引入额外误差导致芯片误差校准不准确,提高对芯片的误差校准准确率。
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