摄像头测试场景的模拟系统及其模拟方法、以及存储介质

    公开(公告)号:CN118612405A

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202410577728.4

    申请日:2024-05-10

    发明人: 李显贤 左永前

    摘要: 本申请提供了一种摄像头测试场景的模拟系统,用于获取待测物在测试场景的模拟距离和模拟高度,包括中继镜、摄像头和主控设备,摄像头设有传感器;主控设备包括存储器和处理器,处理器用于执行计算机程序以实现摄像头测试场景的模拟方法,摄像头测试场景的模拟方法包括:获取待测物在测试场景的待模拟距离和待模拟高度;根据待模拟距离和摄像头的焦距,获取物空间放大率;根据物空间放大率和传感器的预设成像参数,获取传感器的共轭像的对角线长度;根据共轭像的对角线长度和中继镜的预设对角线长度,得到第一缩放比例;根据待模拟距离、待模拟高度和第一缩放比例,获取模拟距离和模拟高度。此外,本申请还提供了一种摄像头测试场景的模拟方法。

    一种TOF相机的杂光检测装置及其检测方法

    公开(公告)号:CN118465785B

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202410925135.2

    申请日:2024-07-11

    摘要: 本发明涉及检测设备技术领域,尤其涉及一种TOF相机的杂光检测装置及其检测方法。包括有支撑架,所述支撑架上设置有基板,所述基板滑动连接有第一滑动架,所述基板与所述第一滑动架之间设置有均匀分布的弹簧,所述第一滑动架固接有固定板,所述固定板滑动连接有滑动杆,所述滑动杆与所述固定板之间设置有拉簧,所述基板固接有镜像分布的第一固定架,镜像分布的所述第一固定架共同固接有环形架,所述环形架上远离所述基板的一侧设置有电动滑轨。本发明通过滑动杆对相机镜头尺寸进行检测,再通过镜头尺寸对干扰光源的运动范围进行同步调节,防止出现干扰光源处于镜头观测范围外的情况,提高了本装置的实用性。

    一种障碍灯光强检测机器

    公开(公告)号:CN118190366B

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202410601900.5

    申请日:2024-05-15

    IPC分类号: G01M11/02 G01J1/02

    摘要: 本发明属于障碍灯光强检测技术领域,具体是指一种障碍灯光强检测机器,包括检测台、检测口、环境转换型交替机构和光强聚集型检测机构,所述检测口设于检测台上壁的中间位置,所述环境转换型交替机构设于检测台上,所述光强聚集型检测机构设于环境转换型交替机构上,所述环境转换型交替机构包括旋动机构、锁定机构和造温机构。本发明提供了一种能够对障碍灯在高温或者低温下的运行状态进行测试,且能够对障碍灯在瞬时温差变化较大的情况下的灯光强度进行测试的障碍灯光强检测机器。

    用于探测光学器件的视觉和光学特性的组合探测器以及用于光学器件的相关的检验设备

    公开(公告)号:CN114424040B

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202080066372.8

    申请日:2020-09-21

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 用于探测光学器件(22)的至少一个能在视觉上识别的特性(d、r、o、t)和至少一个光学特性(s、z)的组合探测器(16),其包括具有探测面(28)的图像传感器(26)和相位可视化元件(30),相位可视化元件被构造成用于将从入射方向(24)射入的输入光束(20″)转换成一个或多个输出光束(42),在其中,输入光束(20″)的空间相位分布是视觉上可见的。相位可视化元件(30)在此相对于图像传感器(26)的探测面(28)布置成使得一个或多个输出光束(42)仅落到探测面(28)的第一子区域(38)上,而探测面(28)的第二子区域(40)朝入射方向(24)暴露,用以探测不受相位可视化元件(30)影响的输入光束(20″)。用于检验光学器件(22)的相关的设备(2)包括用于产生测量光束(20)的光源(4)和上述的组合探测器(16)。

