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公开(公告)号:CN103515855A
公开(公告)日:2014-01-15
申请号:CN201310243354.4
申请日:2013-06-19
IPC分类号: H02B13/045 , H02B13/055
CPC分类号: H02B1/56 , H02B13/0356 , H02B13/045 , H02B13/055 , H02G5/063 , H02G5/10
摘要: 本公开涉及具有气体通道系统的气体绝缘电气设备及其操作方法。气体绝缘电气设备(1)包括:壳体(10);高压组件(20),设置在壳体(10)中,并且适合于施加高电压;以及气体通道系统(30),具有与壳体(10)进行气体流通的气体通道(31)、通道入口(32)和通道出口(34)。壳体(10)和气体通道系统(30)形成其中包含绝缘气体的气体包含容积,并且限定闭环,从而允许绝缘气体通过壳体(10)和气体通道系统(30)沿闭环进行循环。
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公开(公告)号:CN106537119A
公开(公告)日:2017-03-22
申请号:CN201580041752.5
申请日:2015-06-01
申请人: ABB研究有限公司
摘要: 本发明涉及在泡沫浮选过程中包括的泡沫浮选物质(10)的参数的光学测量方法,所述泡沫浮选物质(10)具有收集剂分子,所述方法包括以下步骤:以预定量将指示剂分子添加到泡沫浮选物质(10),其中所述指示剂分子适于特异性结合到所述收集剂分子,所述结合包括所述指示剂分子的光学吸收光谱的可检测变化;其后借助于测量光测量所述光学吸收光谱;和其后由所述指示剂分子的光学吸收光谱的测量部分测定所述泡沫浮选物质(10)中的残留收集剂分子的量或浓度。而且,本发明涉及所述泡沫浮选物质(10)本身,涉及用于执行所述方法的系统(1),且涉及所述方法和系统用于控制所述泡沫浮选过程的用途,例如,通过将收集剂分子添加到所述泡沫浮选物质(10)。
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公开(公告)号:CN103562708A
公开(公告)日:2014-02-05
申请号:CN201180071451.9
申请日:2011-04-08
申请人: ABB研究有限公司
摘要: 用于光学测量测试介质(4)的至少一个性质的分析仪器(1)包括:光源(20);光管理单元(22),用于将由所述光源(20)发射的光引导通过所述测试介质(4)中的检测空间(30);光检测单元(24),用于检测由测试介质(4)散射、反射或传送的所述光的至少一部分;功率管理单元(13);以及数据管理单元(28)。分析仪器(1)经由源布线(7)而耦合于功率源(10)。所述功率管理单元(13)经由缓冲器布线(18)而使来自功率源(10)的能量分配到所述光源(20),并且经由另外的布线(9,11)而分配到所述光检测单元(24)和所述数据管理单元(28)。数据管理单元(28)适应于经由信号布线(11)而与所述光检测单元(24)以及与接收单元(19)交换测量数据,其中所述分析仪器(1)适应于在潜在危险的环境(5)中操作。
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公开(公告)号:CN105264352A
公开(公告)日:2016-01-20
申请号:CN201380077200.0
申请日:2013-06-06
申请人: ABB技术有限公司
IPC分类号: G01M3/32 , H01H33/56 , H02B1/26 , G01N33/26 , H02B13/035
CPC分类号: G01M3/3263 , G01K3/06 , G01K7/427 , H01H33/563 , H02B13/0655
摘要: 用于确定可封闭容器(1)中的流体的平均温度的方法包括:提供具有第一开口(11a)和第二开口(11b)的管道(4),将阻流元件(7)定位在管道(4)中,将密度传感器(3)或第一压力传感器(3)定位在管道(4)或容器(1)的内部,将管道(4)附连到容器外壁上,使管道壁(10)的温度稳定为恒定基准值,确定阻流元件(7)的一侧上的流体的第一压力和另一侧上的流体的第二压力之间的差,用密度传感器(3)测量流体的局部密度,以及/或者用第一压力传感器(3)测量局部压力,并且根据局部压差、局部密度和基准管道温度得出平均温度。
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公开(公告)号:CN103988075A
公开(公告)日:2014-08-13
申请号:CN201280061653.X
申请日:2012-12-12
申请人: ABB技术有限公司
IPC分类号: G01N33/00 , H02B13/065
CPC分类号: H02B13/0655 , G01N33/0027 , G01N33/0032 , H01H2033/566
摘要: 本发明公开了用于操作流体绝缘电设备(1)的方法和装置。电设备(1)的绝缘流体(10)包含至少两种组分(A,B)。该方法包括通过由传感器(30)测量至少三个测量变量(ρ,p,T)确定绝缘流体(10)的物理状态的步骤。该方法进一步包括导出指示测量变量(例如,ρ、p、T)和/或特征变量(例如,p/T、pA/pB、pA/T、pB/T)随时间变化的趋势变量的步骤。这些特征变量(p/T、pA/pB、pA/T、pB/T)用相关方程(例如,状态方程)从测量变量(ρ、p、T)导出,也指示绝缘流体(10)的物理状态。通过试验趋势变量的特定模式,确定电设备(1)的操作状态(O,F1,F2)。可能的操作状态(O,F1,F2)对应于电设备(1)的特定和可区分的非故障和故障情况。因此,操作状态可区分,并且使故障情况下的故障检修简化。
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公开(公告)号:CN104756217A
公开(公告)日:2015-07-01
