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公开(公告)号：CN109738465B
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN201910172376.3
申请日：2019-03-07
申请人： 北京航星机器制造有限公司
IPC分类号： G01N23/046 , G01V5/226
摘要： 本发明公开了一种CT探测装置及系统，其中，该装置包括射线源、旋转盘和CT探测器；其中，CT探测器包括N个探测板；射线源设置于旋转盘的一端；N个探测板设置于旋转盘的另一端，并且每个探测板的成像区域中心点与射线源的射线源焦点的连线垂直于每个探测板的成像区域中心点所在的外表面；其中，以中心探测板为基准，其余的探测板沿中心探测板的成像区域中心点与射线源焦点的连线对称分布。本发明从重建算法的角度考虑，实现基于螺旋扫描T‑FDK算法(这里简称ST‑FDK)数据完全利用的问题，并实现设备小型化问题。
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公开(公告)号：CN118010770A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202311840021.X
申请日：2023-12-28
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N23/046 , G01V5/226
摘要： 本公开提供了一种CT设备，涉及辐射扫描技术领域。CT设备包括：机架；设置在机架上的多个支撑装置；可旋转部，可旋转部能够围绕一旋转轴线旋转，在可旋转部旋转过程中，可旋转部由多个支撑装置共同支撑；扫描装置，设于可旋转部上，扫描装置用于对待检物进行扫描；以及托举装置，设于机架上，托举装置用于托举可旋转部，托举装置被配置为：托举可旋转部上升，使得可旋转部脱离支撑装置的支撑；托举装置带动可旋转部下降，使得可旋转部被支撑装置支撑且在支撑装置的驱动下发生旋转。
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公开(公告)号：CN111487686B
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN201910079351.9
申请日：2019-01-28
申请人： 天津凯世机械科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种用于安检设备的连接结构，其属于安检技术领域，安检设备包括X光机部分和CT机部分，连接结构包括第一底座、第二底座和楔形组件，第一底座与所述CT机部分连接；第二底座与所述X光机部分连接；楔形组件连接所述第一底座和所述第二底座，所述楔形组件包括两个楔形座和连接两个所述楔形座的连接件，一个所述楔形座与第一底座连接，另一个所述楔形座与第二底座连接，两个所述楔形座之间通过斜面抵接。CT机部分产生的振动会通过第一底座传导至地面，对第二底座的影响较小；能够沿斜面滑动调节两个楔形座的位置，进而调节第一底座和第二底座的相对位置，使得CT机部分和X光机部分的中心轴重合。
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公开(公告)号：CN117976276A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202311833932.X
申请日：2023-12-28
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开涉及一种射线防护装置及辐射检查系统，其中，射线防护装置设在墙壁(7)的一侧且用于对墙壁(7)上的门洞(71)进行射线防护，射线防护装置包括：支撑架组件(1)；防护组件(2)，用于对射线进行防护；和驱动组件(3)，设置于支撑架组件(1)，且与防护组件(2)连接，驱动组件(3)可运动地设置，以带动防护组件(2)运动；其中，在驱动组件(3)处于第一位置的情况下，防护组件(2)为关闭状态以全部遮挡门洞(71)；在驱动组件(3)处于第二位置的情况下，防护组件(2)为打开状态以露出门洞(71)。
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公开(公告)号：CN115113289B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202110770903.8
申请日：2021-07-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01V5/226 , G01N23/046
摘要： 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：至少一个射线源，能够围绕旋转轴线在至少两个扫描位置之间转动并且在相邻两个扫描位置之间的转动角度大于每个射线源的相邻靶点相对于旋转轴线的角度；探测器组件和输送装置，用于承载被检查的物体。检查系统构造成使得至少一个射线源和探测器组件能够相对于输送装置沿行进方向移动，从而被检查的物体能够所述检查区域。当至少一个射线源位于多个扫描位置中的一个时，至少一个射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动并且至少一个射线源发射X射线；当至少一个射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动预定距离后，至少一个射线源围绕旋转轴线转动到多个扫描位置中的另一个。
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公开(公告)号：CN117555013A
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN202311830350.6
申请日：2023-12-28
