一种三角波调频引信的差频信号的模拟方法和系统

    公开(公告)号:CN116045752B

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202211721942.X

    申请日:2022-12-30

    Abstract: 本发明公开了一种三角波调频引信的差频信号的模拟方法和系统,涉及无线电引信测试技术领域。该方法的具体实施方式包括:获取待模拟差频信号的模拟参数;将模拟参数包括的载波频率、频偏、调制周期、采样频率、初始弹目距离和弹目相对运动速度输入三角波调频引信差频信号模拟模型,三角波调频引信差频信号模拟模型包括差频信号的时域相位公式、时域相位公式的公共系数的表达式、差频信号的相位增量的表达式和差频信号的相位计算方法;根据三角波调频引信差频信号模拟模型的输出,得到目标差频信号。该实施方式能够实现三角波调频引信的差频信号的自动化生成,缩短测试耗时、提升测试效率,同时降低测试成本,测试灵活性强。

    一种辨识强混叠过载信号的侵彻引信准确计层方法

    公开(公告)号:CN119164254A

    公开(公告)日:2024-12-20

    申请号:CN202411200110.2

    申请日:2024-08-29

    Abstract: 本发明公开了一种辨识强混叠过载信号的侵彻引信准确计层方法,属于侵彻引信技术领域。本发明基于过载信号与半正弦函数进行互相关计算得到层包络信号,以层包络信号峰值作为弹体碰目标特征值,在侵彻过程中实时计算能量衰减系数,量化穿靶过程中过载信号振荡的程度,以前一层的层包络信号峰值乘以能量衰减系数,作为相邻层识别的依据,从而提高侵彻引信在大长径比战斗部高速侵彻环境下的层目标识别能力,提高引信的计层准确性。本发明解决了侵彻引信在跟随大长径比战斗部高速侵彻变壁厚、变间距等复杂工况下,因过载信号与应力波信号混叠严重及无法辨识目标环境变化造成计层不准确的问题。

    电子雷管抗冲击性能评估与优化设计方法

    公开(公告)号:CN114492080B

    公开(公告)日:2024-12-06

    申请号:CN202210200461.8

    申请日:2022-02-23

    Abstract: 本发明公开了一种电子雷管抗冲击性能评估与优化设计方法,抗冲击性能评估方法包括抗冲击强度测试;现场冲击荷载测试及统计分析;反演计算现场爆破环境下爆破孔内的真实冲击荷载峰值的概率分布函数;构建应力‑强度干涉模型,计算失效概率;抗冲击性能评估。电子雷管优化设计方法基于前述评估结果进行。本发明的有益效果是,评估方法创造性地引入了基于应力‑强度干涉理论构建的失效率模型,形成包括失效率和安全裕度的综合评估结果,为电子雷管核心元件和系统的可靠性分析、设计以及全生命周期管理提供理论基础与方法。优化设计方法基于前述评价结果开展,为电子雷管改进指明了方向,且利于缩短电子雷管开发周期,加快整体开发进度。

    一种流水线式引信电子头性能自动检测系统

    公开(公告)号:CN118746222A

    公开(公告)日:2024-10-08

    申请号:CN202411013882.5

    申请日:2024-07-26

    Abstract: 本发明公开了一种流水线式引信电子头性能自动检测系统,包括:上位机,用于判断测试过程是否正常以及引信电子头产生的电信号是否准确;上下料机构,用于完成引信电子头的上下料操作;环形导轨,用于带动检测装置的移动,实现检测装置在环形导轨上多个不同工位的移动,进行不同功能的检测;无线供能装置,用于给检测装置和引信电子头供电并发送测试信息,通过专用线束与直流电源、上位机进行连接。检测装置,用于引信电子头性能的自动检测,包括装卡引信电子头,采集引信电子头信号,记录引信电子头运行数据,存储测试数据并发送至上位机并展示检测装置运行过程及测试结果。本发明引信电子头性能的多工位流水线式可移动式自动检测。

    一种引信电子安全系统测试方法及装置

    公开(公告)号:CN118654541A

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202410943619.X

    申请日:2024-07-15

    Abstract: 本发明公开了一种引信电子安全系统测试方法及装置,包括以下步骤:将测试装置与被测样机进行连接;通过交互模块设置测试参数,主控芯片控制储能及电源管理模块与被测样机保持电性连接;主控芯片控制激励信号输出模块将预设信号传输至被测样机中,信号采集模块采集激励信号的反馈信号,信号采集模块采集并储存被测样机状态参数等信息;通过比较激励信号输出时间与反馈信号时间的间隔,判断被测样机工作状态;将被测样机工作状态通过交互模块反馈。本发明提供的引信电子安全系统测试方法及装置,将测试功能进行集中整合,能减少测试人员的操作步骤,能根据不同引信电子安全系统进行二次开发,具有较好的适配性,成本低,体积小,易于大规模量产。

