一种背板玻璃破损双玻组件评估方法

    公开(公告)号:CN118631169A

    公开(公告)日:2024-09-10

    申请号:CN202410689553.6

    申请日:2024-05-30

    IPC分类号: H02S50/10 G06F18/22 G01D21/02

    摘要: 本发明公开一种背板玻璃破损双玻组件评估方法,涉及光伏组件性能测试技术领域,包括步骤:在若干相同材料匹配的双玻组件中随机选取n块双玻组件作为被测样品组件,其中n≥3;对被测样品组件进行第一性能测试,得到第一性能数据;对被测样品组件的背板玻璃进行破坏试验;对经过破坏试验的被测样品组件进行第二性能测试,得到第二性能数据;对多个被测样品组件分别进行老化试验;对经过老化试验的被测样品组件进行第三次性能测试,得到第三性能数据;根据三次测试数据得出被测样品组件的性能变化情况,进而评估相同材料匹配下的背板玻璃破损双玻组件是否可以在正常环境中继续使用。本发明方法能有效评估相同材料匹配下双玻组件的性能。

    一种光伏组件边框、光伏组件及组件安装结构

    公开(公告)号:CN118631156A

    公开(公告)日:2024-09-10

    申请号:CN202410688859.X

    申请日:2024-05-30

    摘要: 本发明公开一种光伏组件边框、光伏组件及组件安装结构,涉及光伏产品及系统应用技术领域,光伏组件边框用于和光伏面板封装,包括边框本体,边框本体具有朝向一侧的组件封装槽,组件封装槽用于和光伏面板胶粘连接,边框本体位于光伏面板背面的一侧沿垂直于光伏面板的方向凸起有至少一条竖向连接筋,竖向连接筋的末端连接有平行于边框本体的卡接部,卡接部与边框本体之间形成卡接槽。光伏组件的至少一对边框为上述结构的光伏组件边框。组件安装结构包括龙骨结构和压配件。本发明边框采用轻量化设计,通过槽榫结构与龙骨结构结合,借助龙骨结构的强度来承受光伏组件的风载和雪载,从而降低了对光伏组件边框强度的要求,减少了边框厚度和重量。

    光伏组件的制备方法及光伏组件
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118315483A

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN202410449381.5

    申请日:2024-04-15

    IPC分类号: H01L31/18 H01L31/05

    摘要: 本发明提供了一种光伏组件的制备方法及光伏组件,属于太阳能电池制作技术领域,所述方法包括电池串的制作及玻璃基板的制作,电池串的制作步骤如下:将铜箔的两个表面分别涂敷防腐导电胶,制得防腐导电胶带;拾取分割的小电池片置于工作台上,将切割成段的防腐导电胶带段的一端放置于小电池片的栅线处,再将另一片小电池片放置于防腐导电胶带段上;施加一定的压力,将两片小电池片与防腐导电胶带压紧;对压紧的小电池片和防腐导电胶带段进行热处理,使小电池片与防腐导电胶带段固化连接;重复上述过程,获得通过防腐导电胶带段串联的电池串。本发明制得的光伏组件具有高的发电效率、稳定性和较长的使用寿命。

    一种太阳能电池片性能测试方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118300279A

    公开(公告)日:2024-07-05

    申请号:CN202410399398.4

    申请日:2024-04-03

    IPC分类号: H02J50/10

    摘要: 本发明公开一种太阳能电池片性能测试方法,属于光伏电池片测试领域,包括:选取第一电池片和第二电池片;对第二电池片进行初始性能测试得到初始测试结果;相同条件下对第一电池片进行第一次性能比对测试得到第一比对测试结果;制作包含有第二电池片的测试样品;在真空干燥箱内对测试样品进行测试前处理;对处理后的第二电池片进行温度性能测试得到温度测试结果;相同条件下对第一电池片进行第二次性能比对测试得到第二比对测试结果;根据初始测试结果、温度测试结果和两次比对测试结果确定第二电池片的电学性能。本发明测试方法简单快捷,无需制作封装结构的测试样品,能够快速有效地评估太阳能电池片在温度变化过程中的电学性能。

