公开(公告)号：CN102254073A

公开(公告)日：2011-11-23

申请号：CN201110221757.X

申请日：2011-08-03

Applicant: 西安电子科技大学

Inventor： 史凌峰 ,  叶强 ,  康辉 ,  来新泉 ,  贺建生

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明公开了一种IBIS模型重构方法，包括IBIS模型地钳位曲线重构方法和IBIS模型电源钳位曲线的重构方法。这两种方法具有相同的原理和实现步骤，主要利用数据处理工具如MATLAB，对原IBIS模型的电源钳位曲线和地钳位曲线的数据进行拟合，根据原曲线二极管导通电压和拟合曲线二极管导通电压相同的原则对拟合曲线进行修正，在修正过的曲线上均匀取点，取点数少于原模型的取点数，均匀取点不仅可以减少模型的数据点数，在不降低仿真精度的情况下，有效提高了电路的仿真的速度，还有效填补了原模型的空白部分，本发明不仅提高了仿真速度，也为IBIS模型改进提供了一种新的方法。本发明可用于对原始IBIS模型的改进，应用到信号完整性分析和电路仿真技术领域。

公开(公告)号：CN102254073B

公开(公告)日：2013-04-03

申请号：CN201110221757.X

申请日：2011-08-03

Applicant: 西安电子科技大学

Inventor： 史凌峰 ,  叶强 ,  康辉 ,  来新泉 ,  贺建生

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明公开了一种IBIS模型重构方法，包括IBIS模型地钳位曲线重构方法和IBIS模型电源钳位曲线的重构方法。这两种方法具有相同的原理和实现步骤，主要利用数据处理工具如MATLAB，对原IBIS模型的电源钳位曲线和地钳位曲线的数据进行拟合，根据原曲线二极管导通电压和拟合曲线二极管导通电压相同的原则对拟合曲线进行修正，在修正过的曲线上均匀取点，取点数少于原模型的取点数，均匀取点不仅可以减少模型的数据点数，在不降低仿真精度的情况下，有效提高了电路的仿真的速度，还有效填补了原模型的空白部分，本发明不仅提高了仿真速度，也为IBIS模型改进提供了一种新的方法。本发明可用于对原始IBIS模型的改进，应用到信号完整性分析和电路仿真技术领域。