公开(公告)号：CN108885578B

公开(公告)日：2021-09-10

申请号：CN201780017205.2

申请日：2017-03-03

申请人： 高通股份有限公司

发明人： S·T·巴特曼斯 ,  Z·扎伊迪

IPC分类号： G06F11/34

摘要： 用于分析处理系统的性能的系统及方法是基于位于所述处理系统的选定节点处的跟踪点中所提供的性能计数器。如果在第一跟踪点处通过性能计数器检测事务超过阈值次数，那么在所述第一跟踪点处将待监测的第一事务识别为待监测的事务。第一跟踪标记识别符在所述第一跟踪点处与所述第一事务相关联。基于所述第一跟踪标记识别符在一或多个其它跟踪点处识别所述第一事务。基于在所述跟踪点处识别所述第一事务的时戳，从各种跟踪点获得例如所述第一事务的跟踪信息、时延、消耗装置的位置等信息。

公开(公告)号：CN108885578A

公开(公告)日：2018-11-23

申请号：CN201780017205.2

申请日：2017-03-03

申请人： 高通股份有限公司

发明人： S·T·巴特曼斯 ,  Z·扎伊迪

IPC分类号： G06F11/34

CPC分类号： G06F11/3636 ,  G06F9/466 ,  G06F11/3409 ,  G06F11/3466 ,  G06F11/3495 ,  G06F11/36 ,  G06F2201/835 ,  G06F2201/87

摘要： 用于分析处理系统的性能的系统及方法是基于位于所述处理系统的选定节点处的跟踪点中所提供的性能计数器。如果在第一跟踪点处通过性能计数器检测事务超过阈值次数，那么在所述第一跟踪点处将待监测的第一事务识别为待监测的事务。第一跟踪标记识别符在所述第一跟踪点处与所述第一事务相关联。基于所述第一跟踪标记识别符在一或多个其它跟踪点处识别所述第一事务。基于在所述跟踪点处识别所述第一事务的时戳，从各种跟踪点获得例如所述第一事务的跟踪信息、时延、消耗装置的位置等信息。