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公开(公告)号：CN103886602A
公开(公告)日：2014-06-25
申请号：CN201410123705.2
申请日：2014-03-28
Applicant: 重庆大学
IPC: G06T7/00
Abstract: 本发明公开了一种基于缺陷纹理特征的射线图像中缺陷检测方法，首先根据系统检测需求和检测目标特征建立标准的缺陷纹理图像数据库；其次对被测工件的射线图像进行融合增强；然后从增强的图像中计算子块图像的纹理特征值，依次比较该特征值与缺陷纹理库的特征值，从而判定该子块图像是否为缺陷；接着遍历整个图像即可检测出该图像包含缺陷的数量与类型。本发明避开了复杂的弱边缘提取问题，检测的过程不但可以判定工件是否包含缺陷以及缺陷的位置，更重要的是直接给出了缺陷的类型、等级，大大的减少了检测人员的劳动强度。
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