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公开(公告)号：CN118224969B
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202410654497.2
申请日：2024-05-24
申请人： 南京埃米仪器科技有限公司
IPC分类号： G01B9/02015 , G01B11/24 , G02B21/02
摘要： 本发明公开了一种干涉物镜，包括显微物镜和微球透镜，微球透镜设置在显微物镜上，微球透镜为采用玻璃、塑料或凝胶制成的一种透镜结构，微球透镜的工作面型为球面、非球面或自由曲面；微球透镜的外径为0.01mm~1mm，厚度为0.005mm~1mm。优点，本发明，将微球透镜的光学元件结构与干涉物镜相结合，以得到更精确的干涉条纹和测量精度；将普通干涉物镜在物面上XY方向的分辨率通过微球透镜的方式大幅度提高，可以提高2~10倍；其中微球透镜结构与不同常规干涉物镜可以互相匹配，不同的微球物镜针对常规干涉物镜均有2~10倍的放大效果。
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公开(公告)号：CN107621692B
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN201711023385.3
申请日：2017-10-27
申请人： 戴星灿
发明人： 戴星灿
摘要： 本发明公开了一种物镜模块及显微镜，其中，该物镜模块包括物镜固定装置，用于固定物镜；样品放置装置，用于放置样品；以及连接装置，用于固定连接样品放置装置与物镜固定装置，使得放置在样品放置装置上的样品的观测面基本上在物镜固定装置上设置的物镜的焦平面上。显微镜包括该物镜模块和成像模块。本发明将目镜和物镜解耦合，使得物镜模块与成像模块之间的距离不再关键，从而成像模块可以方便地与物镜模块耦合形成显微镜,独立获取显微图像。
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公开(公告)号：CN115468747B
公开(公告)日：2024-08-20
申请号：CN202211064097.3
申请日：2022-08-31
申请人： 北京工业大学
摘要： 本发明涉及一种显微深度聚焦测量中镜头光轴与纵向运动轴夹角的校正方法，包含显微视觉系统、平面标定板、阶梯状三维标定物的光轴校正装置，首先通过平面标定板多聚焦图像序列的采集与分析对载物台进行初校正。然后基于多个模块对三维标定物阶梯分界线处不同平面的两图像进行采集与分析，通过检测两图像中阶梯分界线的相对偏移实现显微镜光轴的校正。本发明可以有效减小显微视觉系统采集得到多聚焦图像序列的偏移误差，提高深度聚焦三维重建的精度。
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公开(公告)号：CN118500267A
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202410576095.5
申请日：2024-05-10
申请人： 西安理工大学
摘要： 本发明属于平板厚度测试技术领域，具体涉及一种双光纤共聚焦传感器的平板厚度测试方法及装置。本发明包括传输光纤、激光器光源和光纤耦合器，所述光纤耦合器的2路输出分别接于测量组件的两端；所述测量组件包括对称设置于被测件两侧的、同一光轴上设置的准直透镜Ⅰ、聚焦透镜Ⅰ、聚焦透镜Ⅱ和准直透镜Ⅱ，聚焦透镜Ⅰ和聚焦透镜Ⅱ相对设置，准直透镜Ⅰ和准直透镜Ⅱ相对设置于外侧；光纤耦合器的输出端接有光电探测器。本发明结构简单、制造成本低，灵敏度高，抗强电干扰和震动干扰能力强，测量精度高，可以实现对透明、非透明等各类平板厚度的测量，适宜大规模的工业化生产需要。
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公开(公告)号：CN118426157A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202410065668.8
申请日：2024-01-16
申请人： 应用材料以色列公司
IPC分类号： G02B21/12 , G02B21/00 , G02B21/04 , G02B21/02 , G02B27/00 , G01N21/88 , G01N21/95 , G01N21/01
摘要： 一种晶片检查工具，包括：照射系统，所述照射系统具有：视场(FOV)；光源光瞳，所述光源光瞳具有尺寸和形状；中心光轴；以及一个或多个场角，所述一个或多个场角限定延伸远离所述光源光瞳的所述FOV的形状；物镜布置；以及光分离器，所述光分离器具有第一反射表面和第二表面，所述第一反射表面具有形成在第一反射表面中的透射区域，其中所述透射区域被布置成允许从所述物镜布置透射的光束的中心部分从透射区域中穿过，而所述反射表面被布置成反射所述光束的周边部分；其中所述透射区域具有被限定为所述照射光的模型与所述反射表面和所述第二表面之间的几何相交体积的形状。
