运送扫描结构、运送方法、样本分析仪及故障排查方法

    公开(公告)号:CN114966071B

    公开(公告)日:2023-05-09

    申请号:CN202210918758.8

    申请日:2022-08-02

    IPC分类号: G01N35/00 G01N35/04

    摘要: 本发明提供一种运送扫描结构、运送方法、样本分析仪及故障排查方法,该运送扫描结构包括运架单元和至少两个扫码器,运架单元用于运送样本架,样本架被运架单元运送的轨迹包括沿第一方向平移的第一平移路径,第一平移路径为样本架从前一单元进入运架单元的路径或离开运架单元进入后一单元的路径,样本架的侧壁包括两相背对的样本架侧面,样本架上各样本管上的第一条码在一样本架侧面裸露;扫码器分布在第一平移路径的两侧,各扫码器均朝向第一平移路径。本发明中,由于样本架的第一平移路径两侧都设置有扫码器,无论上样时样本管上的第一条码在哪一侧的样本架侧面裸露,扫码器都能够扫描到第一条码,能够实现样本架的无序上样。

    运送扫描结构、运送方法、样本分析仪及故障排查方法

    公开(公告)号:CN114966071A

    公开(公告)日:2022-08-30

    申请号:CN202210918758.8

    申请日:2022-08-02

    IPC分类号: G01N35/00 G01N35/04

    摘要: 本发明提供一种运送扫描结构、运送方法、样本分析仪及故障排查方法,该运送扫描结构包括运架单元和至少两个扫码器,运架单元用于运送样本架,样本架被运架单元运送的轨迹包括沿第一方向平移的第一平移路径,第一平移路径为样本架从前一单元进入运架单元的路径或离开运架单元进入后一单元的路径,样本架的侧壁包括两相背对的样本架侧面,样本架上各样本管上的第一条码在一样本架侧面裸露;扫码器分布在第一平移路径的两侧,各扫码器均朝向第一平移路径。本发明中,由于样本架的第一平移路径两侧都设置有扫码器,无论上样时样本管上的第一条码在哪一侧的样本架侧面裸露,扫码器都能够扫描到第一条码,能够实现样本架的无序上样。