公开(公告)号：CN107430202B

公开(公告)日：2020-03-24

申请号：CN201680006933.9

申请日：2016-01-12

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 赵日安 ,  A.J.库蒂尔

IPC: G01T1/20 ,  G01N23/044

Abstract: 本发明公开一种用于成像系统的柔性有机X射线检测器以及用于制造具有分层结构的柔性有机X射线检测器的方法。所述检测器包括柔性基底(220)以及可操作地连接到所述柔性基底的薄玻璃基底(204)。此外，所述检测器包括设置在所述薄玻璃基底上的薄膜晶体管阵列(202)。此外，所述检测器包括有机光电二极管(206)，所述有机光电二极管包括设置在所述薄膜晶体管阵列上的一个或多个层(212，214，218)。此外，所述检测器包括设置在所述有机光电二极管上的闪烁体层(208)闪烁体。

公开(公告)号：CN107430202A

公开(公告)日：2017-12-01

申请号：CN201680006933.9

申请日：2016-01-12

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 赵日安 ,  A.J.库蒂尔

IPC: G01T1/20 ,  G01N23/04

Abstract: 本发明公开一种用于成像系统的柔性有机X射线检测器以及用于制造具有分层结构的柔性有机X射线检测器的方法。所述检测器包括柔性基底(220)以及可操作地连接到所述柔性基底的薄玻璃基底(204)。此外，所述检测器包括设置在所述薄玻璃基底上的薄膜晶体管阵列(202)。此外，所述检测器包括有机光电二极管(206)，所述有机光电二极管包括设置在所述薄膜晶体管阵列上的一个或多个层(212，214，218)。此外，所述检测器包括设置在所述有机光电二极管上的闪烁体层(208)闪烁体。