公开(公告)号：CN120043628A

公开(公告)日：2025-05-27

申请号：CN202510126314.4

申请日：2025-01-27

Applicant: 西北核技术研究所

Inventor： 赵海川 ,  申曼玲 ,  陶波 ,  蒋小为 ,  武俊杰 ,  张磊 ,  吴勇 ,  栾昆鹏 ,  王振宝 ,  王大辉 ,  杨鹏翎 ,  王飞 ,  张金鹏 ,  李天植 ,  张一凡

IPC: G01J1/42 ,  B07C5/34

Abstract: 本发明涉及一种光电探测器筛选装置及筛选方法，属于光电探测技术领域，解决缺乏筛选光电探测器的有效装置及方法问题，其筛选装置包括窄线宽激光器、真空腔、夹持工装、真空泵、温度控制系统和数据采集处理系统。夹持工装位于真空腔内，与真空腔固定连接，用于夹持待筛选的光电探测器。真空腔设置光学窗口，窄线宽激光器产生的激光通过光学窗口辐照至在光电探测器接收表面。其筛选方法包括安装待筛选的光电探测器、开启窄线宽激光器、真空腔抽真空、测量光电探测器在不同温度条件下的响应幅值、筛选的步骤。该发明用于筛选光电探测器。

公开(公告)号：CN119738032A

公开(公告)日：2025-04-01

申请号：CN202411992771.3

申请日：2024-12-31

Applicant: 西北核技术研究所

Inventor： 武俊杰 ,  王振宝 ,  方波浪 ,  赵海川 ,  蒋小为 ,  张洋 ,  张磊 ,  谢贤忱 ,  车录福 ,  张金鹏 ,  吴勇 ,  栾昆鹏 ,  王大辉 ,  杨鹏翎

IPC: G01J1/04

Abstract: 本发明涉及一种基于固体散射材料的光电光热复合衰减探测单元及探测阵列，属于光电测量技术领域，解决光电光热复合衰减探测的同时探测单元光电衰减倍数可调节且免标定的技术问题，其探测单元包括能量吸收体、散射片、热敏电阻、螺柱。能量吸收体自上而下依次设置圆锥孔、取样孔、腔体，数片叠放的散射片位于腔体内，螺柱安装在腔体的内螺纹内，螺柱设置出射孔，激光依次通过圆锥孔、取样孔、散射片，由出射孔射出。探测阵列包括数个探测单元、支撑板、防护板。防护板设置防护板入射孔，支撑板设置支撑板出射孔，激光依次通过防护板入射孔、探测单元，由支撑板出射孔射出。该发明用于光电光热复合衰减探测。

公开(公告)号：CN119595125A

公开(公告)日：2025-03-11

申请号：CN202411728414.6

申请日：2024-11-28

Applicant: 西北核技术研究所

Inventor： 申曼玲 ,  杨鹏翎 ,  王大辉 ,  张磊 ,  赵海川 ,  蒋小为 ,  张一凡

IPC: G01J5/80 ,  G01J5/08

Abstract: 本发明公开了一种多通道中红外探测器宽温度范围响应率标定装置及方法，解决了现有中红外探测器响应率标定中响应率随温度变化、不同中红外探测器响应率一致性差、大批次中红外探测器标定效率不高的问题，本发明将多个待标定中红外探测器设置于真空腔内，并为真空腔设置了温控单元，能将待标定中红外探测器的温度精确控制在稳定的范围内，解决了中红外探测器温度敏感，响应率随温度漂移的问题，保证响应率标定的准确性。

公开(公告)号：CN119533682A

公开(公告)日：2025-02-28

申请号：CN202411716242.0

申请日：2024-11-27

Applicant: 西北核技术研究所

Inventor： 申曼玲 ,  杨鹏翎 ,  王大辉 ,  赵海川 ,  蒋小为 ,  张一凡

IPC: G01J5/90 ,  G01J1/42 ,  G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种用于中红外探测器的响应率测量装置及方法，解决了中红外探测器响应率标定中响应率随温度变化和/或探测器光敏面较小时，实际入射探测器的功率密度测量不准的问题，本发明利用激光功率计可以测量出测量激光的激光总功率，利用光斑分析仪可以测量出入射至探测器光敏面的中心区域光斑功率与光斑总功率的比值，进而准确测量计算出入射至探测器光敏面的功率密度值，提高中红外探测器响应率的测量精度。

公开(公告)号：CN118836975A

公开(公告)日：2024-10-25

申请号：CN202410861110.0

申请日：2024-06-28

Applicant: 西北核技术研究所

Inventor： 杨鹏翎 ,  蒋小为 ,  薛天旸 ,  陶波 ,  杨太旗 ,  张一凡

IPC: G01J1/56 ,  G01J1/00 ,  G01L1/24

Abstract: 本发明涉及激光参数测量装置及方法，具体涉及一种基于多重反射的光压测量装置及方法，为解决现有基于多重反射的光压测量装置中光压传感反射镜与隔热材料自重过大侵占高精度天平量程，以及待测激光多重反射引起的透射光总能量增大导致天平托盘表面产生温升，进而影响天平测量结果稳定性和准确性的技术问题，光压测量装置包括高精度天平、隔热支架、隔热罩、N级光压传感反射镜以及M级转折反射镜，其中，N≥2，M＝N+1；M级转折反射镜设置在N级光压传感反射镜上方；隔热罩设置在高精度天平外部，将高精度天平与外部环境隔离，隔热支架与隔热罩之间设有间距；同时还提供一种利用上述装置进行光压测量的方法。

公开(公告)号：CN118518200A

公开(公告)日：2024-08-20

申请号：CN202410700103.2

申请日：2024-05-31

Applicant: 西北核技术研究所

Inventor： 杨鹏翎 ,  蒋小为 ,  王大辉 ,  薛天旸 ,  陶波 ,  方波浪

IPC: G01J1/42 ,  G01J1/04

Abstract: 本发明涉及激光参数测量装置与测量方法，具体涉及一种消除激光热影响的大量程光压测量装置及方法，为解决现有光压测量方法中存在激光热效应影响测量的准确性、测量精度与测量量程无法兼得、光压传感用的高反镜自重影响实际测量量程的不足之处。本发明的大量程光压测量装置包括光压传感模块、压力传递模块以及测量模块；光压传感模块包括光压接收反射镜，光压接收反射镜设置在压力传递模块的一端，用于接收待测激光，测量模块设置在压力传递模块的另一端，用于测量压力传递模块的另一端压力变化。同时本发明还提供一种基于上述消除激光热影响的大量程光压测量装置的光压测量方法。