公开(公告)号：CN102998323B

公开(公告)日：2015-06-10

申请号：CN201210502477.0

申请日：2012-11-30

Applicant: 重庆大学

Inventor： 杨帆 ,  高兵 ,  钟杰 ,  郭杏叶 ,  冉为

IPC: G01N24/08

Abstract: 本发明涉及一种基于核磁共振的交联聚乙烯电缆老化程度评估方法，通过核磁共振分析仪测试比较交联聚乙烯电缆在不同老化程度下的分子结构，得到交联聚乙烯老化程度与温度及时间之间的比例关系，从而根据该比例关系获得待评估交联聚乙烯电缆的老化状态与剩余寿命。本发明实现了从微观角度对绝缘材料老化性能的检测。

公开(公告)号：CN102998323A

公开(公告)日：2013-03-27

申请号：CN201210502477.0

申请日：2012-11-30

Applicant: 重庆大学

Inventor： 杨帆 ,  高兵 ,  钟杰 ,  郭杏叶 ,  冉为

IPC: G01N24/08

Abstract: 本发明涉及一种基于核磁共振的交联聚乙烯电缆老化程度评估方法，通过过核磁共振分析仪测试比较交联聚乙烯电缆在不同老化程度下的分子结构，得到交联聚乙烯老化程度与温度及时间之间的比例关系，从而根据该比例关系获得待评估交联聚乙烯电缆的老化状态与剩余寿命。本发明实现了从微观角度对绝缘材料老化性能的检测。