一种集成受试设备温度测量的高低温箱

    公开(公告)号:CN118106045A

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN202211516438.6

    申请日:2022-11-29

    摘要: 本发明涉及一种集成受试设备温度测量的高低温箱,包括:试验箱(1)、控制系统、制冷系统、加热系统,还包括热电偶测温回路、与控制系统连接的测温模块、冷端温度传感器;所述控制系统中储存有各个热电偶测温回路的温度告警阈值、在受试设备(3)出现温度超限后执行温度调节的调温控制程序。本发明能够克服高低温箱进行高温、低温测试时受试设备或其核心元器件温度测量困难、需要借助第三方测温设备的缺陷,并且增加对受试设备温度超限保护机制,能够在在受试设备温度超限后进行升温或降温以进行保护,避免或减少了受试设备损坏或其它安全风险。

    一种串行时间码授时方法、系统及电子设备

    公开(公告)号:CN114051276B

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202111371428.3

    申请日:2021-11-18

    IPC分类号: H04W56/00 H04W4/20 H04J3/06

    摘要: 本申请提供一种串行时间码授时方法、系统及电子设备,能实现高精度授时,应用成本低、适用性强。所述方法包括:通信基站与授时终端设备的通信模块进行时间同步,确定实时时间信息;所述生成校时脉冲信号并根据校时脉冲信号生成串口信号,将校时脉冲信号与串口信号发送至所述编码输出模块;所述编码输出模块根据所述串口信号在所述校时脉冲信号中确定近秒冲击信号,以所述近秒冲击信号的冲击时刻为起点计时,达到整秒时刻时生成与所述整秒时刻相应的串行时间码。所述系统包括通信基站与多个授时终端设备,所述授时终端设备包括通信模块与编码输出模块。所述电子设备用于实现所述串行时间码授时方法。

    一种串行时间码授时方法、系统及电子设备

    公开(公告)号:CN114051276A

    公开(公告)日:2022-02-15

    申请号:CN202111371428.3

    申请日:2021-11-18

    IPC分类号: H04W56/00 H04W4/20 H04J3/06

    摘要: 本申请提供一种串行时间码授时方法、系统及电子设备,能实现高精度授时,应用成本低、适用性强。所述方法包括:通信基站与授时终端设备的通信模块进行时间同步,确定实时时间信息;所述生成校时脉冲信号并根据校时脉冲信号生成串口信号,将校时脉冲信号与串口信号发送至所述编码输出模块;所述编码输出模块根据所述串口信号在所述校时脉冲信号中确定近秒冲击信号,以所述近秒冲击信号的冲击时刻为起点计时,达到整秒时刻时生成与所述整秒时刻相应的串行时间码。所述系统包括通信基站与多个授时终端设备,所述授时终端设备包括通信模块与编码输出模块。所述电子设备用于实现所述串行时间码授时方法。