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公开(公告)号：CN104540603B
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201380042583.8
申请日：2013-08-16
申请人： 陶朗分选有限公司
IPC分类号： B07C5/344
摘要： 本发明涉及一种用于根据物体的电磁特性而分析物体(3)的方法，例如用于对物体进行分析并将物体分选为非金属物体和金属物体。该方法包括下列步骤：传送步骤(813)，在传送带(1)上传送待分析物体(3)；扫描步骤(S14)，通过电磁传感器(9)扫描物体(3)和传送带(1)的电磁特性，其中，传送带(1)的电磁特性取决于粘附在传送带(1)上的金属性污染物(19)；生成步骤，生成表示传送带(1)的电磁特性的带特性数据；以及分析步骤，根据所述扫描的电磁特性并且根据带特性数据分析物体(3)。这具有的优点在于，当对污染的金属物体与非金属物体进行区分时考虑到了传送带(1)的电磁特性，也就是考虑了粘附在传送带(1)上的金属性污染物(19)的影响。这样，经过一段时间后粘附在传送带(1)上的物体(3)对分选的影响较小，这能够改善分选的结果。此外，本发明涉及一种用于执行这种方法的设备。
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公开(公告)号：CN104067109B
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201380006071.6
申请日：2013-01-24
申请人： 陶朗分选有限公司
IPC分类号： G01N21/84
CPC分类号： G01N21/55 , G01N21/84 , G01N2021/845 , G01N2201/105 , G02B26/105
摘要： 本发明涉及一种用于检测物品的装置(10)，该装置包括：第一光源(14a)，该第一光源适于发射第一光束(16a)；第二光源(14b)，该第二光源适于发射第二光束(16b)，其中，该装置布置成使得第一光束与第二光束朝向扫描元件(20)汇聚，该扫描元件例如为旋转多边形镜；扫描元件，该扫描元件适于使汇聚的第一光束以及第二光束朝向待检测的物品改变方向；以及检测器(26)，该检测器适于接收物品通过扫描元件反射的光(38)。
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公开(公告)号：CN104540603A
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201380042583.8
申请日：2013-08-16
申请人： 陶朗分选有限公司
IPC分类号： B07C5/344
摘要： 本发明涉及一种用于根据物体的电磁特性而分析物体(3)的方法，例如用于对物体进行分析并将物体分选为非金属物体和金属物体。该方法包括下列步骤：传送步骤(813)，在传送带(1)上传送待分析物体(3)；扫描步骤(S14)，通过电磁传感器(9)扫描物体(3)和传送带(1)的电磁特性，其中，传送带(1)的电磁特性取决于粘附在传送带(1)上的金属性污染物(19)；生成步骤，生成表示传送带(1)的电磁特性的带特性数据；以及分析步骤，根据所述扫描的电磁特性并且根据带特性数据分析物体(3)。这具有的优点在于，当对污染的金属物体与非金属物体进行区分时考虑到了传送带(1)的电磁特性，也就是考虑了粘附在传送带(1)上的金属性污染物(19)的影响。这样，经过一段时间后粘附在传送带(1)上的物体(3)对分选的影响较小，这能够改善分选的结果。此外，本发明涉及一种用于执行这种方法的设备。
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公开(公告)号：CN104067109A
公开(公告)日：2014-09-24
申请号：CN201380006071.6
申请日：2013-01-24
申请人： 陶朗分选有限公司
IPC分类号： G01N21/84
CPC分类号： G01N21/55 , G01N21/84 , G01N2021/845 , G01N2201/105 , G02B26/105
摘要： 本发明涉及一种用于检测物品的装置(10)，该装置包括：第一光源(14a)，该第一光源适于发射第一光束(16a)；第二光源(14b)，该第二光源适于发射第二光束(16b)，其中，该装置布置成使得第一光束与第二光束朝向扫描元件(20)汇聚，该扫描元件例如为旋转多边形镜；扫描元件，该扫描元件适于使汇聚的第一光束以及第二光束朝向待检测的物品改变方向；以及检测器(26)，该检测器适于接收物品通过扫描元件反射的光(38)。
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公开(公告)号：CN103180717A
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201180046188.8
申请日：2011-09-19
申请人： 陶朗分选有限公司
CPC分类号： G01N21/4738 , G01N21/278 , G01N21/4785 , G01N21/49 , G01N21/85 , G02B26/124
摘要： 本发明涉及一种用于检查物质（12）的设备（10），所述设备包括：发射装置（14），其适合于发射辐射；止挡部件（20），其适合于阻挡发射装置所发射的辐射中的一些辐射（16a）；扫描装置（26），其适合于将止挡部件所产生的暗区（24）投射在物质上，并且适合于朝着所述物质重新引导已经穿过止挡部件的辐射（16b），其中，重新引导的辐射中的至少一些散射在物质内并且作为散射辐射（42）从物质中穿出；以及检测装置（34），其适合于通过扫描装置接收或检测散射辐射，其中，所述检测装置的视场（36）与投射的暗区（24）一致。本发明也涉及一种相应的方法。
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公开(公告)号：CN103180717B
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201180046188.8
申请日：2011-09-19
申请人： 陶朗分选有限公司
CPC分类号： G01N21/4738 , G01N21/278 , G01N21/4785 , G01N21/49 , G01N21/85 , G02B26/124
摘要： 本发明涉及一种用于检查物质（12）的设备（10），所述设备包括：发射装置（14），其适合于发射辐射；止挡部件（20），其适合于阻挡发射装置所发射的辐射中的一些辐射（16a）；扫描装置（26），其适合于将止挡部件所产生的暗区（24）投射在物质上，并且适合于朝着所述物质重新引导已经穿过止挡部件的辐射（16b），其中，重新引导的辐射中的至少一些散射在物质内并且作为散射辐射（42）从物质中穿出；以及检测装置（34），其适合于通过扫描装置接收或检测散射辐射，其中，所述检测装置的视场（36）与投射的暗区（24）一致。本发明也涉及一种相应的方法。
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