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 公开了一种能谱数据读出电路、X射线探测器和数据读出方法。能谱数据读出电路包括采集电路和控制电路。采集电路包括：多个子通道，用于接收基于X射线而产生的电流脉冲信号，并基于电流脉冲信号产生检测信号；多路选择器，与多个子通道连接，根据通道选通信号从多个子通道中选择至少一个通道的检测信号来进行输出；触发电路，与多个子通道连接，用于根据从多个子通道接收的过阈值标识来产生全局触发信号，并根据地址读出请求来输出过阈通道的地址。控制电路与采集电路连接，用于响应于来自采集电路的触发信号来产生芯片选通信号和地址读取请求并提供给采集电路。
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公开(公告)号：CN115598715B
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202110769706.4
申请日：2021-07-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01V5/226 , G01N23/046
摘要： 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：承载装置；至少一个射线源；和探测器组件。至少一个射线源和探测器组件能够相对于承载装置沿承载装置的中心轴线升降。沿中心轴线观察，至少一个射线源能够相对于承载装置在多个扫描位置之间平移。当至少一个射线源相对于承载装置位于多个扫描位置中的一个时，至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置沿中心轴线升降并且至少一个射线源发射X射线；当至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置升降预定距离后，至少一个射线源相对于承载装置平移到多个扫描位置中的另一个。检查系统还基于探测器组件的检测数据来重建被检查的物体的三维扫描图像。
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公开(公告)号：CN115113287B
公开(公告)日：2024-09-20
申请号：CN202110768765.X
申请日：2021-07-07
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V5/226 , G01N23/046 , G01B15/04
摘要： 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：至少一个射线源；探测器组件；和输送装置，用于承载被检查的物体。至少一个射线源和探测器组件能够相对于输送装置沿行进方向移动，从而被检查的物体能够进入检查区域。沿检查区域的中心轴线观察，至少一个射线源能够在多个扫描位置之间平移，至少一个射线源在相邻两个扫描位置之间的平移距离大于每个射线源的相邻靶点之间的间距。当至少一个射线源位于多个扫描位置中的一个时，至少一个射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动并且至少一个射线源发射X射线；当至少一个射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动预定距离后，至少一个射线源平移到多个扫描位置中的另一个。
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公开(公告)号：CN115097535B
公开(公告)日：2024-09-20
申请号：CN202110769036.6
申请日：2021-07-07
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V5/226 , G01N23/046 , G01B15/04
摘要： 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：射线源，能够围绕旋转轴线在至少两个扫描位置之间转动，射线源在相邻两个扫描位置之间的转动角度大于每个射线源的相邻靶点相对于旋转轴线的角度；探测器组件；和输送装置，用于承载被检查的物体。射线源和探测器组件能够相对于输送装置沿行进方向移动，从而被检查的物体能够进入检查区域。当射线源位于多个扫描位置中的一个时，射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动并且射线源发射X射线；当射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动预定距离后，射线源围绕旋转轴线转动到多个扫描位置中的另一个。
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公开(公告)号：CN118425202A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202410413138.8
申请日：2024-04-07
申请人： 煤炭科学研究总院有限公司
IPC分类号： G01N23/046 , G06V10/764 , G06V10/40 , G06T7/00 , G01V5/226
摘要： 本公开提出一种煤岩破坏模式的确定方法及装置，涉及煤岩技术领域。其中，方法包括：对待测煤岩进行CT扫描，确定待测煤岩的多个特征信息；确定每个特征信息对应的权重；根据每个特征信息对应的权重对多个特征信息进行加权求和处理，得到待测煤岩的煤岩微结构复杂度系数；确定多种煤岩破坏模式之中每种煤岩破坏模式的煤岩微结构复杂度系数区间；根据待测煤岩的煤岩微结构复杂度系数和每种煤岩破坏模式的煤岩微结构复杂度系数区间，从多种煤岩破坏模式中确定待测煤岩的破坏模式。本公开基于待测煤岩的多个特征信息及其对应权重可准确预测破坏模式，维持巷道围岩的稳定性以及合理地制定开挖和支护方案具有重要意义。
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