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公开(公告)号:CN108027319A
公开(公告)日:2018-05-11
申请号:CN201580082742.6
申请日:2015-08-28
申请人: 于尔根·马克斯
发明人: 于尔根·马克斯 , 海因里希·亚历山大·埃贝尔
IPC分类号: G01N21/3563 , A61B5/1172 , G01S17/89 , G01B11/24 , G01N21/47 , G01N21/84
CPC分类号: A61B5/1032 , A61B5/0077 , A61B5/1172 , A61B5/1455 , A61B5/441 , A61B5/6826 , A61B2562/0238 , A61B2576/00 , G01B11/24 , G01N21/3563 , G01N21/4738 , G01N21/8422 , G01N2201/06113 , G01N2201/105 , G01N2201/12 , G01S7/4802 , G01S7/4817 , G01S17/023 , G01S17/42 , G01S17/89 , H04N3/09 , H04N5/2256 , H04N5/33
摘要: 一种用于借助于扫描装置(2)检测试样的表面结构和特性的方法,所述方法尤其用于检测通过人体皮肤的接触在物件表面上引起的或借助于痕迹载体记录的痕迹,其中试样(P)和扫描装置(2)相对于彼此运动,在所述方法中,借助由扫描装置(2)发出的光束或激光束(L)逐行地照射试样表面,检测由试样表面反射的光束或激光束(R),并且从反射的光束或激光束(R)与发出的光束或激光束(L)的偏差中产生反射的光束或激光束(R)的强度的和试样表面的形貌的数字图像,以示出试样表面的特性。
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公开(公告)号:CN103733049B
公开(公告)日:2016-01-20
申请号:CN201280039905.9
申请日:2012-07-11
申请人: 奥林巴斯株式会社
IPC分类号: G01N21/64
CPC分类号: G01N21/64 , G01N15/14 , G01N15/1429 , G01N15/1434 , G01N21/51 , G01N21/6408 , G01N21/645 , G01N21/6452 , G01N21/6458 , G01N21/6486 , G01N2021/6419 , G01N2021/6441 , G01N2201/103 , G01N2201/105 , G02B21/0032 , G02B21/0076 , G02B21/008
摘要: 提供了在使用共焦显微镜或多光子显微镜检测样本溶液中的发光粒子的光的扫描分子计数法中能够以尽可能地降低将同一发光粒子检测为不同的粒子的可能性且尽可能地使光检测区域的尺寸、形状不变的方式使光检测区域沿着更广的区域或更长距离的路径移动来进行样本溶液内的扫描的光分析技术。在本发明的光分析技术中,在使光检测区域的位置在样本溶液内沿着第二路径移动的期间进行来自光检测区域的光的检测和按时间序列的光强度数据的生成,使用按时间序列的光强度数据逐个检测表示来自存在于规定路径内的各发光粒子的光的信号,其中,该第二路径的位置沿着第一路径移动。
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公开(公告)号:CN101802592B
公开(公告)日:2013-01-09
申请号:CN200880103517.6
申请日:2008-08-13
申请人: 韩国生命工学研究院
IPC分类号: G01N21/25
CPC分类号: G01N21/553 , G01N21/7743 , G01N2201/0636 , G01N2201/105 , G02B5/008
摘要: 本发明公开了一种具有旋转镜的表面等离子共振传感器,包括(a)用于振荡作为入射光的激光的入射光源单元;(b)使所述入射光偏振的偏振器;(c)用于反射所述偏振入射光以散发成盘状光的圆柱状或平面状的旋转镜;(d)允许所述盘状光部分地穿过、且位于所述旋转镜的中心轴线的附近的遮光膜;(e)用于将穿过所述遮光膜的所述光聚焦在其上的圆柱状透镜;(f)用于接收聚焦在所述柱状透镜的所述光以产生表面等离子共振的金属薄膜;(g)设置在所述金属薄膜之下的介电介质;以及(h)探测所述从所述金属薄膜反射的光的探测器。该表面等离子共振传感器能够解决现有技术中激光作为入射光获得用于检测角度的图像和二维被反射光强度时出现的干涉问题,包括图像质量的恶化和取决于入射位置的光强度的变动。
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公开(公告)号:CN1991435B
公开(公告)日:2010-06-09
申请号:CN200610064159.5
申请日:2006-12-15
申请人: 西门子公司
发明人: M·维德尔
CPC分类号: G01N21/4795 , A61B5/0059 , A61B5/0064 , G01N21/6428 , G01N21/6456 , G01N2021/1787 , G01N2201/06113 , G01N2201/0636 , G01N2201/105
摘要: 本发明涉及一种用于尤其光学扫描特别是不平的表面的扫描设备。所述扫描设备包括电磁初级辐射源、为偏转来自初级辐射源的初级辐射而设立的可控射束偏转设备、和探测器,所述探测器为探测通过初级辐射射到对象上而产生的二次辐射被设立。通过使用可控初级辐射,能够准确地照射对象的要成像的点。因此成像分辨率基本上由初级射线束的范围或者扩展确定。初级射线束同时也确定要成像的点的几何位置,使得可以去掉成像光学器件和像素化的二次辐射探测器。去掉成像光学器件极大地提高了景深清晰度,所述景深清晰度仅尚由初级辐射的扩展限制。由此可以在最大程度上可变地调整在扫描设备和要被扫描的对象之间的距离。
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公开(公告)号:CN106054272B
公开(公告)日:2019-05-31
申请号:CN201610221738.X
