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公开(公告)号：CN101106065A
公开(公告)日：2008-01-16
申请号：CN200710128353.X
申请日：2007-07-10
申请人： 诺信公司
发明人： 卡尔·A·布雷梅日斯基 , 詹姆斯·W·施米特康斯
CPC分类号： H01J65/044 , H01J61/523
摘要： 一种微波激发的紫外线灯系统，具有从空气源供给冷却空气的微波腔室。压力传感器或者温度传感器的至少一个被定位在该系统中以感测与冷却空气流有关的压力或者灯系统的温度。控制器从传感器接收信号并且可被操作用于调节来自空气源的冷却空气流以获得所需冷却空气流率。
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公开(公告)号：CN101334317B
公开(公告)日：2011-11-23
申请号：CN200810129555.0
申请日：2008-06-30
申请人： 诺信公司
发明人： 詹姆斯·W·施米特康斯 , 卡尔·A·布雷梅日斯基
CPC分类号： H01J65/044 , H05B41/24
摘要： 紫外线灯系统的检测器和监测微波能量的相应方法。一种用于紫外线灯系统的检测器，所述紫外线灯系统的类型为具有微波能量发生器，所述检测器包括第一电路，配置为检测所述微波能量。所述第一电路包括至少一个辐射敏感部件，所述辐射敏感部件能够因为暴露在过量的微波能量下而失效。第二电路，耦合到所述第一电路，配置为间歇地测试所述辐射敏感部件是否失效。一种紫外线灯系统包括所述检测器。一种相关的方法包括：通过第一电路监测所述微波能量，所述第一电路包括至少一个辐射敏感部件，所述辐射敏感部件能够因为暴露在过量的微波能量下而失效；以及测试所述辐射敏感部件以确定所述辐射敏感部件是否失效。
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公开(公告)号：CN101335180A
公开(公告)日：2008-12-31
申请号：CN200810129554.6
申请日：2008-06-30
申请人： 诺信公司
发明人： 卡尔·A·布雷梅日斯基 , 詹姆斯·W·施米特康斯
CPC分类号： H05B41/2806 , Y02B20/22
摘要： 紫外线灯系统和用于控制发射的紫外线的方法。一种紫外线灯组件和相应的方法，所述灯组件可操作地产生紫外线，以用于照射衬底。所述灯组件包括：磁电管；无电极灯，用于当由产生自所述磁电管的微波辐射而激发时，发射紫外线；以及功率控制电路装置，配置为相应于由所述灯产生的紫外线的强度，控制由所述磁电管产生的微波辐射的输出功率。所述功率控制电路的第一控制回路配置为，基于与所述灯的紫外线输出的期望强度相关联的输入电流设置，调整至所述磁电管的输入电流；第二控制回路耦合到所述第一控制回路，并配置为，基于至所述磁电管的输入功率，调节所述第一控制回路使用的输入电流设置，以调整至所述磁电管的所述输入电流，所述磁电管的输入功率与从所述灯输出的紫外线的强度成比例。
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公开(公告)号：CN101335180B
公开(公告)日：2012-01-18
申请号：CN200810129554.6
申请日：2008-06-30
申请人： 诺信公司
发明人： 卡尔·A·布雷梅日斯基 , 詹姆斯·W·施米特康斯
CPC分类号： H05B41/2806 , Y02B20/22
摘要： 紫外线灯系统和用于控制发射的紫外线的方法。一种紫外线灯组件和相应的方法，所述灯组件可操作地产生紫外线，以用于照射衬底。所述灯组件包括：磁电管；无电极灯，用于当由产生自所述磁电管的微波辐射而激发时，发射紫外线；以及功率控制电路装置，配置为相应于由所述灯产生的紫外线的强度，控制由所述磁电管产生的微波辐射的输出功率。所述功率控制电路的第一控制回路配置为，基于与所述灯的紫外线输出的期望强度相关联的输入电流设置，调整至所述磁电管的输入电流；第二控制回路耦合到所述第一控制回路，并配置为，基于至所述磁电管的输入功率，调节所述第一控制回路使用的输入电流设置，以调整至所述磁电管的所述输入电流，所述磁电管的输入功率与从所述灯输出的紫外线的强度成比例。
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公开(公告)号：CN101334317A
公开(公告)日：2008-12-31
申请号：CN200810129555.0
申请日：2008-06-30
申请人： 诺信公司
发明人： 詹姆斯·W·施米特康斯 , 卡尔·A·布雷梅日斯基
CPC分类号： H01J65/044 , H05B41/24
摘要： 紫外线灯系统的检测器和监测微波能量的相应方法。一种用于紫外线灯系统的检测器，所述紫外线灯系统的类型为具有微波能量发生器，所述检测器包括第一电路，配置为检测所述微波能量。所述第一电路包括至少一个辐射敏感部件，所述辐射敏感部件能够因为暴露在过量的微波能量下而失效。第二电路，耦合到所述第一电路，配置为间歇地测试所述辐射敏感部件是否失效。一种紫外线灯系统包括所述检测器。一种相关的方法包括：通过第一电路监测所述微波能量，所述第一电路包括至少一个辐射敏感部件，所述辐射敏感部件能够因为暴露在过量的微波能量下而失效；以及测试所述辐射敏感部件以确定所述辐射敏感部件是否失效。
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