-
公开(公告)号：CN116773040A
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202111629066.3
申请日：2021-12-28
申请人： 西安和其光电科技股份有限公司
摘要： 本发明为解决现有的变压器荧光测温设备在监测温度时存在测温不准确、温度标定繁琐以及光纤损坏更换后需要停电和重新标定温度的问题，而提供了一种获取高精度、易更换的变压器荧光测温设备的方法。包括以下步骤：将变压器荧光测温设备拆解为测温探头、贯通器、转接光纤和测温主机四个部分；搭建模拟变压器荧光测温设备并保证其稳定性，再对四个部分进行单独测试，得到特征值；对测试得到的特征值数据进行正态分布并区分，得到四个部分过程能力分布；将过程能力分布情况配对组装设备；将组装后的荧光测温设备进行偏移值修正，得到荧光测温设备；将无法配对的测温探头、贯通器、转接光纤和测温主机留存并建立数据库，重骤匹配得到荧光测温设备。
-
公开(公告)号：CN114397039A
公开(公告)日：2022-04-26
申请号：CN202111619102.8
申请日：2021-12-27
申请人： 西安和其光电科技股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种温度传感器，具体涉及一种荧光光纤温度传感器的测温系统及方法，解决现有的荧光光纤温度传感器的全温度段测温精度的技术问题。该荧光光纤温度传感器的测温系统，包括荧光信号调理电路、信号运算电路及MCU控制电路；信号运算电路包括输入电阻R1、反馈电阻R2及运算放大器；荧光信号调理电路用于输出荧光放大信号；运算放大器用于对荧光放大信号进行放大，获得荧光放大信号，运算放大器的输出端连接MCU控制电路的输入端；MCU控制电路用于接收荧光放大信号，进行数据处理产生测温数据，并将测温数据外发；MCU控制电路用于产生校正信号对荧光放大信号进行校正；实现提高荧光光纤温度传感器的测温线性度及其测温精度。
-
公开(公告)号：CN117760618A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202311773082.9
申请日：2023-12-21
申请人： 西安和其光电科技股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种光纤微压力传感器，为解决现有“硅片+玻璃基板”型结构的光纤微压力传感器存在的耦合距离远、信噪比低、成品率低，或是加工难度大的问题，而提供一种基于硅基刻蚀的光纤微压力传感器及其制备方法。本发明包括光纤、具有检测端和尾端的基片以及设置在基片检测端的薄膜片，其中基片尾端设置有光纤安装孔；其中基片为圆柱结构，圆柱结构的两端分别为检测端和尾端；光纤的端部嵌入光纤安装孔内；光纤位于基片尾端外部的裸露部分与基片尾端的端面之间设置有固化胶；基片检测端的端部设置有台阶孔，台阶孔的小端与光纤安装孔连通；薄膜片覆盖于台阶孔的大端外侧；台阶孔的小端直径小于光纤的直径。
-
公开(公告)号：CN117168643A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202111443656.7
申请日：2021-11-30
申请人： 西安和其光电科技股份有限公司
IPC分类号： G01K11/32
摘要： 本发明为解决现有的基于荧光衰减信号解调荧光寿命方法使得荧光寿命计算误差大，进而使荧光测量温度的解调精度低的问题，而提供了一种基于荧光衰减信号的荧光寿命解调方法。本发明包括以下步骤：步骤一：利用数据采集卡连续采集荧光衰减信号，获取荧光衰减信号的荧光强度；步骤二：建立荧光衰减信号模型；步骤三：截取时间段0～T0内的荧光衰减信号；步骤四：利用荧光衰减信号模型，得到T0与荧光寿命值τ的关系；步骤五：将计算得到的面积计算值S与面积目标值S0作差并取绝对值，判断选取的T0时刻是否准确；步骤六：利用增量式PID算法，得到时刻T0的增量，进而得到准确的T0时刻；步骤七：输出符合条件的T0；步骤八：得到荧光衰减信号的荧光寿命τ。
-
公开(公告)号：CN114878019A
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN202210607473.2
申请日：2022-05-31
申请人： 西安和其光电科技股份有限公司
IPC分类号： G01K11/32
摘要： 本发明属于温度传感器技术领域,涉及一种荧光光纤测温提高精度、灵敏度的装置与方法，包括：降低噪声电路，降低噪声电路包括：光电二极管ip、电阻RD、反馈电阻Rf、电容CD、Cin、Cs、放大器输入电流噪声Ei、放大器输入电压噪声Eu、反馈电阻噪声Er、运算放大器，从而使的测温精度由原来的±1℃提高到了±0.15℃；本发明对荧光衰减曲线上采集到的数据进行分段处理，计算自然对数和最小二乘法的数目大幅减少，提高了温度测量数据刷新率，同时为了提升计算速度，测温灵敏度达到30Hz，因此本发明具有更高的测量精度和更好的测量灵敏度。