申请日:2016-04-11
CPC分类号: G01N21/94 , G01N21/8851 , G01N21/954 , G01N2201/06146 , G01N2201/105
摘要: 提供一种层叠铁芯的检测方法,该层叠铁芯通过层叠具有预定形状的多个铁芯片而构成并且其中包括使得制冷剂能够流通的冷却流路,所述制冷剂通过形成在不同位置处的开口而供应和排出。该方法包括:将光敏传感器的光投射部和光接收部分别布置在所述冷却流路的开口,以及利用所述光接收检测来自所述光投射部的光,从而检测所述冷却流路的贯通状态。
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公开(公告)号:CN107655861A
公开(公告)日:2018-02-02
申请号:CN201711089684.7
申请日:2017-11-08
申请人: 北京英柏生物科技有限公司
IPC分类号: G01N21/552
CPC分类号: G01N21/553 , G01N2201/105
摘要: 本发明提供了表面等离子体子谐振检测仪,包括:光线整形组件,光线整形组件包括光源和透镜组件,光源的光束通过透镜组件成准直光束射出;角度扫描组件,角度扫描组件的反射面角度可变化以将准直光束以不同角度反射出;芯片组件,芯片组件包括棱镜和与设置在棱镜上的芯片,准直光束从角度扫描组件射出,通过棱镜的第一面照射在芯片上,再通过棱镜的第二面射出;成像组件,准直光束从第二面射出后进入至成像组件。本发明的技术方案有效地解决了表面等离子共振检测仪现有技术中的表面等离子共振检测仪由于多个机械传动过程中机械震动带来检测结果不稳定的问题。
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公开(公告)号:CN106066333A
公开(公告)日:2016-11-02
申请号:CN201610632342.4
申请日:2016-08-04
申请人: 西南交通大学
IPC分类号: G01N21/952 , G01B11/24
CPC分类号: G01N21/952 , G01B11/24 , G01N2201/105
摘要: 本发明公开了曲面零件表面轮廓损伤分析装置及其方法,曲面零件表面轮廓损伤分析装置包括防震平台,防震平台上设置有X轴滚珠丝杆模组、至少一条滑轨和用于带动曲面零件旋转的旋转装置;导轨上活动安装有Z轴立柱装置,Z轴立柱装置上固定安装有Z轴滚珠丝杆模组;Z轴滚珠丝杆模组上安装有Y轴滚珠丝杆模组;X轴滚珠丝杆模组、Y轴滚珠丝杆模组和Z轴滚珠丝杆模组上均设置有与其上具有的磁栅尺读数头配对使用的磁栅尺;Y轴滚珠丝杆模组安装有CCD图像传感器和激光2D轮廓采集仪;CCD图像传感器、激光2D轮廓采集仪和磁栅尺读数头均与检测模块连接,X轴滚珠丝杆模组、Z轴滚珠丝杆模组、Y轴滚珠丝杆模组和旋转装置均与控制模块连接。
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公开(公告)号:CN104204954B
公开(公告)日:2016-05-11
申请号:CN201380018477.6
申请日:2013-03-28
申请人: ASML荷兰有限公司 , 荷兰国家应用科学研究院
IPC分类号: G03F7/20
CPC分类号: G01N21/94 , B32B37/24 , B32B38/10 , B32B2037/243 , G01N21/47 , G01N21/956 , G01N2001/028 , G01N2001/2833 , G01N2201/06113 , G01N2201/105 , G03F1/82 , G03F7/7085 , G03F7/70908
摘要: 本发明公开一种微粒污染物测量方法和设备。该方法例如包括:将聚氨酯弹性体(2)的测量表面(5)压靠待测的表面(7);从该表面移除聚氨酯弹性体而不留下残余物;随后,使用光学设备(11)检测已经通过聚氨酯弹性体从该表面移除并且已经附着至聚氨酯弹性体的微粒(8)。
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公开(公告)号:CN104204954A
公开(公告)日:2014-12-10
申请号:CN201380018477.6
申请日:2013-03-28
申请人: ASML荷兰有限公司 , 荷兰国家应用科学研究院
IPC分类号: G03F7/20
CPC分类号: G01N21/94 , B32B37/24 , B32B38/10 , B32B2037/243 , G01N21/47 , G01N21/956 , G01N2001/028 , G01N2001/2833 , G01N2201/06113 , G01N2201/105 , G03F1/82 , G03F7/7085 , G03F7/70908
摘要: 本发明公开一种微粒污染物测量方法和设备。该方法例如包括:将聚氨酯弹性体(2)的测量表面(5)压靠待测的表面(7);从该表面移除聚氨酯弹性体而不留下残余物;随后,使用光学设备(11)检测已经通过聚氨酯弹性体从该表面移除并且已经附着至聚氨酯弹性体的微粒(8)。
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公开(公告)号:CN107727579A
公开(公告)日:2018-02-23
申请号:CN201710948725.7
申请日:2017-10-12
申请人: 安徽中科光电色选机械有限公司
IPC分类号: G01N21/17
CPC分类号: G01N21/17 , G01N2021/1765 , G01N2201/105
摘要: 本发明公开了一种扫描采样起始点的定位方法,包括以下步骤:首先将光源与扫描镜相对设置,光源发出的光线直射在扫描镜上,扫描镜转动后在下方由外向内形成A-C的光线扫描区;在光线扫描区内侧设置单点探测器,单点探测器探测采集扫描镜的光线C,并将光信号转换为电信号;单点探测器的输出端输出图像信息采集的触发信号。本发明确保了每一帧采集到的图像都能有效拼接,提高了光电识别的精度,使扫描成像起始点的定位更加精确,避免了现有实际工程中起始点漂移情况的发生,进一步提高了图像采集的准确度。
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