公开(公告)号：CN116087146A

公开(公告)日：2023-05-09

申请号：CN202211667699.8

申请日：2022-12-23

申请人： 西安应用光学研究所

发明人： 许荣国 ,  王雷 ,  顾高菲 ,  刘卫平 ,  贾云峰

IPC分类号： G01N21/41 ,  G01N21/43 ,  G01N21/01

摘要： 本发明属于光学测量技术领域，公开了一种红外光学材料折射率温度系数测量装置，包括：光源、单色仪、振荡狭缝、离轴抛物面反射镜、精密温控系统、精密测角系统、探测器、信号处理单元和计算机；将光学材料样块放置在精密温控系统中升温，光源的出射光通过单色仪、振荡狭缝瞄准,离轴抛物面镜准直,半透半反镜透射后进入样块，样块后表面的反射光依次通过半透半反镜反射，反射镜反射，轴抛物面镜聚焦后进入探测器，转换成电信号，经信号处理单元传输到计算机，得到样块在该温度下对应的自准直角值，改变温度并重复上述步骤，得到该光学材料样块的折射率温度系数。本发明具有测量精度高、温度高、波长覆盖范围广等优点。

公开(公告)号：CN116148224A

公开(公告)日：2023-05-23

申请号：CN202211667698.3

申请日：2022-12-23

申请人： 西安应用光学研究所

发明人： 刘卫平 ,  王雷 ,  许荣国 ,  贾云峰 ,  顾高菲

IPC分类号： G01N21/59 ,  G01N21/01

摘要： 本发明属于光学测量技术领域，公开了一种光学材料光弹系数测量装置及测量方法，装置包括：光源、起偏器、第一调制器、加压装置、第二调制器、检偏器、探测器、信号处理单元和计算机；方法包括：光学材料样块放置在加压装置中，加压装置对样块施加压力，光源出射光通过起偏器，经由第一调制器调制后进入样块，透射光依次通过第二调制器和检偏器后进入探测器，经计算机计算得到样块在该压力下对应的光延迟量，改变加压装置施加的压力并重复上述步骤，根据样块在不同压力下对应的光延迟量，计算得到该光学材料样块的光弹系数。本发明装置测量精度高、应力范围大以及波长覆盖范围广，适于国防军事领域飞行器光学窗口等光学材料的光弹系数测试。