用于Z轴跟踪和校准的方法和设备

    公开(公告)号:CN1612039A

    公开(公告)日:2005-05-04

    申请号:CN200410090533.X

    申请日:2004-10-29

    IPC分类号: G03B42/02 A61B6/03

    摘要: 一种用于在具有z轴的计算机断层扫描(CT)成像系统(10)的扫描过程中调整焦斑(246)位置的方法。CT成像系统包括具有多个检测器元件(20)的检测器阵列(18)以及配置成把x射线束(16)通过待成像对象(22)引向检测器的x射线管(14)。该方法包括接通(406)x射线管并从检测器中读取(408)z比值。然后利用所读取的z比值来确定(410)x射线管的焦斑位置的位移。该方法还包括采用传递函数来确定(412)补偿电子偏转值;以及把电子偏转值应用于(414)x射线管作为偏转电压或偏转电流中至少一个,从而在z轴方向跟踪焦斑。

    用于Z轴跟踪和校准的方法和设备

    公开(公告)号:CN100580547C

    公开(公告)日:2010-01-13

    申请号:CN200410090533.X

    申请日:2004-10-29

    IPC分类号: G03B42/02 A61B6/03

    摘要: 一种用于在具有z轴的计算机断层扫描(CT)成像系统(10)的扫描过程中调整焦斑(246)位置的方法。CT成像系统包括具有多个检测器元件(20)的检测器阵列(18)以及配置成把x射线束(16)通过待成像对象(22)引向检测器的x射线管(14)。该方法包括接通(406)x射线管并从检测器中读取(408)z比值。然后利用所读取的z比值来确定(410)x射线管的焦斑位置的位移。该方法还包括采用传递函数来确定(412)补偿电子偏转值;以及把电子偏转值应用于(414)x射线管作为偏转电压或偏转电流中至少一个,从而在z轴方向跟踪焦斑。