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发明公开
一种n×n二维阵列激光损伤测试点的损伤判识方法审中-实审

公开(公告)号：CN115587970A

公开(公告)日：2023-01-10

申请号：CN202211126171.X

申请日：2022-09-16

申请人： 长春理工大学中山研究院

发明人： 王菲 , 张书伟 , 黄一芮 , 李玉瑶 , 王小白 , 吕宣德 , 田明 , 罗宽

IPC分类号： G06T7/00 , G06T7/10 , G06T5/00 , G06T5/10

摘要： 本发明公开了一种n×n二维阵列激光损伤测试点的损伤判识方法，该方法通过定位每个测试点的中心位置，根据测试点阵的间隔对阵列点损伤图像进行分割，将损伤前后的图像经过小波变换和图像分割后进行相关运算来获得相关系数，利用统计学与相衬显微镜相结合的方式确定相关系数的阈值，通过对比相关系数与相关系数的阈值来实现对二维阵列测试点损伤情况的快速判识，显著提高了损伤判识的效率。