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发明公开
用于线材皮膜的缺陷检测方法及系统审中-公开

公开(公告)号：CN116205840A

公开(公告)日：2023-06-02

申请号：CN202111446927.4

申请日：2021-11-30

申请人： 财团法人金属工业研究发展中心

发明人： 詹家铭 , 郑淳宏 , 江冠虹 , 廖英舟

IPC分类号： G06T7/00

摘要： 本发明实施例提出一种用于线材皮膜的缺陷检测方法及系统。取得训练样本。各训练样本包括受光源照射的线材的图像，且各光源仅具有一个特定波长。根据线材的多个区段的震动频率标记那些训练样本。若那些区段中的第一区段的震动频率大于频率阈值，则将第一区段对应的训练样本标记为良品样本。若那些区段中的第二区段的震动频率未大于频率阈值，则将第二区段对应的训练样本标记为不良样本。根据经标记的那些训练样本并基于机器学习算法建立缺陷检测模块。缺陷检测模块用于分析线材上的皮膜缺陷。藉此，可提供在线检测。