显示面板光学补偿装置、显示面板和光学补偿方法

    公开(公告)号:CN104064141B

    公开(公告)日:2016-12-14

    申请号:CN201410261438.5

    申请日:2014-06-12

    发明人: 解红军

    IPC分类号: G09G3/3225

    摘要: 本发明提供一种显示面板光学补偿装置、显示面板和显示面板光学补偿方法,包括:存储单元、数据单元、时序控制单元和开关,其中,所述开关置于第一位置时,所述时序控制单元在无补偿模式下工作,与所述存储单元无数据交换,所述数据单元接收补偿数据并将补偿数据烧录至存储单元内;所述开关置于第二位置时,所述时序控制单元在补偿模式下工作,读取所述存储单元中的补偿数据对显示数据进行补偿运算,输出补偿后的显示数据。本发明结构简单,操作灵活,稳定性高,节拍速度快,适合产品量产化的应用。

    有机EL显示装置以及有机EL显示装置的制造方法

    公开(公告)号:CN102272819B

    公开(公告)日:2015-09-16

    申请号:CN201080002970.5

    申请日:2010-04-05

    IPC分类号: G09G3/34 G09G3/00

    摘要: 本发明提供一种能够缩短从进行各像素的辉度测定到求出修正参数的测定节拍的有机EL显示装置。所述有机EL显示装置包括:显示面板(106),其配置有多个像素单元(40),所述像素单元(40)包括:有机EL元件(D1);电压驱动的驱动晶体管(Q1),其控制向有机EL元件的电流的供给;以及保持电容器(C1),其第一电极与驱动晶体管的栅电极连接、第二电极与驱动晶体管的源电极和漏电极的一方连接;存储单元(102),其针对所述多个像素单元的各个像素单元,仅存储作为用于根据多个像素单元各自的特性修正从外部输入的影像信号的修正参数的增益和偏移量中的增益;以及控制单元(101),其从存储单元读出与多个像素单元各自对应的所述修正参数,对与多个像素单元各自对应的影像信号乘以读出的修正参数来得到修正信号电压。

    显示设备的显示不均匀检测方法以及其装置

    公开(公告)号:CN104160439A

    公开(公告)日:2014-11-19

    申请号:CN201280071032.X

    申请日:2012-03-01

    IPC分类号: G09G3/36 G09G3/20 H04N5/66

    摘要: 以更高的精度检测显示设备的显示不均匀。对从CCD照相机(5)获取到的液晶面板显示器(3)的显示图像的输出图像数据进行寻址,获取液晶面板显示器(3)的各像素的像素值,来获取各微分像素值。而且,将各像素的微分像素值与不均匀判断阈值进行比较,检测微分像素值超过不均匀判断阈值的相邻像素群作为显示不均匀的产生区域。接着,按照各显示不均匀的产生区域来计算显示不均匀的强度,将其值与不均匀强度阈值进行比较,在超过不均匀强度阈值的情况下,最终将其产生区域检测为显示不均匀。由此,能够一次性地检测出作为显示不均匀的候选的区域,根据显示不均匀的强度值的高度来锁定检测出的区域,最终检测出在视觉上也明显被识别为显示不均匀的显示不均匀。由此,与根据输出图像数据与输入图像数据的差分来获取各像素的微分像素值相比,能够以更高的精度检测液晶面板显示器(3)的显示不均匀。