一种电缆受潮程度检测方法、装置及设备

    公开(公告)号:CN115046880B

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202210293335.1

    申请日:2022-03-24

    IPC分类号: G01N5/02

    摘要: 本申请实施例公开了一种电缆受潮程度检测方法、装置及设备。获取待检测电缆放置地区的环境特征数据,以确定出相应的电缆受潮程度参考值;基于电缆受潮程度参考值,对电缆受潮检测装置中的氮气加热组件进行温度调节,以及对电缆受潮检测装置中的开关阀组件进行通断调节,使得相应温度与质量的加热氮气进入电缆受潮装置中的密封组件;获取电缆受潮检测装置中的水分测量组件发送的第一重量信息,基于第一重量信息对电缆受潮检测装置进行二次调节,并在待检测电缆中的水分吸收完毕后,得到第二重量信息,以根据第二重量信息确定待检测电缆对应的受潮程度。通过上述方法,能够及时对电缆的损坏程度进行诊断处理。

    一种封闭式电力设备绝缘材料老化状态评估方法及设备

    公开(公告)号:CN114910754B

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202210450813.5

    申请日:2022-04-27

    IPC分类号: G01R31/12 G01N21/25

    摘要: 本发明公开了一种封闭式电力设备绝缘材料老化状态评估方法及设备,属于电力设备绝缘材料检测技术领域,用于解决现有的绝缘材料老化状态评估方法时间成本较高,分析结果不准确的技术问题。方法包括:获取第一绝缘材料沿面放电下的辐射光谱,并将辐射光谱划分为多个辐射光谱带;基于多个辐射光谱带对应的波段范围,确定对应波段范围的多个滤光片;获取第二绝缘材料沿面放电下的光信号,通过多个滤光片将光信号分为多路子光信号,并获取多路子光信号对应的多路光谱数据;计算多路光谱数据中,每路光谱数据的辐射强度比;获取实验绝缘材料的类型以及老化程度,构建绝缘材料光谱数据库;在绝缘材料光谱数据库中确定待测绝缘材料的实际老化程度。

    一种识别电缆老化状态的方法及设备

    公开(公告)号:CN114894738A

    公开(公告)日:2022-08-12

    申请号:CN202210435389.7

    申请日:2022-04-24

    IPC分类号: G01N21/3563 G01N21/64

    摘要: 本申请公开了一种识别电缆老化状态的方法及设备,用以解决以下技术问题:无法准确识别电缆的老化状态。方法包括:对待测电缆进行红外光谱测试,以确定所述待测电缆对应的官能团种类;确定与所述官能团种类对应的荧光探针溶液;通过所述荧光探针溶液对所述待测电缆进行标记,以使所述荧光探针溶液中的荧光探针识别所述待测电缆对应的官能团;对标记后的所述待测电缆进行荧光官能团测试,并基于测试结果,确定所述待测电缆的老化状态。

    一种高压电缆
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112951491B

    公开(公告)日:2022-07-15

    申请号:CN202110124514.8

    申请日:2021-01-29

    摘要: 本申请提供了一种高压电缆,包括线芯和绝缘层,在绝缘层靠近线芯的区域设置有纳孔结构层,纳孔结构的纳孔延伸方向垂直于电缆延伸方向。本申请提供的高压电缆,不设置内半导电屏蔽层,在绝缘层靠近线芯的区域具有纳米级孔径的纳孔结构,能够有效阻止放电的发生,从而大幅度提高电缆的耐击穿场强,提升电缆的电压等级。

    一种可调控击穿场强的高压电缆

    公开(公告)号:CN112951492B

    公开(公告)日:2022-05-17

    申请号:CN202110124853.6

    申请日:2021-01-29

    IPC分类号: H01B7/02 H01B9/02

    摘要: 本申请提供了一种可调控击穿场强的高压电缆,包括线芯和绝缘层,线芯和绝缘层之间不设置内半导电屏蔽层,绝缘层的内界区域具有第一纳孔结构,第一纳孔结构中的纳孔延伸方向垂直于电缆延伸方向。本申请提供的高压电缆,不设置内半导电屏蔽层,而绝缘层上与线芯相对的内界面具有纳米级孔径的纳孔结构,纳孔结构能够有效阻止放电的发生,从而大幅度提高电缆的耐击穿场强,提升电缆的电压等级。

