公开(公告)号：CN118138750B

公开(公告)日：2024-07-23

申请号：CN202410552334.3

申请日：2024-05-07

申请人： 长春理工大学

发明人： 隋雨含 ,  孙高飞 ,  彭御天 ,  徐达 ,  刘石

IPC分类号： H04N17/00

摘要： 本发明涉及相机工况模拟技术领域，尤其涉及一种地面模拟相机工况的测试系统；包括暗室以及设置在暗室内部的模拟相机、探测器、控制系统、观测目标、太阳模拟器、目标调整系统、杂光抑制系统；杂光抑制系统包括抑制太模光污染机构和消杂光机构，抑制太模光污染机构用于抑制太阳模拟器的光污染，消杂光机构用于吸收二次散射后进入模拟相机视场的杂光；模拟相机与探测器连接，模拟相机用于拍摄观测目标；太阳模拟器用于为暗室提供太阳辐照；目标调整系统与观测目标连接，目标调整系统用于夹持固定观测目标、调整观测目标的直线位置、调整观测目标的角度；本发明可以降低系统内的光污染，提高空间目标模拟的准确度。

公开(公告)号：CN118138750A

公开(公告)日：2024-06-04

申请号：CN202410552334.3

申请日：2024-05-07

申请人： 长春理工大学

发明人： 隋雨含 ,  孙高飞 ,  彭御天 ,  徐达 ,  刘石

IPC分类号： H04N17/00

摘要： 本发明涉及相机工况模拟技术领域，尤其涉及一种地面模拟相机工况的测试系统；包括暗室以及设置在暗室内部的模拟相机、探测器、控制系统、观测目标、太阳模拟器、目标调整系统、杂光抑制系统；杂光抑制系统包括抑制太模光污染机构和消杂光机构，抑制太模光污染机构用于抑制太阳模拟器的光污染，消杂光机构用于吸收二次散射后进入模拟相机视场的杂光；模拟相机与探测器连接，模拟相机用于拍摄观测目标；太阳模拟器用于为暗室提供太阳辐照；目标调整系统与观测目标连接，目标调整系统用于夹持固定观测目标、调整观测目标的直线位置、调整观测目标的角度；本发明可以降低系统内的光污染，提高空间目标模拟的准确度。