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公开(公告)号：CN110823747A
公开(公告)日：2020-02-21
申请号：CN201911044958.X
申请日：2019-10-30
申请人： 西部超导材料科技股份有限公司
摘要： 本发明涉及WIC镶嵌超导线材铜超比测量技术领域，尤其为WIC镶嵌超导线提供一种质量与电阻相结合的铜超比测量方法；将镀锡前镶嵌圆线与镶嵌铜槽线进行剥离；采用电阻法测量镶嵌圆线的铜超比β，通过计算得出镶嵌圆线铜的体积，镶嵌圆线Nb阻隔层与NbTi芯丝的体积；称重镶嵌铜槽质量并通过计算获得镶嵌铜槽线体积；称重WIC镀锡成品线质量，镶嵌铜槽与镶嵌圆线质量之和，两者相减获得镶嵌焊料锡的质量并通过计算获得焊料锡的体积。大量测量比对实验表明：本发明的方法与化学腐蚀法测量比对误差在2％以内，满足使用需求。本发明的方法与化学腐蚀法相比，效率提升65％以上，且避免了化学腐蚀法使用HNO3对环境造成的污染。
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公开(公告)号：CN110873817A
公开(公告)日：2020-03-10
申请号：CN201811004102.5
申请日：2018-08-30
申请人： 西部超导材料科技股份有限公司
IPC分类号： G01R19/00
摘要： 本发明涉及低温超导线材临界电流测量技术领域，尤其为一种临界电流测量系统的准确性与稳定性保障方法：第一，定期校验测量仪表，保障在校验期内使用。第二，对测量子系统进行不定期维护，主要包括1)样品电流源：检查样品电流源，保证稳定可控的输出电流；2)磁体系统：不定期标定磁场和检查磁体线圈，提供准确的背景磁场；3)测试工装：检查测量样品杆内各电流接触点，更换样品杆内信号线，保证样品杆的测量精度。第三，制定内部标准样品，开机前进行标准样品的测量，保障每次测量结果在误差允许范围内。长时间测试实验表明：此方法可以确保临界电流测量系统的准确运行，为临界电流测量提供可靠保障。
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公开(公告)号：CN110823747B
公开(公告)日：2022-02-22
申请号：CN201911044958.X
申请日：2019-10-30
申请人： 西部超导材料科技股份有限公司
摘要： 本发明涉及WIC镶嵌超导线材铜超比测量技术领域，尤其为WIC镶嵌超导线提供一种质量与电阻相结合的铜超比测量方法；将镀锡前镶嵌圆线与镶嵌铜槽线进行剥离；采用电阻法测量镶嵌圆线的铜超比β，通过计算得出镶嵌圆线铜的体积，镶嵌圆线Nb阻隔层与NbTi芯丝的体积；称重镶嵌铜槽质量并通过计算获得镶嵌铜槽线体积；称重WIC镀锡成品线质量，镶嵌铜槽与镶嵌圆线质量之和，两者相减获得镶嵌焊料锡的质量并通过计算获得焊料锡的体积。大量测量比对实验表明：本发明的方法与化学腐蚀法测量比对误差在2％以内，满足使用需求。本发明的方法与化学腐蚀法相比，效率提升65％以上，且避免了化学腐蚀法使用HNO3对环境造成的污染。
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公开(公告)号：CN111505360A
公开(公告)日：2020-08-07
申请号：CN202010433953.2
申请日：2020-05-21
申请人： 西部超导材料科技股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种用伏安法测量非亲锡材料电阻的制样方法，具体包括如下步骤：步骤1，准备焊料及高电导材料丝；步骤2，将高电导材料丝紧密缠绕在要制作电极的样品部位；步骤3，烙铁加热，用烙铁蘸取焊料均匀涂抹在步骤2绕制的高电导材料丝的样品部位，直至该部位处的高电导材料丝全部沾满焊料，电极制作完成。本发明解决了非亲锡材料在采用伏安法测量电阻时制作电极困难的问题。
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公开(公告)号：CN111751579A
公开(公告)日：2020-10-09
申请号：CN202010434084.5
申请日：2020-05-21
申请人： 西部超导材料科技股份有限公司
IPC分类号： G01R1/04
摘要： 本发明公开了一种大载流临界电流样品杆的设计方法，具体包括如下步骤：步骤1，计算超导线用量与低温端铜杆的横截面积；步骤2，根据步骤1的计算结果制作低温端超导复合电流引线；步骤3，计算常温端连接杆的横截面积；步骤4，根据步骤3的计算结果制作连接常温端的连接杆；步骤5，将步骤2制作的复合电流引线与步骤4制作的连接杆进行装配。本发明设计的电流样品杆能够最大载流至2500A，能够完成高临界电流超导体的测量。
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公开(公告)号：CN110873852A
公开(公告)日：2020-03-10
申请号：CN201811002177.X
申请日：2018-08-30
申请人： 西部超导材料科技股份有限公司
IPC分类号： G01R33/12
摘要： 本发明提供了一种WIC镶嵌线临界电流测量用样品的制备方法，包括取WIC镶嵌线，清洁线材样品骨架，固定到线材样品骨架一端，将样品夹持到绕样机上，线材样品顺着滚轮的方向绕制用螺丝固定，进行锡焊固定，取一根漆包线，焊到绕制的WIC线圈上3圈，用低温胶带对电位线进行包裹固定，打磨去除两侧铜环上的异物，样品在低温环境下进行测试，测量得到的曲线并做出相应的计算处理得出临界电流值。利用本发明WIC线材样品骨架，制备出的样品与槽体紧密结合，形状统一，绕制出的样品无侧翻扭弯等不良现象，消除了因制样人员不同而导致的人为不稳定因素，整个制样过程操作简单过程标准化，在超导线材测量领域具有广泛适用性。
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公开(公告)号：CN212658518U
公开(公告)日：2021-03-05
申请号：CN202020857943.7
申请日：2020-05-21
申请人： 西部超导材料科技股份有限公司
IPC分类号： G01N1/28
摘要： 本实用新型公开了一种低温复合超导线临界电流与磁滞损耗样品绕制装置，包括水平设置的底座，底座上沿竖直方向设有支撑杆，支撑杆上设有绕制支撑组件，绕制支撑组件的下方一侧设有定滑轮，线材的一端绕在绕制支撑组件上，线材的另一端绕过定滑轮并连接有重物块。本实用新型解决了小规格线材临界电流与磁滞损耗绕制困难的问题。
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