公开(公告)号：CN110533071A

公开(公告)日：2019-12-03

申请号：CN201910688024.3

申请日：2019-07-29

申请人： 西安电子科技大学

发明人： 常建涛 ,  张凯磊 ,  孔宪光 ,  王佩

IPC分类号： G06K9/62 ,  G06N20/20 ,  G06Q30/00 ,  G06Q50/04

摘要： 本发明公开了一种基于自编码器和集成学习的SMT生产追溯方法，本发明具体步骤如下：(1)构建自编码器；(2)获取SPI缺陷追溯数据集；(3)对SPI缺陷追溯数据集进行归一化处理；(4)训练自编码器；(5)使用集成学习方法获得分类树集合；(6)获得SPI生产追溯序列。本发明将归一化后的SPI缺陷追溯数据集输入到训练好的自编码器，生成分类数据集，使用集成学习的方法训练分类树，遍历训练好的分类树，获得SMT生产追溯序列，定位导致产品缺陷的关键因素，提升了SMT生产追溯的准确率。

公开(公告)号：CN110533071B

公开(公告)日：2022-03-22

申请号：CN201910688024.3

申请日：2019-07-29

申请人： 西安电子科技大学

发明人： 常建涛 ,  张凯磊 ,  孔宪光 ,  王佩

IPC分类号： G06K9/62 ,  G06N20/20 ,  G06Q30/00 ,  G06Q50/04

摘要： 本发明公开了一种基于自编码器和集成学习的SMT生产追溯方法，本发明具体步骤如下：(1)构建自编码器；(2)获取SPI缺陷追溯数据集；(3)对SPI缺陷追溯数据集进行归一化处理；(4)训练自编码器；(5)使用集成学习方法获得分类树集合；(6)获得SPI生产追溯序列。本发明将归一化后的SPI缺陷追溯数据集输入到训练好的自编码器，生成分类数据集，使用集成学习的方法训练分类树，遍历训练好的分类树，获得SMT生产追溯序列，定位导致产品缺陷的关键因素，提升了SMT生产追溯的准确率。