    一种光开关通道衰减测试方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118590140A

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202410654907.3

    申请日:2024-05-24

    发明人: 陈姚 秦一涛

    摘要: 本发明涉及一种光开关通道衰减测试方法。它解决了现有技术中光开关衰减测试方法难以确定具体光通道的衰减值且难以进行针对性调节的问题。它包括S1、将测试光开关设置于光纤上;S2、在测试光开关两端分别设置若干分段式光功率采集装置;S3、利用分段式光功率采集装置对光信号进行分段式功率采集;S4、异常检测;S5、通过光示波器监测光信号波长;S6、通过光电控制单元调节激光输出信号,控制光信号经过测试光开关衰减后的信号质量。本发明的优点在于:测试时能够对各个光通道进行灵活调节,能够确定各个光通道对整个测试光开关衰减值的影响,从而获得该测试光开关的光信号衰减值下最佳光信号输出功率和波长。

    一种显示屏幕、裂纹检测方法及显示器

    公开(公告)号:CN118588022A

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202410702756.4

    申请日:2024-05-31

    发明人: 肖立 陆旭 王梓鉴

    摘要: 本申请实施例提供了一种显示屏幕、裂纹检测方法及显示器,包括:信号源芯片、部分设置在所述显示屏幕边缘的裂纹检测信号线路、多行像素行、每一行像素行对应的开关管及每一行像素行对应的栅极驱动电路;信号源芯片用于在对显示屏幕的边缘进行裂纹检测的情况下,输出第三时钟信号,并通过裂纹检测信号线路将第三时钟信号传输至各开关管的第一端;信号源芯片还用于在对显示屏幕的边缘进行裂纹检测的情况下,输出第一控制信号至各开关管的控制端;开关管用于在自身的控制端接收到第一控制信号时,通过自身的第一端与第二端之间导通,将第三时钟信号输出至与自身相连接的栅极驱动电路的时钟信号端。提高了显示产品的使用寿命。

    用于远场激光的光束质量测试装置

    公开(公告)号:CN118583457A

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202411051701.8

    申请日:2024-08-01

    摘要: 本发明公开了用于远场激光的光束质量测试装置,属于光束质量测试领域,包括:用户端,用于接收光束质量测试请求;数据中心,包括:动态赋权组件,用于生成光束质量评价因子权重分布结果;函数配置组件,用于配置光束质量评价函数;虚拟测试组件,用于获得理论合格控制参数;实际测试组件,用于获得实际测试合格控制参数;数据传输组件,当实际测试合格控制参数的数量不等于0,将实际测试合格控制参数发送至用户端。本发明解决了现有技术中光束质量测试效率低、实际测试成本高的技术问题,通过引入虚拟测试环节,结合动态赋权的光束质量评价函数,本发明达到了提高测试效率、降低实际测试成本的技术效果。

    一种带LED灯设备的测试方法、系统及终端

    公开(公告)号:CN118583452A

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202410685995.3

    申请日:2024-05-30

    发明人: 赵金 何亮

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明公开了一种带LED灯设备的测试方法、系统及终端,包括:对待测试设备进行多功能测试,并在测试过程中,利用光纤探头实时采集待测试设备上的LED灯的光波信号;对光波信号进行分析处理,获得待测试设备上的LED灯在多个通用功能测试项目下的测试参数值;基于各个通用功能测试项目对应的测试参数值与各个通用功能测试项目对应的测试预期结果的对比分析,获得所述待测试设备的各个通用功能测试项目的测试结果。本发明利用光纤探头,对进行多功能测试的待测试设备上的LED灯的光波信号进行实时且精准的采集,并基于光波信号分析待测试设备的各个通用功能测试项目的测试结果,以提升待测试设备的通用功能测试效率和测试准确性。

    一种激光器的测量装置
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118583451A

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202410682272.8

    申请日:2024-05-29

    发明人: 夏明罡 张伟杰

    IPC分类号: G01M11/02 G01R31/00 G01R1/04

    摘要: 本说明书实施例提供了一种激光器的测量装置,其中,一种激光器的测量装置,包括:安装底板,包括固定设置在所述安装底板上的光纤固定模块、光斑接收屏及光斑采集装置;光纤固定模块,用于固定激光器的光纤;光斑接收屏,与所述光纤固定模块相对布置,用于接收激光器出射的激光形成光斑;光斑采集装置,与所述光纤固定模块同向布置,用于获取激光在光斑接收屏上的光斑形态,以解决对半导体激光器参数的测量避免不达标而导致的整形光路或电器受到影响的技术问题。