    一种电子雷管点火电阻的精确测量电路

    公开(公告)号:CN118623719A

    公开(公告)日:2024-09-10

    申请号:CN202410053092.3

    申请日:2024-01-15

    Abstract: 本发明提供的一种电子雷管点火电阻的精确测量电路,测量电路包括:控制软件模块、充电自检模块和点火电阻检测模块;通过控制软件模块分别与所述充电自检模块和所述点火电阻检测模块连接,控制软件模块通过控制充电自检模块的开关获取实际充电电压,根据实际充电电压计算充电自检模块与点火电阻检测模块接口处电压,通过控制点火电阻检测模块开关获取测量电压和测量电流,计算点火电阻的阻值,解决了现有技术中测量流程复杂,其测量控制方式不利于嵌入式软件集成问题,取到了选用低成本且带有精密测量端口的单片机组成高精度的测量电路的有益效果。

    一种草地背景激光引信数字样机的构建方法

    公开(公告)号:CN118607027A

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202410653287.1

    申请日:2024-05-24

    Abstract: 一种草地背景激光引信数字样机的构建方法,包括以下步骤:根据蒙特卡洛法生成地面三维几何模型;利用3DMAX软件建立不同种类草簇模型;根据覆盖度生成精细化草地三维几何模型;采用ρ/π对土壤的BRDF进行近似,使用改进Walthall模型描述草簇模型的BRDF;设置交会参数、激光引信参数和导弹姿态参数;使用激光近场散射回波理论对精细化草地三维几何模型的激光近场散射回波功率进行计算;本发明通过建立精细化的草地三维几何模型,利用双向反射分布函数(BRDF)描述地面和草地的光学特性,并使用激光近场回波算法计算草地背景激光引信回波,能够在计算激光近场散射回波时获得草地背景的所有细节,具有提高回波计算精度的优点。

    一种延时芯片的延时时间的检测方法及系统

    公开(公告)号:CN118602874A

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202410955069.3

    申请日:2024-07-17

    Abstract: 本发明涉及延时校准技术领域,具体地公开了一种延时芯片的延时时间的检测方法及系统,包括:步骤一:获取电子雷管的时间间隔误差比;步骤二:基于电子雷管的时间间隔误差比,对电子雷管的时间间隔误差情况进行评估,并生成误差评估信号;步骤三:基于时间间隔误差大信号,分析误差原因是否为环境温度导致,并对误差进行粗校准;步骤四:基于时间间隔误差小信号,对误差进行精校准;本发明能够精确校准电子雷管的时间间隔误差,提高了其时间精度和可靠性,特别地,考虑了环境温度对时间间隔误差的影响,并通过计算温度修正系数来优化校准效果,使得校准过程更加准确和灵活。

    一种带有双保险安全与解除机构的微型起爆序列装置

    公开(公告)号:CN118533012A

    公开(公告)日:2024-08-23

    申请号:CN202410640156.X

    申请日:2024-05-22

    Abstract: 本发明公开一种带有双保险安全与解除机构的微型起爆序列装置,包括起爆端换能元、上盖板、螺纹装药层、飞片、加速膛、外壳、上盖片、安保机构、下盖片、下盖板、解保端换能元、药环和后坐保险机构,装置整体通过螺钉连接。其中,后坐保险机构包括钢珠、惯性杆、惯性簧和绝缘底座;安保机构包括框架、滑块、弹簧梁A和弹簧梁B。本发明要解决的技术问题为:解决点火药在起爆序列装置中因外界干扰能量作用,如装置意外跌落和人员误操作等导致误炸的问题,提高起爆序列装置在运输与勤务处理过程中的安全性。该装置具有以下优点:(1)体积小;(2)装置安全性高;(3)装置适配范围广。

    一种雷管芯片测试系统和方法

    公开(公告)号:CN117031186B

    公开(公告)日:2024-08-23

    申请号:CN202310990204.3

    申请日:2023-08-07

    Abstract: 本发明提供了一种雷管芯片测试系统和方法,其可针对不同型号芯片满足不同测试需求,通用性好;所述上位机,与被配置有待测芯片代号的数据服务平台连接,用于向所述下位机发送操作指令,并根据所述下位机返回的信息和调用的所述待测芯片代号获得测试结果,以及根据测试结果下发分管信号;所述下位机包括:测试设备,与所述上位机连接,用于根据操作指令向至少一个待测芯片发送测试指令,并根据所述待测芯片的回应信息确定测试参数,并将测试参数发送至所述上位机;其中,测试参数包括通讯检测参数、电流检测参数和频率检测参数;分选机,与所述上位机连接,用于根据所述分管信号对所述待测芯片进行良率分选。

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