一种粗指向机构两轴正交性测试系统及方法

    公开(公告)号:CN112098050B

    公开(公告)日:2022-08-12

    申请号:CN202010852068.8

    申请日:2020-08-21

    Abstract: 一种粗指向机构两轴正交性测试系统及方法,首先将待测粗指向机构与光电收发装置、平面镜装置进行粗对准;保持待测粗指向机构的俯仰轴系固定,反复调节平面镜调节工装并旋转方位轴,使光斑位置轨迹、画圈范围最小得到方位轴的光斑基准点;调节工装使光电收发装置的同轴度位置与方位轴光斑基准点最接近;再以方位轴系不同角度为基础,分别转动俯仰轴系,寻找光斑位置轨迹、画圈范围最接近光电收发装置同轴度位置的俯仰轴系角度和光斑位置,确定俯仰轴系、方位轴系角度后计算待测粗指向机构的同轴度值,完成正交性测试,解决了传统粗指向机构正交性测试中容易出现测试误差大、测试难度高的问题,能够实现光电系统的集成和轴系校正。

    一种90°空间光混频器
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118859546A

    公开(公告)日:2024-10-29

    申请号:CN202411042092.X

    申请日:2024-07-31

    Abstract: 一种90°空间光混频器,包括起偏器、分光棱镜组、波片组、平板玻璃组、斜方棱镜组、单轴晶体组件,利用偏振分光原理,实现信号光(S)与本振光(L)相干混频,混频后输出四路相干光a、相干光b、相干光c、相干光d,主要应用于空间相干激光通信接收系统。光混频器能够实现信号光(S)与本振光(L)相干混频,并输出四路相对位相差为90°混频光,光混频器整体结构紧凑利于体积小型化设计,并能够单独补偿各自支路间的相对位相差。

    一种粗指向机构两轴正交性测试系统及方法

    公开(公告)号:CN112098050A

    公开(公告)日:2020-12-18

    申请号:CN202010852068.8

    申请日:2020-08-21

    Abstract: 一种粗指向机构两轴正交性测试系统及方法,首先将待测粗指向机构与光电收发装置、平面镜装置进行粗对准;保持待测粗指向机构的俯仰轴系固定,反复调节平面镜调节工装并旋转方位轴,使光斑位置轨迹、画圈范围最小得到方位轴的光斑基准点;调节工装使光电收发装置的同轴度位置与方位轴光斑基准点最接近;再以方位轴系不同角度为基础,分别转动俯仰轴系,寻找光斑位置轨迹、画圈范围最接近光电收发装置同轴度位置的俯仰轴系角度和光斑位置,确定俯仰轴系、方位轴系角度后计算待测粗指向机构的同轴度值,完成正交性测试,解决了传统粗指向机构正交性测试中容易出现测试误差大、测试难度高的问题,能够实现光电系统的集成和轴系校正。

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