公开(公告)号：CN101501464A

公开(公告)日：2009-08-05

申请号：CN200680010473.3

申请日：2006-02-09

Applicant: 音莱特解决方案有限公司

Inventor： M·里斯·罗宾森 ,  斯蒂芬·J·范斯莱克 ,  克里斯多佛·D·布朗

IPC: G01J3/00 ,  G01J3/28 ,  G01J3/42 ,  G01J3/427 ,  G01N33/48 ,  A61B5/00

CPC classification number: G01N21/49 ,  A61B5/14532 ,  G01N21/274 ,  G01N21/31

Abstract: 一族提高在吸收和散射光的样品中测量的分析物浓度的精确性的新方法。一族自一个或更多光学测量来确定样品中分析物浓度的新颖方法。这些方法提高了在散射和吸收光的材料样品中的分析物确定的精确性。这些方法可以测量具有不同于用于校准方法的样品的光学性质的新样品。这样克服了将现有方法用于很多实际应用中的已知限制，在实际应用中，现有方法对于校准组呈现好的性能，但是对于需要外插或者内插的新样品类型呈现差的性能。这些新方法还克服了将基于比尔定律的线性预计方法应用至跨越了光学测量范围的样品或者样品性质违反其固有假设的样品的限制。