局部匀场装置及补偿主磁场的不均匀性的方法

    公开(公告)号:CN112798994A

    公开(公告)日:2021-05-14

    申请号:CN201911112009.0

    申请日:2019-11-14

    IPC分类号: G01R33/34 G01R33/387

    摘要: 本发明涉及局部匀场装置及补偿主磁场的不均匀性的方法,其中该局部匀场装置包括:一局部线圈,被布置为覆盖一检查对象的一局部区域,以接收来自局部区域的磁共振信号;多个匀场线圈,其中多个匀场线圈被集成在局部线圈中或者被布置为包围局部线圈的至少一部分;以及一匀场控制器,被配置为根据在局部区域内的主磁场的强度分布,控制多个匀场线圈中的至少一个匀场线圈,以提供用于补偿在局部区域内的主磁场的分量的场分布。

    成像回波相位校正方法、装置、成像系统和存储介质

    公开(公告)号:CN113808228A

    公开(公告)日:2021-12-17

    申请号:CN202010541722.3

    申请日:2020-06-15

    IPC分类号: G06T11/00 A61B5/055 G01R33/48

    摘要: 本发明实施例中公开了一种成像回波相位校正方法、装置、成像系统和存储介质。其中,方法包括:在每个重复周期中的成像回波后采集一导航回波;针对每个重复周期,将重复周期相邻的前一重复周期中采集的导航回波作为参考导航回波,并将重复周期中采集的导航回波作为当前导航回波,计算当前导航回波与参考导航回波之间的相位差,根据所述相位差、当前导航回波与参考导航回波之间的时间差以及参考导航回波的相位建立一对应所述当前重复周期的线性相位校正模型;针对当前重复周期内的每个成像回波,根据所述成像回波与参考导航回波之间的时间差,利用所述线性相位校正模型得到所述成像回波的校正相位。本发明实施例中的技术方案能够降低图像中的伪影。

    成像回波相位校正方法、装置、成像系统和存储介质

    公开(公告)号:CN113808228B

    公开(公告)日:2024-10-29

    申请号:CN202010541722.3

    申请日:2020-06-15

    IPC分类号: G06T11/00 A61B5/055 G01R33/48

    摘要: 本发明实施例中公开了一种成像回波相位校正方法、装置、成像系统和存储介质。其中,方法包括:在每个重复周期中的成像回波后采集一导航回波;针对每个重复周期,将重复周期相邻的前一重复周期中采集的导航回波作为参考导航回波,并将重复周期中采集的导航回波作为当前导航回波,计算当前导航回波与参考导航回波之间的相位差,根据所述相位差、当前导航回波与参考导航回波之间的时间差以及参考导航回波的相位建立一对应所述当前重复周期的线性相位校正模型;针对当前重复周期内的每个成像回波,根据所述成像回波与参考导航回波之间的时间差,利用所述线性相位校正模型得到所述成像回波的校正相位。本发明实施例中的技术方案能够降低图像中的伪影。