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公开(公告)号:CN103641474B
公开(公告)日:2015-07-01
申请号:CN201310660585.5
申请日:2013-12-06
申请人: 西安科技大学
IPC分类号: C04B35/48 , C04B35/622
摘要: 本发明公开了一种温度稳定型焦绿石复相介电陶瓷,所述介电陶瓷的化学配比通式为x(Bi1.5Zn0.5)(Zr1.5Nb0.5)O7+(1-x)(Bi1.5Zn0.5)(Zn0.5Nb1.5)O7,式中0.65≤x≤0.8,或者为y(Bi1.5Zn0.5)(Zr1.5Nb0.5)O7+(1-y)(Bi1.5Zn0.5)(Ti1.5Nb0.5)O7,式中0.75≤y≤0.9。另外,本发明还公开了该介电陶瓷的制备方法。本发明的介电陶瓷采用具有正、负介电常数温度系数的铋基焦绿石单相体系按照一定比例进行复合,得到的介电陶瓷具有优异的高频介电性能,在MLCC等多种电子元器件的应用上具有广阔前景。
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公开(公告)号:CN103641474A
公开(公告)日:2014-03-19
申请号:CN201310660585.5
申请日:2013-12-06
申请人: 西安科技大学
IPC分类号: C04B35/48 , C04B35/622
摘要: 本发明公开了一种温度稳定型焦绿石复相介电陶瓷,所述介电陶瓷的化学配比通式为x(Bi1.5Zn0.5)(Zr1.5Nb0.5)O7+(1-x)(Bi1.5Zn0.5)(Zn0.5Nb1.5)O7,式中0.65≤x≤0.8,或者为y(Bi1.5Zn0.5)(Zr1.5Nb0.5)O7+(1-y)(Bi1.5Zn0.5)(Ti1.5Nb0.5)O7,式中0.75≤y≤0.9。另外,本发明还公开了该介电陶瓷的制备方法。本发明的介电陶瓷采用具有正、负介电常数温度系数的铋基焦绿石单相体系按照一定比例进行复合,得到的介电陶瓷具有优异的高频介电性能,在MLCC等多种电子元器件的应用上具有广阔前景。
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公开(公告)号:CN203688603U
公开(公告)日:2014-07-02
申请号:CN201420056416.0
申请日:2014-01-29
申请人: 西安科技大学
IPC分类号: G01R1/04
摘要: 本实用新型公开了一种电子材料电性能温度特性测试用试样夹装装置,包括内壳体、外壳体、顶盖和试样压紧机构,内壳体内设有中间隔板,内壳体底部连接有底板,位于中间隔板上部的内壳体内腔为绝缘腔体,中间隔板的中间位置处设有试样台;位于中间隔板下部的内壳体内腔为冷却液腔体,冷却液腔体内装有冷却液,内壳体上设有冷却液入口和排气口,内壳体外部缠绕有电热丝;试样压紧机构包括上电极、上绝缘材料环、均压环、绝缘材料管和下绝缘材料环,顶盖与上绝缘材料之间设有弹簧;顶盖上开有上电极导线孔,外壳体上开有下电极导线孔。本实用新型试样取放方便,夹持可靠,增加了测试稳定性,有助于提高测试精度,实用性强。
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