    一种放电通道调控方法
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108459252A

    公开(公告)日:2018-08-28

    申请号:CN201810479958.1

    申请日:2018-05-18

    IPC分类号: G01R31/16

    CPC分类号: G01R31/16

    摘要: 本申请涉及一种放电通道调控方法,属于放电检测领域。所述方法在于将具有纳孔结构的薄膜紧密包裹在针电极上,尤其指包裹在针电极的针脚上,即放电端的外周;主要用于对针电极的放电通道的控制,使得放电方向的调控变得更加准确。

    半导电体电荷发射测试方法及装置

    公开(公告)号:CN107515367B

    公开(公告)日:2024-02-09

    申请号:CN201710816165.X

    申请日:2017-09-12

    IPC分类号: G01R31/26 G01R29/24

    摘要: 本申请涉及一种半导电体电荷发射测试方法及装置,属于发射电荷测试领域。所述方法包括:S1来自电源端的电压加载于第一电极上,然后依次传递至半导电体、试品和第二电极,上述过程形成一个电路回路;所述第一电极2内形成空心区25;S2:持续给装置加载电压,直至达到测试要求时间,断开电源;S3:移走装置,保留试品4;S4:测量所述试品第一区41的电荷。所述装置包括电源端和与其相连的第一电极,所述第一电极内形成空心区,所述第一电极与半导电体相接触,所述半导电体与待测试品相接触,所述试品放置在第二电极上。本申请可测试半导电体是否对试品发射电荷,以便改进或合理利用材料。

    一种硅橡胶紫外老化检测和评价方法

    公开(公告)号:CN115015093A

    公开(公告)日:2022-09-06

    申请号:CN202210510508.0

    申请日:2022-05-11

    IPC分类号: G01N17/00 G06T11/20

    摘要: 本发明提供了一种硅橡胶紫外老化的检测方法,其特征在于,所述检测方法包括:对于某一确定种类的硅橡胶,制备具有准确且彼此不同的紫外老化时间的多个标准样品,针对每个标准样品,构建表面电位衰减函数V(t),根据式1和式2计算得到该标准样品的用所述紫外老化时间标识的陷阱密度Nt对应于陷阱能级Et的曲线,将所有的曲线绘制成系列曲线图;对于所述确定种类的硅橡胶的待测样品,通过所述系列曲线图中与待测样品比对曲线最接近的一条或两条曲线对应的紫外老化时间,确定该待测样品的紫外老化时间。本发明提供了一种针对硅橡胶材料表面进行紫外老化评估的方法,该评价方法更加精确,并且过程简单,易于操作。

    一种电缆老化状态识别方法及设备

    公开(公告)号:CN114894754A

    公开(公告)日:2022-08-12

    申请号:CN202210434412.0

    申请日:2022-04-24

    IPC分类号: G01N21/64

    摘要: 本申请实施例公开了一种电缆老化状态识别方法及设备。对待测电缆的屏蔽层进行炭黑粒子监测,得到待测电缆对应的炭黑粒子分布图像;对炭黑粒子分布图像进行团聚点标注,并对团聚点中不同炭黑粒子之间的距离进行测量,以得到待测电缆对应的炭黑粒子分布数据;其中,炭黑粒子分布数据至少包括标注的团聚点的数量,以及各团聚点中相邻两个炭黑粒子之间的图像距离;根据预先配置的荧光探针溶液对待测电缆对应的官能团进行标记,对标记后的待测电缆进行官能团检测,得到待测电缆对应的荧光分布数据;基于炭黑粒子分布数据与荧光分布数据,确定待测电缆的老化状态。通过上述方法,提高电缆老化状态识别的准确度。