公开(公告)号：CN118758877A

公开(公告)日：2024-10-11

申请号：CN202410916115.9

申请日：2024-07-09

Applicant: 长春工程学院

Inventor： 李成 ,  陈海燕 ,  刘丽 ,  张萧 ,  丁大力 ,  郝振磊 ,  刘爽 ,  武鹏飞 ,  荣汝钞 ,  史云迪 ,  于铭序 ,  刘俊鑫

IPC: G01N21/25 ,  G01N21/94 ,  G06V10/141 ,  G06V10/147

Abstract: 本发明公开了一种基于多光谱成像技术检测绝缘子污秽等级的装置及方法，所述装置包括：摄像采集单元、漫反射板、补光装置、取景器、滤光单元、数据检测平台；所述方法包括：采集绝缘子污秽样本，并在暗室中用多光谱成像仪对绝缘子污秽进行成像处理，采集绝缘子的多光谱图像；检测前对正白板多光谱的图像数据进行黑白校正；对黑白校正后的图像进行提取物质的反射光谱和散射光谱进行多元散射校正；建立预测模型；判定绝缘子污秽等级；本发明采用的多光谱较高的光谱分辨率，可以检测的波段也比可见光成像的多，并且检测绝缘子污秽装置对采集样本无要求，并且在实践的过程也不繁琐，是较好的选择。