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公开(公告)号：CN115435593B
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202211088366.X
申请日：2022-09-07
申请人： 西安应用光学研究所
IPC分类号： F27B14/06 , F27B14/08 , F27B14/10 , F27B14/14 , F27B14/20 , F27D7/06 , F27D9/00 , F27D11/10 , F27D21/00 , G01N21/25
摘要： 本发明属于光学计量测试技术领域，公开了一种高温材料发射率测试用样品加热炉，其包括：炉体，炉体内水平设置石墨管，石墨管中央装夹石墨加热板，把石墨管分成两个对称的涂黑腔体，两侧腔体温度相同，一侧用于炉体内温度测量，另一侧作为样品加热腔对样品进行加热。本发明样品辐射加热，满足样品高精度加热的同时有效抑制腔体效应；采用石墨板热传导和石墨管腔体热辐射共同加热方式对样品进行加热，石墨管采用锥形设计，优化加工不等厚管壁，石墨管内部温差小于0.1℃，实现样品快速均匀加热。
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公开(公告)号：CN114923419B
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202210482680.X
申请日：2022-05-05
申请人： 西安应用光学研究所
摘要： 本发明公开了一种基于空间光路的自校准光栅定位装置，其包括机架和安装在机架上的光栅组件、齿轮传动组件、步进电机组件、运动控制电路、电机驱动电路、光电传感器；运动控制电路向电机驱动电路发送指令，电机驱动电路驱动步进电机组件旋转，步进电机组件驱动齿轮传动组件运转，齿轮传动组件驱动光栅组件旋转；齿轮传动组件在运转过程中持续触发光电传感器，光电传感器的触发状态反馈至运动控制电路，运动控制电路判断光电传感器的触发状态，向电机驱动电路发送运转指令，电机驱动电路发送驱动脉冲到步进电机组件，驱动步进电机组件作相应的旋转。本发明可快速实现仪器的自校准，避免了回厂校准的麻烦，具有很强的实用性和通用性。(56)对比文件US 2004239930 A1,2004.12.02US 2012026587 A1,2012.02.02US 2019113829 A1,2019.04.18唐玉国;巴音贺希格;竺长安;金一.揭秘“精密机械之王”.中国基础科学.2018,(第02期),第51-55、65页.
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公开(公告)号：CN111272275B
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202010165909.8
申请日：2020-03-11
申请人： 西安应用光学研究所
IPC分类号： G01J1/00
摘要： 本发明属于光学计量技术领域，具体涉及一种体吸收式激光能量计。该能量计包含三个能量探测组件、支撑机构、隔热组件、操控组件和壳体，壳体采用耐热并具有足够硬度和电磁屏蔽作用的不易导热材料，阻隔外部电磁干扰并在测试中阻隔内部组件与外界环境之间的热交换，并在一端开口供被测光束进入，支撑机构将能量探测组件固定在壳体内侧，并选用不易导热材料阻隔能量探测组件与壳体的热交换；三个能量探测组件中的其中两个能量探测组件呈一定夹角放置，可以确保进入能量计的被测激光能量被完全吸收，第三个能量探测组件封闭在壳体后端，用以扣除环境温度带来的能量吸收。本发明分析并利用多次反射能量递减的原理，实现了强激光的直接测量。
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公开(公告)号：CN112904354B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202110088653.X
申请日：2021-01-22
申请人： 西安应用光学研究所
IPC分类号： G01S17/10
摘要： 本发明公开了一种高精度激光测距距离模拟装置，其中，激光测距仪的发射端发出的激光脉冲信号进入激光探测器及放大比较电路转换为电脉冲信号，产生的脉冲信号分两路分别送入FPGA模块和TDC模块，FPGA模块通过IO接口向TDC模块发送控制和通讯信息，FPGA模块通过IO接口向激光二极管及驱动电路发送脉冲驱动信号使激光二极管发光，激光二级管输出的激光信号通过分光棱镜进行分光，一路送入激光测距仪的接收端，另一路送入激光探测器，FPGA模块通过IO口与通讯模块进行通讯，通讯模块通过RS232接口与上位机进行通讯。本发明提升了装置的距离模拟精度，增强了装置的可靠性，并降低了装置的使用维护成本。
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公开(公告)号：CN116046182A
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN202211570835.1
申请日：2022-12-08
申请人： 西安应用光学研究所
摘要： 本发明属于光学计量测试技术领域，公开了一种基于高温黑体的光谱辐射计绝对辐射定标装置，其包括：高温黑体和光学成像系统，光学成像系统包括第一平面反射镜、离轴抛物镜、第二平面反射镜、光谱辐射计；高温黑体发出的光谱辐射信号经平面反射镜反射后到达离轴抛物镜后，输出平行光经平面反射镜反射后，由光谱辐射计接收，进行信号采集和处理，给出测量结果；通过调节高温黑体的温度，得到不同温度下的光谱辐射亮度。本发明满足光谱辐射计绝对辐射定标测量需求。
