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公开(公告)号：CN118225532B
公开(公告)日：2024-08-20
申请号：CN202410630700.2
申请日：2024-05-21
申请人： 贵研检测科技(云南)有限公司 , 云南贵金属实验室有限公司
摘要： 本发明涉及一种金属铱粉试样的快速溶解方法，属于金属试样溶解技术领域。本发明将盐酸和高氯酸加入到金属铱粉试样中得到混合物，然后进行密封；混合物置于微波条件下进行阶梯式升温至250~280℃并保温进行微波消解处理1.5~2h，随炉冷却至室温，得到铱化合物溶液；铱化合物溶液煮沸去除氯气，冷却后定容，得到铱化合物待测试液。本发明金属铱粉试样在酸性含氯氧化物体系中进行微波消解处理，生成四价铱的氯化合物而实现快速溶解。本发明方法仅需1.5~2h即可实现金属铱粉试样的完全溶解，可用于纯净的铱标准溶液配制、铱粉纯度检测及高含量铱物料的快速准确测定。
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公开(公告)号：CN118190689B
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202410601762.0
申请日：2024-05-15
申请人： 贵研检测科技(云南)有限公司 , 云南贵金属实验室有限公司
摘要： 本发明涉及一种含铱贵金属试样中高含量铑准确测定的方法，属于贵金属含量分析检测技术领域。本发明主要包括试样溶解、酸度调控、混合溶剂萃取、铑铱价态氧化、二级萃取等步骤，采用三烷基氧化磷‑三氯甲烷混合萃取剂预先萃取分离试样中的铱，再通过硝酸六氨合钴重量法测定铑含量。经二级萃取后，三烷基氧化磷‑三氯甲烷混合萃取剂对铱的萃取率超99.8%，铑则被保留在水相中。本发明方法极大提高了铑和铱的分离效率，消除了采用硝酸六氨合钴重量法检测高含量铑时铱对铑的干扰，解决了贵金属试样中铑铱分离难题，为铱铑物料高含量铑的准确定量分析提供了关键技术保障，实现含铱贵金属试样中高含量铑的准确定量检测。
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公开(公告)号：CN118225532A
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN202410630700.2
申请日：2024-05-21
申请人： 贵研检测科技(云南)有限公司 , 云南贵金属实验室有限公司
摘要： 本发明涉及一种金属铱粉试样的快速溶解方法，属于金属试样溶解技术领域。本发明将盐酸和高氯酸加入到金属铱粉试样中得到混合物，然后进行密封；混合物置于微波条件下进行阶梯式升温至250~280℃并保温进行微波消解处理1.5~2h，随炉冷却至室温，得到铱化合物溶液；铱化合物溶液煮沸去除氯气，冷却后定容，得到铱化合物待测试液。本发明金属铱粉试样在酸性含氯氧化物体系中进行微波消解处理，生成四价铱的氯化合物而实现快速溶解。本发明方法仅需1.5~2h即可实现金属铱粉试样的完全溶解，可用于纯净的铱标准溶液配制、铱粉纯度检测及高含量铱物料的快速准确测定。
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公开(公告)号：CN118190689A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410601762.0
申请日：2024-05-15
申请人： 贵研检测科技(云南)有限公司 , 云南贵金属实验室有限公司
摘要： 本发明涉及一种含铱贵金属试样中高含量铑准确测定的方法，属于贵金属含量分析检测技术领域。本发明主要包括试样溶解、酸度调控、混合溶剂萃取、铑铱价态氧化、二级萃取等步骤，采用三烷基氧化磷‑三氯甲烷混合萃取剂预先萃取分离试样中的铱，再通过硝酸六氨合钴重量法测定铑含量。经二级萃取后，三烷基氧化磷‑三氯甲烷混合萃取剂对铱的萃取率超99.8%，铑则被保留在水相中。本发明方法极大提高了铑和铱的分离效率，消除了采用硝酸六氨合钴重量法检测高含量铑时铱对铑的干扰，解决了贵金属试样中铑铱分离难题，为铱铑物料高含量铑的准确定量分析提供了关键技术保障，实现含铱贵金属试样中高含量铑的准确定量检测。
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公开(公告)号：CN118010460A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202311821444.7
申请日：2023-12-27
摘要： 本发明涉及一种表征芯片引线键合微焊点组织的制样方法，属于材料分析表征制样技术领域。本发明将芯片样品夹持水平固定于模具中，将环氧树脂‑固化剂混合物加入到模具内淹没芯片样品及夹具，静置凝固得到冷镶样；在光学显微镜观察下，采用不同目数砂纸对冷镶样进行逐级磨样：冷镶样初磨至距离芯片样负极端面0.8～1.2mm，对冷镶样的芯片负极端进行粗磨、细磨和抛光至目标微焊点截面位置，采用无痕胶带覆盖冷镶样的芯片负极端；对冷镶样的芯片正极端进行粗磨至露出金属端，得到芯片键合微焊点组织样品；采用电镜观察表征芯片键合微焊点组织样品。本发明制样成本较低，且制样方法简单，短时间即可获得清晰完整的键合微焊点组织样品。
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公开(公告)号：CN118209575A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410612826.7
申请日：2024-05-17
申请人： 贵研检测科技(云南)有限公司
IPC分类号： G01N23/2202
摘要： 本发明涉及一种贵金属试样的显微组织显现方法，属于显微组织表征技术领域。本发明将贵金属块体试样的待测面进行机械抛光，清洗并烘干得到机械抛光样品；将机械抛光样品的待测面进行氩离子研磨抛光处理得到氩离子抛光样品；氩离子抛光样品置于双束电子显微镜的样品内并在真空条件下观察，采用低电流聚焦镓离子束成像方法，扫描待测样品表面成像，利用离子束增强通道衬度形成强取向衬度的晶粒组织图像。相比于金相法，本发明显微组织显现方法无需腐蚀液腐蚀，可以解决贵金属及其合金耐蚀性极强不易腐蚀的问题；相比于聚焦离子束切割（FIB）法，可获得厘米级较大区域面积的组织图像；相比于常规扫描电镜电子束成像，可获得衬度更明显的晶粒组织图像。
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公开(公告)号：CN118209575B
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202410612826.7
申请日：2024-05-17
申请人： 贵研检测科技(云南)有限公司
IPC分类号： G01N23/2202
摘要： 本发明涉及一种贵金属试样的显微组织显现方法，属于显微组织表征技术领域。本发明将贵金属块体试样的待测面进行机械抛光，清洗并烘干得到机械抛光样品；将机械抛光样品的待测面进行氩离子研磨抛光处理得到氩离子抛光样品；氩离子抛光样品置于双束电子显微镜的样品内并在真空条件下观察，采用低电流聚焦镓离子束成像方法，扫描待测样品表面成像，利用离子束增强通道衬度形成强取向衬度的晶粒组织图像。相比于金相法，本发明显微组织显现方法无需腐蚀液腐蚀，可以解决贵金属及其合金耐蚀性极强不易腐蚀的问题；相比于聚焦离子束切割（FIB）法，可获得厘米级较大区域面积的组织图像；相比于常规扫描电镜电子束成像，可获得衬度更明显的晶粒组织图像。
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