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    用于在熔融金属中进行取样的测量探针
    1.
    发明授权
    用于在熔融金属中进行取样的测量探针 有权

    公开(公告)号：CN103630423B

    公开(公告)日：2016-08-24

    申请号：CN201310310944.4

    申请日：2013-07-23

    申请人： 贺利氏电子耐特国际股份公司

    发明人： 德里·拜恩斯 ,  埃里克·B·博特尔斯

    IPC分类号： G01N1/10

    CPC分类号： G01D11/24 ,  G01N1/125 ,  G01N33/206

    摘要： 本发明涉及一种用于在熔融金属中，尤其是在熔融钢中进行取样的测量探针，所述测量探针具有布置在支撑管的浸入端上的测量头，由此所述测量头包括至少一个样品室，由此所述样品室包括进料道，所述进料道的一端通向样品室，并且所述进料道的第二端包括从测量头的正面突出的进料口，所述测量头的正面背对支撑管，并且进料口被保护罩覆盖，其特征在于保护罩被布置在进料道的外面、沿进料方向处在进料口的上游并且离进料口一定距离处，由此保护罩覆盖了进料口，并且由此保护罩并没有在横向上完全地包围进料道。

    用于在熔融金属中进行取样的测量探针
    2.
    发明公开
    用于在熔融金属中进行取样的测量探针 有权

    公开(公告)号：CN103630423A

    公开(公告)日：2014-03-12

    申请号：CN201310310944.4

    申请日：2013-07-23

    申请人： 贺利氏电子耐特国际股份公司

    发明人： 德里·拜恩斯 ,  埃里克·B·博特尔斯

    IPC分类号： G01N1/10

    CPC分类号： G01D11/24 ,  G01N1/125 ,  G01N33/206

    摘要： 本发明涉及一种用于在熔融金属中，尤其是在熔融钢中进行取样的测量探针，所述测量探针具有布置在支撑管的浸入端上的测量头，由此所述测量头包括至少一个样品室，由此所述样品室包括进料道，所述进料道的一端通向样品室，并且所述进料道的第二端包括从测量头的正面突出的进料口，所述测量头的正面背对支撑管，并且进料口被保护罩覆盖，其特征在于保护罩被布置在进料道的外面、沿进料方向处在进料口的上游并且离进料口一定距离处，由此保护罩覆盖了进料口，并且由此保护罩并没有在横向上完全地包围进料道。

    在铁熔液或钢熔液中测量参数或取样的装置
    3.
    发明授权
    在铁熔液或钢熔液中测量参数或取样的装置 有权

    公开(公告)号：CN107255573B

    公开(公告)日：2021-04-27

    申请号：CN201710372128.4

    申请日：2012-10-19

    申请人： 贺利氏电子耐特国际股份公司

    发明人： 吉多·雅各布斯·奈叶恩斯 ,  埃里克·B·博特尔斯 ,  德里·拜恩斯

    IPC分类号： G01N1/04

    摘要： 本发明涉及一种在铁熔液或钢熔液中测量参数或取样，以及在位于铁熔液或钢熔液之上的炉渣中取样的装置，其带有具有浸入端以及侧面包围面的载体管，在该载体管的浸入端设置有具有浸入端以及侧面包围面的测量头，其中，在测量头的浸入端设有至少一个传感器和用于存在于装置内部的样品腔的流入口，还在于，在载体管或测量头的侧面包围面设有流入口，该流入口经流入通道通入设置在载体管或测量头的内部的前置腔，而且，前置腔在它的远离测量头浸入端的一端具有流入口，该流入口通入炉渣样品腔，该炉渣样品腔设置在装置内部的该前置腔的远离浸入端的一侧。