公开(公告)号：CN1761866B

公开(公告)日：2011-07-20

申请号：CN200480007427.9

申请日：2004-03-17

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 金真弘 ,  徐勋 ,  李昌镐 ,  郑台熙 ,  郭锦哲 ,  李承远

IPC: G01N3/46

CPC classification number: G01N3/46 ,  G01N3/56

Abstract: 公开了一种用于测试光盘(20)的耐用性的装置和方法，由此提高了测试的可靠性。该方法包括将光盘(20)固定在旋转盘(10)上，并且随同旋转盘(10)一起旋转光盘(20)，提供预定的压力给划痕(31)，同时该光盘(20)旋转预定数量的旋转圈数，以便由于与划痕器(31)接触而在光盘(20)的表面上产生划痕，和基于在光盘(20)的表面上产生的划痕确定光盘(20)的耐用性。

公开(公告)号：CN1761866A

公开(公告)日：2006-04-19

申请号：CN200480007427.9

申请日：2004-03-17

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 金真弘 ,  徐勋 ,  李昌镐 ,  郑台熙 ,  郭锦哲 ,  李承远

IPC: G01N3/46

CPC classification number: G01N3/46 ,  G01N3/56

Abstract: 公开了一种用于测试光盘(20)的耐用性的装置和方法，由此提高了测试的可靠性。该方法包括将光盘(20)固定在旋转盘(10)上，并且随同旋转盘(10)一起旋转光盘(20)，提供预定的压力给划痕(31)，同时该光盘(20)旋转预定数量的旋转圈数，以便由于与划痕器(31)接触而在光盘(20)的表面上产生划痕，和基于在光盘(20)的表面上产生的划痕确定光盘(20)的耐用性。

公开(公告)号：CN101701889A

公开(公告)日：2010-05-05

申请号：CN200910158737.5

申请日：2003-07-31

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 徐勋 ,  金真弘 ,  李昌镐 ,  郑台熙 ,  郭锦哲

IPC: G01N3/56 ,  G01N3/46

CPC classification number: G01N3/46 ,  G01N3/56 ,  G11B7/268

Abstract: 本发明涉及测试光盘表面机械耐性的设备。该设备包括装载待划光盘的转盘，用来旋转所装载的光盘；和多个磨轮，用于与光盘相接触并产生划痕，当磨轮向光盘上施加预定的载荷时，在光盘旋转五圈的期间产生划痕，其中所述设备判断光盘是否具有预定的耐性。本发明还涉及利用所述设备进行测试的方法。

公开(公告)号：CN1695051A

公开(公告)日：2005-11-09

申请号：CN03824793.3

申请日：2003-07-31

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 徐勋 ,  金真弘 ,  李昌镐 ,  郑台熙 ,  郭锦哲

IPC: G01N3/56 ,  G01N3/42

CPC classification number: G01N3/46 ,  G01N3/56 ,  G11B7/268

Abstract: 本发明公布了测试光盘表面机械耐性的方法和设备。本发明的设备包括固定待划光盘的转盘，用来旋转光盘，以及多个被垂直于转盘设置的磨轮，它们与光盘相接触并产生划痕。在磨轮向光盘施加预定的载荷的同时光盘旋转低于5圈，划痕就产生了。