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公开(公告)号：CN109506789A
公开(公告)日：2019-03-22
申请号：CN201811577098.1
申请日：2018-12-24
申请人： 西安应用光学研究所
IPC分类号： G01J9/04
摘要： 本发明出太赫兹源波长测量仪校准装置及方法，针对傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪和除傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪之外的其它类型的波长测量仪，采用相应的校准装置及方法进行校准，实现不同测量原理太赫兹源波长测量仪的校准。对应除傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪之外其它类型的太赫兹源波长测量仪，采用太赫兹标准频率源法对其进行校准；对应傅立叶变换型类型的太赫兹源波长测量仪，采用太赫兹特征波长标准器法对其进行校准；该校准方法解决了(0.1～5)THz波段范围内太赫兹源波长测量仪的校准难题，具有广阔的应用前景。
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公开(公告)号：CN116037712A
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN202310045376.3
申请日：2023-01-30
申请人： 西安应用光学研究所
IPC分类号： B21D3/00
摘要： 本发明公开了一种薄壁铜管大口径精密螺旋盘绕件校型装置，其包括：底盘、支柱、压圈、第一锁紧组件和第二锁紧组件；支柱有多根，均匀间隔布置在以底盘圆心为中心的同一圆周上，待校型盘绕件放置在多根圆柱与底盘所围成的容纳空间中，待校型盘绕件顶部布置第一锁紧组件，第一锁紧组件将相对的支柱卡紧并压紧在待校型盘绕件顶部，第一锁紧组件上方布置压圈，压圈顶部布置第二锁紧组件，第二锁紧组件将相对的支柱卡紧并压紧在压圈顶部，由此通过第一锁紧组件、第二锁紧组件对支柱进行周向收紧，并从顶部对盘绕件进行轴向压紧。本发明结构简单、投资少、操作方便，满足装配的要求，为高精度自动测量提供技术保障。
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公开(公告)号：CN112611736B
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202011535885.7
申请日：2020-12-23
申请人： 西安应用光学研究所
摘要： 本发明属于光学计量技术领域，主要涉及一种太赫兹校准装置，尤其涉及一种太赫兹波段光谱漫反射比校准装置。其采用连续太赫兹辐射发射系统、太赫兹漫反射积分球传递标准和高莱太赫兹探测系统构成连续太赫兹辐射型光谱漫反射比校准装置；采用太赫兹脉冲发射系统、时间延迟系统、太赫兹漫反射积分球传递标准和太赫兹脉冲探测系统构成脉冲太赫兹辐射型光谱漫反射比校准装置；从而实现对(0.1～3)THz波段范围内材料太赫兹漫反射比参数测试设备的校准，解决了目前广泛应用的多种非极性材料太赫兹漫反射比准确测试的难题，具有广阔的应用前景。
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公开(公告)号：CN112611736A
公开(公告)日：2021-04-06
申请号：CN202011535885.7
申请日：2020-12-23
申请人： 西安应用光学研究所
摘要： 本发明属于光学计量技术领域，主要涉及一种太赫兹校准装置，尤其涉及一种太赫兹波段光谱漫反射比校准装置。其采用连续太赫兹辐射发射系统、太赫兹漫反射积分球传递标准和高莱太赫兹探测系统构成连续太赫兹辐射型光谱漫反射比校准装置；采用太赫兹脉冲发射系统、时间延迟系统、太赫兹漫反射积分球传递标准和太赫兹脉冲探测系统构成脉冲太赫兹辐射型光谱漫反射比校准装置；从而实现对(0.1～3)THz波段范围内材料太赫兹漫反射比参数测试设备的校准，解决了目前广泛应用的多种非极性材料太赫兹漫反射比准确测试的难题，具有广阔的应用前景。
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公开(公告)号：CN111272275A
公开(公告)日：2020-06-12
申请号：CN202010165909.8
申请日：2020-03-11
申请人： 西安应用光学研究所
IPC分类号： G01J1/00
摘要： 本发明属于光学计量技术领域，具体涉及一种体吸收式激光能量计。该能量计包含三个能量探测组件、支撑机构、隔热组件、操控组件和壳体，壳体采用耐热并具有足够硬度和电磁屏蔽作用的不易导热材料，阻隔外部电磁干扰并在测试中阻隔内部组件与外界环境之间的热交换，并在一端开口供被测光束进入，支撑机构将能量探测组件固定在壳体内侧，并选用不易导热材料阻隔能量探测组件与壳体的热交换；三个能量探测组件中的其中两个能量探测组件呈一定夹角放置，可以确保进入能量计的被测激光能量被完全吸收，第三个能量探测组件封闭在壳体后端，用以扣除环境温度带来的能量吸收。本发明分析并利用多次反射能量递减的原理，实现了强激光的直接测量。
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