公开(公告)号：CN105784644A

公开(公告)日：2016-07-20

申请号：CN201610296613.3

申请日：2016-05-08

Applicant: 重庆科技学院

Inventor： 廖晓玲 ,  徐紫宸 ,  李波 ,  肖文谦

IPC: G01N21/55 ,  G01N21/01

CPC classification number: G01N21/55 ,  G01N21/01 ,  G01N2021/0106 ,  G01N2021/555 ,  G01N2201/0231 ,  G01N2201/0233 ,  G01N2201/0238

Abstract: 本发明公开了一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机使用方法，所述使用方法包括，开启主机箱体和处理显示器电源；开启风扇、加热室加热装置、空气净化装置，加装检测芯片，调整全内反射光源及接收器和倒置荧光显微镜，检测、关机。本发明的优点是提供了既能够用全内反射检测方法，又提供了倒置荧光显微镜检测方法，实现一机多用，满足一机联测不同因子的要求。