-
公开(公告)号：CN101414515B
公开(公告)日：2014-08-20
申请号：CN200810169644.8
申请日：2008-10-06
Applicant: 通用电气公司
IPC: H01H9/16
CPC classification number: H01H71/462 , H01H9/167 , H01H9/168 , H01H2071/048
Abstract: 本发明涉及用于检测接触位置的方法和装置，具体而言，本发明提供了用于检测触头的触头载体(4)的位置的装置，其包括外壳(12)、由外壳(12)支撑的传感器(66)以及可由触头载体移动的闩锁(36)。此闩锁(36)包括闩锁部件(40)，该闩锁部件(40)定位在传感器(66)的附近，并且通常是非反射性的。传感器(66)设置成检测闩锁部件(40)在一个特定位置上的存在或缺失，该位置依赖于触头载体(4)的位置。还提供了用于检测触头模块的触头载体(4)的位置的方法。
-
公开(公告)号：CN102024624A
公开(公告)日：2011-04-20
申请号：CN201010293503.4
申请日：2010-09-15
Applicant: 通用电气公司
IPC: H01H50/54 , G01R31/327 , G01R25/00
CPC classification number: H01H1/0015 , H01H2071/044
Abstract: 本发明名称为“监视电触点状态的装置和方法”。公开一种用于生成具有可移动衔铁和固定轭的电磁开关的电触点对的状态的方法，其中，所述电触点对与所述可移动衔铁耦合，所述方法包括：在第一大致恒定的电相角触发所述电磁开关；测量在所述电触点对的状态的改变时的第二电相角；测量在所述电磁开关的闭合时的第三电相角；将磁滞后角确定为所述第二相角与所述第三相角之间的差；以及使用所述磁滞后角来生成所述触点对的状态。
-
公开(公告)号：CN102814005A
公开(公告)日：2012-12-12
申请号：CN201210264062.4
申请日：2012-05-11
Applicant: 通用电气公司
Inventor： S·K·戈帕拉克里什南 , S·西瓦桑卡兰 , M·Y·A·伊姆兰 , M·S·桑达帕尼
CPC classification number: A61N5/0621 , A61N2005/0628 , A61N2005/0652 , H05B33/0851
Abstract: 在本发明的一个实施例中，提供一种计算峰值光谱辐照度的方法。该方法包括如下步骤：为确定辐照度分布模式而表征光源(202)；基于辐照度分布模式来生成三维模型中的多个密度锥体；以期望的布局定位多个密度锥体；在一个或更多位置测量辐照度的密度，以及为获取期望的辐照度分布而优化一个或更多光源(202)的定位。
-
公开(公告)号：CN101414515A
公开(公告)日：2009-04-22
申请号：CN200810169644.8
申请日：2008-10-06
Applicant: 通用电气公司
IPC: H01H9/16
CPC classification number: H01H71/462 , H01H9/167 , H01H9/168 , H01H2071/048
Abstract: 本发明涉及用于检测接触位置的方法和装置，具体而言，本发明提供了用于检测触头的触头载体(4)的位置的装置，其包括外壳(12)、由外壳(12)支撑的传感器(66)以及可由触头载体移动的闩锁(36)。此闩锁(36)包括闩锁部件(40)，该闩锁部件(40)定位在传感器(66)的附近，并且通常是非反射性的。传感器(66)设置成检测闩锁部件(40)在一个特定位置上的存在或缺失，该位置依赖于触头载体(4)的位置。还提供了用于检测触头模块的触头载体(4)的位置的方法。
-
-
-
Search Results
4
records
(took 0.016 seconds)
