一种IGBT动态性能测试装置及其运行方法

    公开(公告)号:CN104251965B

    公开(公告)日:2017-07-04

    申请号:CN201410492377.3

    申请日:2014-09-24

    IPC分类号: G01R31/26

    摘要: 本发明为一种IGBT动态性能测试装置,其组成包括试验电流产生电路、第一温度采集存储系统、第二温度采集存储系统、示波器、IGBT驱动电路、IGBT过温保护系统,其中,IGBT过温保护系统与IGBT驱动电路相连;试验电流产生电路、第一温度采集存储系统、第二温度采集存储系统和示波器各自独立;测试时IGBT测试模块分别与试验电流产生电路、第一温度采集存储系统、第二温度采集存储系统、示波器、IGBT驱动电路、IGBT过温保护系统相连。本发明的IGBT动态性能测试装置,能够对IGBT模块铜底板温度以及内部发热芯片的结温同时且自动地进行采集,进而能对模块热阻参数进行提取;并能够对IGBT模块工作频率进行实时调节。

    一种IGBT动态性能测试装置及其运行方法

    公开(公告)号:CN104251965A

    公开(公告)日:2014-12-31

    申请号:CN201410492377.3

    申请日:2014-09-24

    IPC分类号: G01R31/26

    摘要: 本发明为一种IGBT动态性能测试装置,其组成包括试验电流产生电路、第一温度采集存储系统、第二温度采集存储系统、示波器、IGBT驱动电路、IGBT过温保护系统,其中,IGBT过温保护系统与IGBT驱动电路相连;试验电流产生电路、第一温度采集存储系统、第二温度采集存储系统和示波器各自独立;测试时IGBT测试模块分别与试验电流产生电路、第一温度采集存储系统、第二温度采集存储系统、示波器、IGBT驱动电路、IGBT过温保护系统相连。本发明的IGBT动态性能测试装置,能够对IGBT模块铜底板温度以及内部发热芯片的结温同时且自动地进行采集,进而能对模块热阻参数进行提取;并能够对IGBT模块工作频率进行实时调节。