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公开(公告)号:CN108627081B
公开(公告)日:2021-01-08
申请号:CN201810095069.5
申请日:2018-01-31
Applicant: TDK株式会社
IPC: G01B7/30
Abstract: 本发明涉及角度传感器以及角度传感器系统。角度传感器具备多个检测部和角度运算部。多个检测部在互相不同的检测位置上检测检测对象磁场与噪声磁场的合成磁场。各个检测部生成表示合成磁场的第1方向的成分的强度的第1检测信号、表示合成磁场的第2方向的成分的强度的第2检测信号。角度运算部以与只根据在多个检测部中的任意1个中被生成的一对第1以及第2检测信号而生成角度检测值的情况相比,起因于噪声磁场的角度检测值的误差被减少的方式进行使用了在多个检测部中被生成的多对第1以及第2检测信号的运算,并生成角度检测值。
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公开(公告)号:CN107870002B
公开(公告)日:2021-03-16
申请号:CN201710883449.0
申请日:2017-09-26
Applicant: TDK株式会社
Abstract: 本发明涉及角度传感器以及角度传感器系统。角度传感器具备多个合成磁场信息生成部、角度运算部。多个合成磁场信息生成部在多个检测位置上检测检测对象磁场和除此之外的噪声磁场的合成磁场,并生成包含合成磁场的方向的信息的多个合成磁场信息。角度运算部以与只根据多个合成磁场信息中的任意1个而生成角度检测值的情况相比,起因于噪声磁场的角度检测值的误差被减少的方式进行使用了多个合成磁场信息的运算,从而生成角度检测值。
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公开(公告)号:CN107870002A
公开(公告)日:2018-04-03
申请号:CN201710883449.0
申请日:2017-09-26
Applicant: TDK株式会社
Abstract: 本发明涉及角度传感器以及角度传感器系统。角度传感器具备多个合成磁场信息生成部、角度运算部。多个合成磁场信息生成部在多个检测位置上检测检测对象磁场和除此之外的噪声磁场的合成磁场,并生成包含合成磁场的方向的信息的多个合成磁场信息。角度运算部以与只根据多个合成磁场信息中的任意1个而生成角度检测值的情况相比,起因于噪声磁场的角度检测值的误差被减少的方式进行使用了多个合成磁场信息的运算,从而生成角度检测值。
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公开(公告)号:CN108225381B
公开(公告)日:2021-01-12
申请号:CN201711292795.8
申请日:2017-12-08
Applicant: TDK株式会社
IPC: G01D5/12
Abstract: 本发明涉及角度传感器以及角度传感器系统。角度传感器具备多个合成磁场信息生成部、角度运算部。多个合成磁场信息生成部在互相不同的多个检测位置上检测检测对象磁场与除此之外的噪声磁场的合成磁场并且生成包含合成磁场的方向和强度中的至少方向的信息的多个合成磁场信息。在多个检测位置的各个上,检测对象磁场的方向对应于检测对象的角度进行变化。角度运算部根据多个合成磁场信息并使用最小二乘法来生成角度检测值。
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公开(公告)号:CN108627081A
公开(公告)日:2018-10-09
申请号:CN201810095069.5
申请日:2018-01-31
Applicant: TDK株式会社
IPC: G01B7/30
Abstract: 本发明涉及角度传感器以及角度传感器系统。角度传感器具备多个检测部和角度运算部。多个检测部在互相不同的检测位置上检测检测对象磁场与噪声磁场的合成磁场。各个检测部生成表示合成磁场的第1方向的成分的强度的第1检测信号、表示合成磁场的第2方向的成分的强度的第2检测信号。角度运算部以与只根据在多个检测部中的任意1个中被生成的一对第1以及第2检测信号而生成角度检测值的情况相比,起因于噪声磁场的角度检测值的误差被减少的方式进行使用了在多个检测部中被生成的多对第1以及第2检测信号的运算,并生成角度检测值。
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公开(公告)号:CN108225381A
公开(公告)日:2018-06-29
申请号:CN201711292795.8
申请日:2017-12-08
Applicant: TDK株式会社
IPC: G01D5/12
Abstract: 本发明涉及角度传感器以及角度传感器系统。角度传感器具备多个合成磁场信息生成部、角度运算部。多个合成磁场信息生成部在互相不同的多个检测位置上检测检测对象磁场与除此之外的噪声磁场的合成磁场并且生成包含合成磁场的方向和强度中的至少方向的信息的多个合成磁场信息。在多个检测位置的各个上,检测对象磁场的方向对应于检测对象的角度进行变化。角度运算部根据多个合成磁场信息并使用最小二乘法来生成角度检测值。
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