    一种光伏组件热斑测试方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117938083A

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202410149506.2

    申请日:2024-02-02

    IPC分类号: H02S50/10

    摘要: 本发明涉及光伏组件测试技术领域,具体公开一种光伏组件热斑测试方法,包括:确定测试用光伏组件并进行选片处理;对待测电池片进行热斑实验,获取所述待测电池片在预设时间内的温度最高值作为热斑温度;数据处理,依据测试标准的要求对经过热斑实验后的所述光伏组件进行标准测试条件下的第二性能测试,记录第二测试结果,根据所述第二测试结果和所述第一测试结果确定所述光伏组件的热斑测试结果。本发明针对现有测试方法选片繁琐的问题,通过记录光伏组件电池片相邻的等效未加热区域温度梯度为预设阈值的电池片位,快速选出被测电池片,极大的缩减了测试程序,节省测试成本,提高测试效率,且所选出的待测电池片更具有实际参考意义。

    一种晶体硅光伏组件PID测试方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116470850A

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202310545054.5

    申请日:2023-05-16

    IPC分类号: H02S50/10 H02S50/15

    摘要: 本发明属于光伏组件测试领域,具体公开了一种晶体硅光伏组件PID测试方法,包括步骤S1、对测试样品组件第一次测试,记录最大功率一;S2、对测试样品组件进行PID试验,持续96小时后,在6小时内对测试样品组件进行第二次测试,记录最大功率二;S3、对测试样品组件进行PID后干热恢复处理,将测试样品组件开路放置在85~110℃的环境试验箱内进行干热试验96小时后进行第三次测试,记录最大功率三;若最大功率三>最大功率二,记录PID后真实功率为最大功率三;若最大功率三≤最大功率二,记录PID后真实功率为最大功率二。本测试方法能够排查其他恢复方法不能恢复的缺陷,降低非本质PID现象造成的功率衰减,提高PID测试的精确性。

    一种光伏组件低辐照度下性能测试方法

    公开(公告)号:CN118611586A

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202410386205.1

    申请日:2024-04-01

    IPC分类号: H02S50/10

    摘要: 本发明公开一种光伏组件低辐照度下性能测试方法,属于光伏组件测试技术领域,包括步骤一、对标准组件进行1000W/m2条件下的功率测试,得到第一电性能参数;步骤二、对标准组件进行200W/m2条件下的功率测试,得到第二电性能参数;步骤三、用第一电性能参数在25±2℃条件下,对功率测试仪进行校准;采用校准后的功率测试仪对被测组件进行STC条件下的性能测试,功率记录为P1000;步骤四、用第二电性能参数在25±2℃条件下,对功率测试仪进行校准;采用校准后的功率测试仪对被测组件进行低辐照度条件下的性能测试,功率记录为P200;步骤五、对P1000和P200进行数据处理并确定被测组件在低辐照度下的性能。本发明测试方法过程简单快捷,能准确有效的评估光伏组件在低辐照度下的性能。

    一种光化学增强晶硅电池背面poly钝化性能的方法及装置

    公开(公告)号:CN118431338A

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202410479480.8

    申请日:2024-04-22

    摘要: 本发明涉及晶硅电池片生产领域,具体公开一种光化学增强晶硅电池背面poly钝化性能的方法及装置,该方法包括:步骤一、光化学法制备·OH,并经过选择性过滤后,将制备的·OH注入到清洗溶液中;步骤二、将硅片放入含有·OH的清洗溶液中,对硅片抛光面进行氧化,得到均匀分布的超薄湿法氧化层。该装置包括第一槽体和光化学氧化源循环系统,光化学氧化源循环系统包括氧化源循环管路、位于管路上的小功率磁力泵、第二槽体和氧化源发生装置;第二槽体通过氧化源循环管路向氧化源发生装置提供富氧溶液,富氧溶液在氧化源发生装置中反应产生·OH,并经过滤后流向第一槽体。采用该方法和装置能有效提高硅片抛光面氧化的均匀性和poly钝化性能,进而提高电池的光电转化效率。

    一种光伏组件PID测试方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117938082A

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202410115994.5

    申请日:2024-01-26

    IPC分类号: H02S50/10 H02S50/15 G01D21/02

    摘要: 本发明涉及光伏组件测试领域,具体公开一种光伏组件PID测试方法,包括PID前样品处理、PID试验、PID后样品处理和结果处理。其中PID试验包括:将试验组件在双85环境下稳定12‑24小时;施加电压并持续48小时;环境试验箱停机18‑24小时,使温度和相对湿度自然下降,停机过程中保持施加电压不变;重启环境试验箱,运行至双85环境条件,保持施加电压不变持续48小时进行试验;结果处理包括:以比对组件作为参考,得出经历PID后的试验组件的缺陷变化情况和功率衰减情况,进而给出评估结论。本发明方法利用环境试验箱停机后的自然降温来有效模拟光伏组件在高温高湿环自然下PID性能长期潜在的影响,可以有效地评价自然环境对光伏组件PID性能长期潜在的影响。