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公开(公告)号：CN112108902A
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN202010898984.5
申请日：2020-08-31
Applicant: 西安精雕精密机械工程有限公司
Abstract: 一种调平结构及调平方法，包括底座、调平板、微调机构、支撑结构和锁紧机构；底座固定设置在机床操作台，调平板设置在底座上，调平板和底座之间设置有支撑结构，调平板和底座通过若干锁紧机构连接，调平板上贯穿设置有若干微调机构，微调机构用于调整调平板的水平度。本发明改变传统工件调平的工作模式，提高工件调平效率与精度。结合在机测量能够完成工件平面水平度自动探测，替代传统拉表方式，提高工件水平度探测精度。
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公开(公告)号：CN119188386A
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202411699707.6
申请日：2024-11-26
Applicant: 西安精雕精密机械工程有限公司
IPC: B23Q3/18
Abstract: 本发明公开了一种用于测头同心度校准的机构，包括：初定心调整座和测头同心度微调机构，通过该校准机构的应用，初始安装时可以保证测针测球球心与主轴轴线的偏心量在较小范围内，重复安装时，由于粗调定位柱与刀柄之间的微小间隙配合，重复安装偏差也在较小范围内，无需粗调，直接进入到测针同心度的微调过程，提高了测头调节同心度的调节效率，进而提高了测头的安装效率，不同工艺人员均可在短时间内完成测头同心度的校准工作，该机构对测头圆柱夹紧面进行了保护，在调节过程中不会对测头造成损伤，调节接触面对应的零件可定期更换，保证了测量精度，降低了测头维修成本。
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公开(公告)号：CN118268930A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202211716751.4
申请日：2022-12-30
Applicant: 西安精雕精密机械工程有限公司
IPC: B23Q17/00
Abstract: 本发明公开了一种接触式测头应用的自检方法，包括：测头在标定过程中的校验方法、测头同心度的校验方法、测头各向同性精度的校验方法、测头重复性精度的校验方法、测球轮廓的校验方法五个方面，该方法较快、较准确的了解待使用测头的自身性能和基本保障条件是否满足要求，提高了测头使用时的效率。配合在机测量技术，使用程序集成的方法，配置参数后，一键启动，开始标准化检测过程，并打印检测数据，根据检测结果快速确定测头、测针、标准球当下检测状态，避免测头、测针、标准球带来的不确定因素，指导工艺人员更好的使用测头。
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公开(公告)号：CN112108902B
公开(公告)日：2022-06-28
申请号：CN202010898984.5
申请日：2020-08-31
Applicant: 西安精雕精密机械工程有限公司
Abstract: 一种调平结构及调平方法，包括底座、调平板、微调机构、支撑结构和锁紧机构；底座固定设置在机床操作台，调平板设置在底座上，调平板和底座之间设置有支撑结构，调平板和底座通过若干锁紧机构连接，调平板上贯穿设置有若干微调机构，微调机构用于调整调平板的水平度。本发明改变传统工件调平的工作模式，提高工件调平效率与精度。结合在机测量能够完成工件平面水平度自动探测，替代传统拉表方式，提高工件水平度探测精度。
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