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发明公开
基于BCH编码的数据纠错方法、存储介质和集成芯片审中-实审

公开(公告)号：CN119473704A

公开(公告)日：2025-02-18

申请号：CN202510048137.2

申请日：2025-01-13

Applicant: 苏州萨沙迈半导体有限公司 , 合肥智芯半导体有限公司 , 上海萨沙迈半导体有限公司 , 天津智芯半导体科技有限公司

Inventor： 赵川 , 王晓明 , 何学文

IPC: G06F11/10 , G11C29/42 , H03M13/15

Abstract: 本发明公开了一种基于BCH编码的数据纠错方法、存储介质和集成芯片，涉及芯片设计和应用技术领域，所述基于BCH编码的数据纠错方法包括：获取由BCH编码所得的目标数据，根据所述目标数据的目标向量和预设的校验矩阵，确定所述目标向量对应的各伴随式；若所确定的各伴随式中存在表示数据错误的伴随式，则根据各伴随式生成差错方程；基于所述差错方程的系数构建目标数量个校验方程，将所构建的校验方程分组，对各组校验方程采用同一组求和模块进行求解，得到错误位置数据；根据所述错误位置数据对所述目标数据进行纠错，得到纠错结果。应用本发明实施例提供的方案能够降低实现纠错功能占用的资源。

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