申请号:CN201380057447.6
申请日:2013-09-04
申请人: ABB技术有限公司
CPC分类号: H01H33/563 , G01N21/31 , G01N21/3577 , G01N21/64 , H01H33/22 , G01N21/3504 , G01N21/33 , G01N21/3581
摘要: 公开用于操作流体绝缘电气设备(1)的方法和装置。电气设备(1)的绝缘流体(10)包括至少两个流体成分(A,B),其是绝缘流体(10)的先验组分。该方法包括对绝缘流体(10)执行至少一个光学测量和/或至少一个气体色谱测量的步骤。使用对绝缘流体(10)的这个测量或者这些测量或者至少一个附加测量,得出第一流体成分(A)的第一浓度(cA)和第二流体成分(B)的第二浓度(cB)。然后,使用第一浓度(cA)和第二浓度(cB)以及有利的绝缘流体(10)的介电击穿强度Ebd,来得出电气设备(1)的操作状态(O)。
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公开(公告)号:CN104813415A
公开(公告)日:2015-07-29
申请号:CN201380063694.7
申请日:2013-10-07
申请人: ABB技术有限公司
IPC分类号: H01B3/56
CPC分类号: H02B13/055 , H01B3/56 , H01H2033/566 , H02B13/045
摘要: 本发明涉及一种用于生成、分配或使用电能的设备,所述设备包括包围绝缘空间的壳体和布置在绝缘空间中的电气构件。绝缘空间容纳包括有机氟化合物A的介电绝缘气体。设备还包括布置成以便与绝缘气体接触的分子筛。分子筛具有大于在设备的操作期间生成的有机氟化合物A的至少一种分解产物的分子大小的平均空隙大小y。分子筛对于有机氟化合物A的吸附能力低于对于至少一种分解产物的。根据本发明,设备还包括布置成以便与绝缘气体接触的至少一种干燥剂。
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公开(公告)号:CN104755910A
公开(公告)日:2015-07-01
申请号:CN201380057418.X
申请日:2013-09-04
申请人: ABB技术有限公司
IPC分类号: G01N21/3504 , G01N21/31 , G01N21/33 , G01N21/3581
CPC分类号: G01N15/06 , E04H5/02 , G01N21/31 , G01N21/33 , G01N21/3504 , G01N21/3581 , G01N2015/0693 , H01H33/563
摘要: 用于确定包含至少一个高压电气设备(401A,401B;401,411,421,431;441,451,461,471)并且在无需修改房间条件的情况下是人可进入的房间(4;40-47)中的介电绝缘流体、例如全氟酮(PFK)的浓度的监测装置(11-24,211),例如房间(4;40-47)是空气绝缘变电站的一部分,其中监测系统(11-24,211)包括一个或多个传感器(11,21,12,22,13,23,211),用于在电磁波谱的至少一个波长或波带来确定介电绝缘流体分子(PFK)的发射和/或吸收。
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公开(公告)号:CN104204792A
公开(公告)日:2014-12-10
申请号:CN201280071933.9
申请日:2012-01-27
申请人: ABB技术有限公司
IPC分类号: G01N29/02 , G01N29/036 , G01N29/44 , G01N9/00
CPC分类号: G01N29/036 , G01N9/002 , G01N9/34 , G01N11/16 , G01N29/022 , G01N29/4472 , G01N2009/006 , G01N2291/02818 , G01N2291/0427
摘要: 公开了一种用于估算表示真实密度ρ的密度值ρm或用于估算表示流体(F)的真实粘度η的粘度值ηm的方法和装置(1)。为此,测量位于基准空间(RV)中的第一机械振荡器(10)的第一谐振频率fR以及与流体(F)接触的第二机械振荡器(20)的第二谐振频率fF。然后使用这些谐振频率fR和fF推导出估算值ρm或ηm。在这个推导期间,使用了流体(F)的至少一个依赖于流体温度的或依赖于流体压力的参数。另外或作为备选,第一(即基准)机械振荡器设置成与基准流体(R)相接触。因而,减少推导估算值ρm或ηm中的基本误差,并使估算值变得更为可靠。
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公开(公告)号:CN104204792B
公开(公告)日:2017-07-25
申请号:CN201280071933.9
申请日:2012-01-27
申请人: ABB 技术有限公司
IPC分类号: G01N29/02 , G01N29/036 , G01N29/44 , G01N9/00
CPC分类号: G01N29/036 , G01N9/002 , G01N9/34 , G01N11/16 , G01N29/022 , G01N29/4472 , G01N2009/006 , G01N2291/02818 , G01N2291/0427
摘要: 公开了一种用于估算表示真实密度ρ的密度值ρm或用于估算表示流体(F)的真实粘度η的粘度值ηm的方法和装置(1)。为此,测量位于基准空间(RV)中的第一机械振荡器(10)的第一谐振频率fR以及与流体(F)接触的第二机械振荡器(20)的第二谐振频率fF。然后使用这些谐振频率fR和fF推导出估算值ρm或ηm。在这个推导期间,使用了流体(F)的至少一个依赖于流体温度的或依赖于流体压力的参数。另外或作为备选,第一(即基准)机械振荡器设置成与基准流体(R)相接触。因而,减少推导估算值ρm或ηm中的基本误差,并使估算值变得更为可靠。
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