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公开(公告)号：CN118426156A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202410551003.8
申请日：2020-11-03
申请人： 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
摘要： 准备用于对样品(4)进行成像的显微镜(2)的方法，包括以下步骤：提供用于对样品进行成像的显微镜，其中显微镜包括物镜，物镜具有用于校正像差的可马达调节的物镜校正环(20)；获取样品信息，样品信息包括以下信息中的至少一种：盖玻片(10)的厚度、盖玻片(10)的材料、样品温度、样品类型、样品在样品载体(6)上的位置、样品的包埋介质(8)、浸没介质(19)；使用显微镜对样品成像，以使用物镜校正环(20)的第一设置的产生样品的至少一个原始图像；将至少一个原始图像和样品信息输入到机器算法(32)中，并且算法基于原始图像和样品信息确定物镜校正环的第二设置，该第二设置通过算法降低了相对于第一设置的成像像差。
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公开(公告)号：CN110554493B
公开(公告)日：2024-07-30
申请号：CN201910935651.2
申请日：2019-09-29
申请人： 长春禹衡时代光电科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种偏振光读数显微镜，包括：目镜、镜筒、镜筒移动调节机构、物镜、底座、压片夹、工作台板和连接所述底座与所述镜筒移动调节机构的支柱组，所述底座内设有朝向所述镜筒设置的光源，所述光源的上方设有可拆卸连接所述底座的起偏器，所述物镜的外周套设有与所述起偏器配合的检偏器。上述偏振光读数显微镜可以用作普通光学显微镜，又能够充当偏振光显微镜使用，实现一镜多用，减少了设备成本和设备占用空间。
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公开(公告)号：CN110554494B
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN201910901658.2
申请日：2019-09-23
申请人： 南京东利来光电实业有限责任公司
摘要： 本专利提供了一种显微镜管镜，它采用复消色差管镜的设计，和物镜配合使用，能在所使用的波长带宽全部具有出色的平坦性，可以拥有从中心到边缘的全部为鲜锐的画面图像。其从物方侧开始依次，包括至少有一枚正折射力的透镜和一枚负折射力的透镜的第1透镜组IG1，至少有一枚正折射力透镜的第2透镜组IG2和至少有一枚正折射力的透镜和一枚负折射力的透镜，整体是负折射力的第3透镜组IG3，将从所述第1透镜组IG1的最靠近所述物方侧的透镜面到出瞳面的距离设为Lp，将整个焦距设为fIm时，满足：－5.0＜Lp/fIm＜－0.5。
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公开(公告)号：CN118033871B
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202410284186.1
申请日：2024-03-13
申请人： 广州长步道光学科技有限公司
摘要： 本发明涉及一种10倍大角度工业显微镜物镜。本发明所述的10倍大角度工业显微镜物镜从像面至物面依次包括：第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜、第五透镜、第六透镜、第七透镜、第八透镜、第九透镜、第十透镜、第十一透镜、第十二透镜和第十三透镜；所述第一透镜、第三透镜、第四透镜、第七透镜、第八透镜、第十透镜、第十二透镜具备负屈光度；所述第二透镜、第五透镜、第六透镜、第九透镜、第十一透镜、第十三透镜具备正屈光度。本发明所述的10倍大角度工业显微镜物镜具有工作距离长，光学分辨率高，波长范围宽，相机靶面大的优点。
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公开(公告)号：CN118276300A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202410375747.9
申请日：2024-03-29
申请人： 苏州芯之光科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种基于超透镜结构的三维显微装置，包括沿光路方向上依次布设的待观测样本、超透镜、放大成像光学组件和光电探测器；其中，超透镜、放大成像光学组件之间设有经超透镜调制后的待观测样本的一次成像面；超透镜包括基底及阵列排布在基底表面的纳米结构单元，纳米结构单元用以将待观测样本发出的不同波长的光汇聚到一次成像面的不同位置上。本发明的三维显微装置利用单目显微光路即可获得样本视差图像，进而利于样本图像的三维深度复原。
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