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发明公开
一种CCD传感器激光干扰仿真方法、系统、设备及介质审中-实审

公开(公告)号：CN118364644A

公开(公告)日：2024-07-19

申请号：CN202410545192.8

申请日：2024-05-06

申请人： 西安电子科技大学

发明人： 王宇曦 , 王昱程 , 刘德连 , 见超超 , 卫临方

IPC分类号： G06F30/20 , G06F119/06 , G06F111/08

摘要： 本发明公开了一种CCD传感器激光干扰仿真方法、系统、设备及介质，方法包括：先通过激光干扰图像生成反演外推模型，再确定实时干扰条件参数A，并将实时干扰条件参数A代入到反演外推模型中，生成激光干扰斑仿真图像；系统、设备及介质用于实现一种CCD传感器激光干扰仿真方法；本发明根据多张不同干扰条件的激光光斑干扰图像，通过阈值分割、高斯参数拟合、图像调制、图像融合等方法，生成实时干扰条件下的CCD图像传感器的干扰斑仿真图像，既可以产生真实感更强的仿真效果，又可缩短理论计算所消耗的时间，实现干扰图像的实时动态仿真。