公开(公告)号：CN111220581A

公开(公告)日：2020-06-02

申请号：CN201911172646.7

申请日：2019-11-26

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 边霄 ,  约翰·卡里吉亚尼斯 ,  斯蒂芬尼·哈雷尔 ,  史蒂文斯·布沙尔 ,  马克西姆·博杜安·波略特 ,  韦恩·格雷迪 ,  大卫·斯科特·迪温斯基 ,  伯纳德·帕特里克·布莱

IPC: G01N21/64

Abstract: 一种检查系统，包括成像装置、可见光源、紫外线光源和至少一个处理器。成像装置在紫外线光源用紫外线光照射工件以使其上的荧光染料发射光的同时产生工件的第一图像组，并且在可见光源用可见光照射工件的同时产生工件的第二图像组。第一图像组和第二图像组在成像装置相对于工件的相同位置处产生。处理器基于第二图像组中所描绘的特征和成像装置的位置，将第二图像组映射到工件的计算机设计模型。处理器基于第一图像组的分析和计算机设计模型来确定工件上的缺陷位置。

公开(公告)号：CN111272763B

公开(公告)日：2023-04-07

申请号：CN201911220932.6

申请日：2019-12-03

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 边霄 ,  阿尔皮特·杰恩 ,  大卫·斯科特·迪温斯基 ,  伯纳德·帕特里克·布莱 ,  史蒂文斯·布沙尔 ,  吉恩·菲利普·乔尼勒 ,  马克·安德烈·马罗斯 ,  斯蒂芬尼·哈雷尔 ,  约翰·卡里吉亚尼斯

IPC: G01N21/88

Abstract: 一种检查系统，包括一个或多个成像装置和一个或多个处理器。成像装置在相对于工件的第一位置处产生工件的第一组的图像，并且在相对于工件的第二位置处产生工件的第二组的图像。使用不同的光设定获取第一组和第二组中的至少一些图像。处理器分析第一组的图像以产生与第一位置相关的第一预测图像，并且分析第二组的图像以产生与第二位置相关的第二预测图像。第一预测图像和第二预测图像包括相应的候选区。处理器合并第一预测图像和第二预测图像以检测在至少一个候选区中描绘的工件中的至少一个预测缺陷。

公开(公告)号：CN111272763A

公开(公告)日：2020-06-12

申请号：CN201911220932.6

申请日：2019-12-03

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 边霄 ,  阿尔皮特·杰恩 ,  大卫·斯科特·迪温斯基 ,  伯纳德·帕特里克·布莱 ,  史蒂文斯·布沙尔 ,  吉恩·菲利普·乔尼勒 ,  马克·安德烈·马罗斯 ,  斯蒂芬尼·哈雷尔 ,  约翰·卡里吉亚尼斯

IPC: G01N21/88

Abstract: 一种检查系统，包括一个或多个成像装置和一个或多个处理器。成像装置在相对于工件的第一位置处产生工件的第一组的图像，并且在相对于工件的第二位置处产生工件的第二组的图像。使用不同的光设定获取第一组和第二组中的至少一些图像。处理器分析第一组的图像以产生与第一位置相关的第一预测图像，并且分析第二组的图像以产生与第二位置相关的第二预测图像。第一预测图像和第二预测图像包括相应的候选区。处理器合并第一预测图像和第二预测图像以检测在至少一个候选区中描绘的工件中的至少一个预测缺陷。