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公开(公告)号：CN104344899A
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：CN201410364900.4
申请日：2014-07-28
申请人： ULIS股份公司
IPC分类号： G01J5/20
CPC分类号： G01J5/20 , G01J5/22 , G01J2005/0048
摘要： 本发明提供一种热辐射检测阵列的缺陷状态的诊断方法和设备。其用于诊断热辐射检测器的信号形成用链的缺陷状态的方法，检测器包括热辐射计的阵列，其中各链包括热辐射计、链的电气刺激电路和根据所施加的刺激来形成信号的电路，方法包括在阵列上形成大致均匀场景的图像；向链应用至少不同的第一刺激和第二刺激；读取所形成的信号；以及对于各链，定义由具有与热辐射计相邻的热辐射计形成的邻域；计算对由该链形成的信号的值插值的多项式的系数；计算对由相邻链形成的信号的值进行插值的多项式的系数；计算相邻链或由相邻链和该链形成的组的系数平均值和标准偏差；以及在系数的值在根据平均值和标准偏差所定义的余量外的情况下，诊断为该链有缺陷。
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公开(公告)号：CN103292908B
公开(公告)日：2017-03-01
申请号：CN201310055537.3
申请日：2013-02-21
申请人： ULIS股份公司
发明人： 阿兰·杜兰德 , 米歇尔·维兰 , 克里斯托夫·米纳西安
IPC分类号： G01J5/20
CPC分类号： G01J5/24 , G01J5/22 , G01J2005/0048 , H04N5/33
摘要： 公开了一种用于校正包括阻性成像辐射热计阵列的红外辐射探测器的漂移的方法和实现这种方法的设备。该方法通过校正辐射热计网膜的辐射热计探测器的阻抗性辐射热计的效应离差来校正增益表。该方法包括：从对应于基本上温度均匀的场景的网膜获取读取信号；根据关系式 计算校正表g；以及根据关系式 校正增益表；其中：(i,j)表示网膜和表中的辐射热计的坐标；Gref和Gshut分别是校正之前和校正之后的增益表；Rac_shut(i,j)和Rac_ref(i,j)是在获取信号时和在先前时间时辐射热计(i,j)的阻抗值；TCRshut(i,j)和TCRref(i,j)是在获取信号时和在先前时间时辐射热计(i,j)的温度变化系数值；N是用于归一化增益表Gshut的标量因数。
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公开(公告)号：CN104344899B
公开(公告)日：2018-09-07
申请号：CN201410364900.4
申请日：2014-07-28
申请人： ULIS股份公司
IPC分类号： G01J5/20
CPC分类号： G01J5/20 , G01J5/22 , G01J2005/0048
摘要： 本发明提供一种热辐射检测阵列的缺陷状态的诊断方法和设备。其用于诊断热辐射检测器的信号形成用链的缺陷状态的方法，检测器包括热辐射计的阵列，其中各链包括热辐射计、链的电气刺激电路和根据所施加的刺激来形成信号的电路，方法包括在阵列上形成大致均匀场景的图像；向链应用至少不同的第一刺激和第二刺激；读取所形成的信号；以及对于各链，定义由具有与热辐射计相邻的热辐射计形成的邻域；计算对由该链形成的信号的值插值的多项式的系数；计算对由相邻链形成的信号的值进行插值的多项式的系数；计算相邻链或由相邻链和该链形成的组的系数平均值和标准偏差；以及在系数的值在根据平均值和标准偏差所定义的余量外的情况下，诊断为该链有缺陷。
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公开(公告)号：CN103292908A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310055537.3
申请日：2013-02-21
申请人： ULIS股份公司
发明人： 阿兰·杜兰德 , 米歇尔·维兰 , 克里斯托夫·米纳西安
IPC分类号： G01J5/20
CPC分类号： G01J5/24 , G01J5/22 , G01J2005/0048 , H04N5/33
摘要： 公开了一种用于校正包括阻性成像辐射热计阵列的红外辐射探测器的漂移的方法和实现这种方法的设备。该方法通过校正辐射热计网膜的辐射热计探测器的阻抗性辐射热计的效应离差来校正增益表。该方法包括：从对应于基本上温度均匀的场景的网膜获取读取信号；根据关系式计算校正表g；以及根据关系式校正增益表；其中：(i,j)表示网膜和表中的辐射热计的坐标；Gref和Gshut分别是校正之前和校正之后的增益表；Rac_shut(i,j)和Rac_ref(i,j)是在获取信号时和在先前时间时辐射热计(i,j)的阻抗值；TCRshut(i,j)和TCRref(i,j)是在获取信号时和在先前时间时辐射热计(i,j)的温度变化系数值；N是用于归一化增益表Gshut的标量因数。
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