-
公开(公告)号：CN111397761A
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN202010344792.X
申请日：2020-04-27
申请人： 西安和其光电科技股份有限公司
IPC分类号： G01K11/32
摘要： 本发明提供一种荧光寿命信号处理及解调方法，解决现有的荧光寿命信号测量结果不准确，导致荧光寿命不准确，从而使温度测量不准确的问题。该方法包括：步骤一、采集连续的荧光寿命信号与背景信号；步骤二、判断信号判断波形图中每个周期波形的起始点与终点；步骤三、将背景信号进行等分，获得均值背景信号；步骤四、将衰减信号减去均值背景信号，得到荧光寿命曲线；步骤五、对步骤四得到的荧光寿命曲线进行n等分，并求积分，再采集2T个时间，并求每一段时间T的积分；步骤六、得到n-1个荧光寿命值，并对n-1个荧光寿命值求均值，得到荧光寿命τ；步骤七、将得到的荧光寿命τ与现有标准荧光寿命表进行对比，得到温度值。
-
公开(公告)号：CN116626545A
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN202210135012.X
申请日：2022-02-14
申请人： 西安和其光电科技股份有限公司
IPC分类号： G01R31/62 , G01K11/324 , G01H9/00
摘要： 本发明涉及变压器监测系统，具体涉及一种基于分布式光纤传感的变压器多参量监测系统，用于解决现有基于分布式光纤测温测振的变压器监测系统存在系统结构复杂、稳定性差、灵敏度不高及不能定量测量的不足之处。该基于分布式光纤传感的变压器多参量监测系统包括测温组件、测振组件、数据采集模块、单模光纤、光开关和上位机，其采用单模光纤对变压器的温度异常和振动异常进行实时监测，具有抗电磁干扰，灵敏度高、稳定性强的优点。同时，本发明还提供一种基于分布式光纤传感的变压器多参量监测方法。
-
公开(公告)号：CN110057469A
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201910098455.4
申请日：2019-01-31
申请人： 西安和其光电科技股份有限公司
IPC分类号： G01K15/00
摘要： 本发明属于荧光余辉信号解调领域，提供了一种用于测量光纤测温系统荧光寿命的方法，解决了现有荧光材料的荧光寿命测量方法存在测量结果不准确的问题。该方法包括以下步骤：1)测试荧光材料发射的背景信号，获得背景信号的采样数值；2)向荧光材料发射脉冲信号，获得多个荧光电信号的采样数值；3)将步骤2)中获得的荧光电信号的采样数值减去步骤1)中获得的背景信号的采样数值，获得不同时间段的消除背景信号的荧光电信号数值；4)将步骤3)中的多个荧光电信号数值通过最小二乘拟合，得到指数拟合曲线；5)在步骤4)得到的指数曲线上取相等的三段时间，分别对三段进行积分，得到S1、S2和S3；6)计算得到荧光寿命τ。
-
公开(公告)号：CN218297426U
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202222327610.5
申请日：2022-08-31
申请人： 西安和其光电科技股份有限公司(CN)
IPC分类号： G01K11/32
摘要： 本实用新型属于光纤传感技术领域,涉及一种用于半导体esc静电卡盘测温的高精度变送器，包括：MCU模块、通道选择模块、荧光光纤测温模块、电源模块、232通信模块、485通信模块、恒流转换模块、0‑10V模块；本实用新型使用荧光光纤测量半导体esc静电卡盘温度，由于光纤可以不受外接环境强磁场、大电流的影响，且荧光光纤的尾端采用接触式测温，可以针对半导体esc静电卡盘不同位置进行温度控制，满足半导体esc静电卡盘生产加工时的高精度温度监控需求。
-
公开(公告)号：CN217213097U
公开(公告)日：2022-08-16
申请号：CN202220294775.4
申请日：2022-02-14
申请人： 西安和其光电科技股份有限公司
IPC分类号： G01R31/62 , G01K11/324 , G01H9/00
摘要： 本实用新型涉及变压器监测系统，具体涉及一种基于分布式光纤传感的变压器多参量监测系统，用于解决现有基于分布式光纤测温测振的变压器监测系统存在系统结构复杂、稳定性差、灵敏度不高及不能定量测量的不足之处。该基于分布式光纤传感的变压器多参量监测系统包括测温组件、测振组件、数据采集模块、单模光纤、光开关和上位机，其采用单模光纤对变压器的温度异常和振动异常进行实时监测，具有抗电磁干扰，灵敏度高、稳定性强的优点。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
10 条记录 (耗时 0.058 秒)
