用于测量相元件参数和光纤色散的设备及用于测量相元件参数和光纤色散的方法

    公开(公告)号:CN108431544A

    公开(公告)日:2018-08-21

    申请号:CN201580084639.5

    申请日:2015-11-30

    摘要: 一用于测量相元件参数和光纤色散的设备,其特征在于,包括:至少一光源,串联连接至至少一光纤耦合器,光纤耦合器的一端构成了参考端的一部分,其第二端构成了设备测量端的一部分;以及至少一电动直线平台安装于所述设备的至少一端上;且该设备的至少一端直接连接一检测器,或者通过一额外光纤耦合器与至少一检测器连接;且至少一准直器至少放置在该设备的端上,至少在相元件之前。一用于测量相元件参数和光纤色散的方法,采用上述设备,该方法为两阶段的,其中第一阶段假定依据本发明设备校准,且第二阶段为合适测量阶段;其特征在于,在依据本发明设备的校准期间,来自低相干光源(1.1)的光线指向光纤耦合器(2.1),光纤耦合器(2.1)内被分隔为两端:测量端和参考端;之后电动直线平台(6)移动,电动直线平台记录其位置信息,直到获得位置信息与光纤耦合器端之间的光路径两者零差异,干涉图由光电检测器,尤其是光电二极管,在时间延迟中收集形成;之后设备被校准,系统继续执行合适测量,在合适测量内,相元件尤其是用于测量的透镜,被插入依据本发明设备的测量端内的准直器(3.1)和(3.2)之间;之后滑动电动直线平台,确定与光路径之间零差异的电动直线平台位置;相元件的厚度在基于校准和合适测量中等效光学路径的不同位置而被确定,并依赖于制成透镜的玻璃的折射率知识。